[發明專利]圖像壞行壞列的檢測方法

在審

• 申請號: 201710160168.2
• 申請日: 2017-03-17
• 公開（公告）號: CN106952254A
• 公開（公告）日: 2017-07-14
• 發明（設計）人: 蘆嘉鵬;程杰;趙建波;陳杰;劉志碧
• 申請（專利權）人: 北京思比科微電子技術股份有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00
• 代理公司: 北京凱特來知識產權代理有限公司11260
• 代理人: 鄭立明,鄭哲

1.一種圖像壞行壞列的檢測方法，其特征在于，包括：

以N％灰板為背景，連續采集n幅圖像；

將n幅圖像進行平均，得到圖像Im；

分別求取圖像Im水平方向和垂直方向的均值，進而求取水平方向與垂直方向的梯度；

分別將水平方向與垂直方向的梯度最大值與閾值進行比較，從而檢測圖像壞行壞列。

2.根據權利要求1所述的一種圖像壞行壞列的檢測方法，其特征在于，所述以N％灰板為背景，連續采集n幅圖像包括：

在預定光源下，以N％灰板為背景，將圖像模擬增益調整至最大的M％，連續采集n幅圖像；

或者，在純黑環境下，以N％灰板為背景，將圖像模擬增益調整至最大的P％，連續采集n幅圖像；

其中，M<P。

3.根據權利要求1所述的一種圖像壞行壞列的檢測方法，其特征在于，所述將n幅圖像進行平均，得到圖像Pm的亮度Im的公式如下：

Im＝(I1+I2+...+In)/n；

其中，I1、I2、In分別表示第1、第2、第n幅圖像的亮度。

4.根據權利要求3所述的一種圖像壞行壞列的檢測方法，其特征在于，分別求取圖像Pm水平方向和垂直方向的均值包括：

水平方向均值的計算公式為：

$Ix\left(j\right)=\frac{1}{W}\underset{i=1}{\overset{W}{\&Sigma;}}\mathrm{Im}(i,j)$

垂直方向均值的計算公式為：

$Iy\left(i\right)=\frac{1}{H}\underset{j=1}{\overset{H}{\&Sigma;}}\mathrm{Im}(i,j)$

其中，W、H分別為圖像寬度、高度；i、j分別為圖像Pm中像素的列號、行號。

5.根據權利要求4所述的一種圖像壞行壞列的檢測方法，其特征在于，所述求取水平方向與垂直方向的梯度包括：

水平方向梯度的計算公式為：

Gx(j)＝abs(Ix(j)－Ix(j－1))

垂直方向梯度的計算公式為：

Gy(i)＝abs(Iy(i)－Iy(i－1))；

其中，abs代表求取絕對值。

6.根據權利要求5所述的一種圖像壞行壞列的檢測方法，其特征在于，所述將水平方向與垂直方向的梯度最大值與閾值進行比較，從而檢測圖像壞行壞列包括：

計算水平方向的梯度最大值：

MAX_x＝max(Gx(j))；

計算垂直方向的梯度最大值：

MAX_y＝max(Gy(i))；

如果MAX_x＞T，則說明存在壞列；如果MAX_y＞T，則說明存在壞行。

其中，max代表求取最大值，T為閾值。