[發明專利]一種顯示單元制程控制方法及系統

有效

• 申請號: 201710149493.9
• 申請日: 2017-03-14
• 公開（公告）號: CN106646957B
• 公開（公告）日: 2018-07-20
• 發明（設計）人: 簡重光
• 申請（專利權）人: 惠科股份有限公司;重慶惠科金渝光電科技有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G02F1/1333
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務所 44237
• 代理人: 陽開亮

1.一種顯示單元制程控制方法，其特征在于，所述方法包括：

檢測第一基板上的不良基片的數量，選取不良基片的數量小于或等于第一預設個數的第一基板作為達標第一基板；

按照所述達標第一基板上不良基片的位置，將所述達標第一基板劃分為第二預設個數的分選等級，并將所述達標第一基板輸送至顯示單元制程；

檢測第二基板的不良基片的數量，選取不良基片的數量小于或等于第三預設個數的第二基板作為達標第二基板；

按照所述達標第二基板上不良基片的位置，將所述達標第二基板劃分為第四預設個數的分選等級，并將所述達標第二基板輸送至顯示單元制程；

按照分選等級對所述達標第一基板和所述達標第二基板進行配對組合；

計算每個配對組合的達標匹配度，選取所述達標匹配度大于預設比例的配對組合輸送至組立制程。

2.如權利要求1所述的顯示單元制程控制方法，其特征在于，按照分選等級對達標第一基板和達標第二基板進行配對組合，包括：

對分選等級相同的所述達標第一基板和所述達標第二基板進行配對組合。

3.如權利要求1所述的顯示單元制程控制方法，其特征在于，所述第一預設個數與所述第二預設個數相關聯，所述第三預設個數與所述第四預設個數相關聯。

4.如權利要求3所述的顯示單元制程控制方法，其特征在于，定義所述第一預設個數為N，所述第二預設個數為M，其中，0≤N≤K，M≥1，且M，N和K均為整數，其中K為第一基板上基片的數量；

所述第一預設個數與所述第二預設個數之間的關聯關系為：

定義所述第三預設個數為n，所述第四預設個數為m，其中，0≤n≤Q，m≥1，且m，n和Q均為整數，其中Q為第二基板上基片的數量；

所述第三預設個數與所述第四預設個數之間的關聯關系為：

5.如權利要求4所述的顯示單元制程控制方法，其特征在于，所述第一預設個數為2，所述第三預設個數為1。

6.一種顯示單元制程控制系統，其特征在于，所述系統包括：

第一基板良率檢測單元，用于檢測第一基板上的不良基片的數量，選取不良基片的數量小于或等于第一預設個數的第一基板作為達標第一基板；

第一基板等級劃分單元，用于按照所述達標第一基板上不良基片的位置，將所述達標第一基板劃分為第二預設個數的分選等級，并將所述達標第一基板輸送至顯示單元制程；

第二基板良率檢測單元，用于檢測第二基板上的不良基片的數量，選取不良基片的數量小于或等于第三預設個數的第二基板作為達標第二基板；

第二基板等級劃分單元，用于按照所述達標第二基板上不良基片的位置，將所述達標第二基板劃分為第四預設個數的分選等級，并將所述達標第二基板輸送至顯示單元制程；

配對組合單元，用于按照分選等級對所述達標第一基板和所述達標第二基板進行配對組合；

匹配度計算單元，用于計算每個配對組合的達標匹配度，選取所述達標匹配度大于預設比例的配對組合輸送至組立制程。

7.如權利要求6所述的顯示單元制程控制系統，其特征在于，所述配對組合單元具體用于：

對分選等級相同的所述達標第一基板和所述達標第二基板進行配對組合。

8.如權利要求6所述的顯示單元制程控制系統，其特征在于，所述第一預設個數與所述第二預設個數相關聯，所述第三預設個數與所述第四預設個數相關聯。

9.如權利要求8所述的顯示單元制程控制系統，其特征在于，定義所述第一預設個數為N，所述第二預設個數為M，其中，0≤N≤K，M≥1，且M，N和K均為整數，其中K為第一基板上基片的數量；

所述第一預設個數與所述第二預設個數之間的關聯關系為：

定義所述第三預設個數為n，所述第四預設個數為m，其中，0≤n≤Q，m≥1，且m，n和Q均為整數，其中Q為第二基板上基片的數量；

所述第三預設個數與所述第四預設個數之間的關聯關系為：

10.如權利要求9所述的顯示單元制程控制系統，其特征在于，所述第一預設個數為2，所述第三預設個數為1。