[發明專利]一種顯示單元制程控制方法及系統

有效

• 申請號: 201710149493.9
• 申請日: 2017-03-14
• 公開（公告）號: CN106646957B
• 公開（公告）日: 2018-07-20
• 發明（設計）人: 簡重光
• 申請（專利權）人: 惠科股份有限公司;重慶惠科金渝光電科技有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G02F1/1333
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務所 44237
• 代理人: 陽開亮

本申請提供一種顯示單元制程控制方法及系統，通過在第一基板和第二基板進入顯示單元制程之前，根據第一基板和第二基板上不良基片數量，選擇不良基片數量小于預設個數的第一基板和第二基板作為達標第一基板和達標第二基板，并根據第一基板和第二基板上不良基片的位置，將達標第一基板和達標第二基板劃分為多個分選等級，并在顯示單元制程中，按照分選等級對第一基板和第二基板進行配對組合，并選取匹配度高的配對組合進入組立制程，能夠大大提高顯示單元制程達標率，從而有效提高生產效率并節約制造成本。

技術領域

本發明實施例屬于液晶面板制造技術領域，尤其涉及一種顯示單元制程控制方法及系統。

背景技術

隨著液晶顯示技術的不斷發展，液晶面板制造技術也在不斷提升和改進，液晶面板因其良好的顯示效果在電視機、大型會場的顯示屏幕、PC(personal computer，個人計算機)機顯示器等領域應用廣泛。制造液晶面板首先要制造液晶基板，常用的液晶基板制造過程通常包括第一基板制程、第二基板制程和顯示單元制程(即TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶體管)玻璃基板與第二基板的貼合過程)。

然而，在現有的顯示單元制程中，經常會出現將第一基板制程輸送的第一基板中的達標基片與第二基板制程輸送的第二基板中的不良基片進行配對組立的情況，從而大大降低了顯示單元制程所產出的液晶基板的達標率，從而大大降低了生產效率，且造成嚴重的成本浪費。

發明內容

本發明實施例提供一種顯示單元制程控制方法及系統，能夠大大提高顯示單元制程達標率，從而有效提高生產效率并節約制造成本。

本發明實施例一方面提供一種顯示單元制程控制方法，其包括：

檢測第一基板上的不良基片的數量，選取不良基片的數量小于或等于第一預設個數的第一基板作為達標第一基板；

按照所述達標第一基板上不良基片的位置，將所述達標第一基板劃分為第二預設個數的分選等級，并將所述達標第一基板輸送至顯示單元制程；

檢測第二基板上的不良基片的數量，選取不良基片的數量小于或等于第三預設個數的第二基板作為達標第二基板；

按照所述達標第二基板上不良基片的位置，將所述達標第二基板劃分為第四預設個數的分選等級，并將所述達標第二基板輸送至顯示單元制程；

按照分選等級對所述達標第一基板和所述達標第二基板進行配對組合；

計算每個配對組合的達標匹配度，選取所述達標匹配度大于預設比例的配對組合輸送至組立制程。

本發明實施例另一方面還提供一種顯示單元制程控制系統，其包括：

第一基板良率檢測單元，用于檢測第一基板上的不良基片的數量，選取不良基片的數量小于或等于第一預設個數的第一基板作為達標第一基板；

第一基板等級劃分單元，用于按照所述達標第一基板上不良基片的位置，將所述達標第一基板劃分為第二預設個數的分選等級，并將所述達標第一基板輸送至顯示單元制程；

第二基板良率檢測單元，用于檢測第二基板上的不良基片的數量，選取不良基片的數量小于或等于第三預設個數的第二基板作為達標第二基板；

第二基板等級劃分單元，用于按照所述達標第二基板上不良基片的位置，將所述達標第二基板劃分為第四預設個數的分選等級，并將所述達標第二基板輸送至顯示單元制程；

配對組合單元，用于按照分選等級對所述達標第一基板和所述達標第二基板進行配對組合；

匹配度計算單元，用于計算每個配對組合的達標匹配度，選取所述達標匹配度大于預設比例的配對組合輸送至組立制程。