[發(fā)明專利]陣列基板測試電路及其制作方法

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• 申請日: 2017-03-10
• 公開（公告）號: CN106782254A
• 公開（公告）日: 2017-05-31
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王倩;虞曉江
• 申請（專利權(quán)）人: 武漢華星光電技術(shù)有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 深圳市威世博知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)44280
• 代理人: 鐘子敏

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種陣列基板測試電路及其制作方法。

背景技術(shù)

LTPS(Low temperature Poly Silicon，低溫多晶硅)TFT LCD(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，薄膜晶體管液晶顯示器)近年來在手機上得到廣泛應(yīng)用，其高電路整合特性與低成本的優(yōu)勢，在中小尺寸顯示面板的應(yīng)用中有著絕對的優(yōu)勢。LTPS TFT LCD具有高分辨率、反應(yīng)速度快、高亮度、高開口率等優(yōu)點，通過將外圍驅(qū)動電路同時制作在玻璃基板上，達(dá)到系統(tǒng)整合的目標(biāo)、節(jié)省空間及驅(qū)動芯片的成本。

LTPS TFT LCD中的陣列制程是在一塊很大的玻璃基板上均勻有序排布形成一個個陣列電路，所述玻璃基板在經(jīng)過陣列測試項目并達(dá)標(biāo)后，將在后續(xù)成盒制程的切割段被切割成一批小片的顯示單元，每個顯示單元都有一個獨立的陣列電路，用于控制最終成品LCD面板的顯示。

LTPS TFT LCD面板在其中一種陣列線路結(jié)構(gòu)設(shè)計中，對于單個顯示單元來說(如圖1及圖2所示)，通過幾根貫穿于顯示區(qū)域左右兩側(cè)的縱向金屬走線(統(tǒng)稱為陣列基板測試走線)，將位于顯示區(qū)域上方的陣列測試電路相關(guān)信號連接到位于顯示區(qū)域下方的成盒測試電路中，以借用成盒測試電路的部分線路來驅(qū)動縱向的顯示信號的輸出，從而完成陣列測試項目。這幾根縱向的陣列基板測試走線與顯示區(qū)域邊緣的橫向金屬走線始終呈垂直交錯的位置關(guān)系，在成盒測試項目中，這種交錯的位置關(guān)系使橫向的顯示信號受到耦合影響，引起顯示面板左右兩側(cè)的顯示差異；另外交錯位置也可能發(fā)生漏電，甚至?xí)a(chǎn)生炸傷等異常問題，使顯示面板的良率受到影響。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明主要解決的技術(shù)問題是提供一種陣列基板測試電路及其方法，避免陣列基板測試走線與顯示區(qū)域邊緣的金屬走線產(chǎn)生交錯，減少耦合、漏電及炸傷問題的發(fā)生，從而達(dá)到提升顯示面板生產(chǎn)良率的目的。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的一個技術(shù)方案是：提供一種陣列基板測試電路，所述陣列基板測試電路設(shè)置于基板上，所述基板包括至少兩個顯示單元，所述至少兩個顯示單元包括第一顯示單元及與所述第一顯示單元相鄰設(shè)置的第二顯示單元，所述第一及第二顯示單元均包括陣列測試電極區(qū)及成盒測試電極區(qū)，所述陣列測試電極區(qū)包括若干陣列測試電極，所述成盒測試電極區(qū)包括若干成盒測試電極，所述第二顯示單元的若干陣列測試電極通過所述第一顯示單元的外圍一一對應(yīng)電性連接所述第二顯示單元的若干成盒測試電極，以通過所述第二顯示單元的成盒測試電極區(qū)驅(qū)動顯示信號的輸出。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的一個技術(shù)方案是：提供一種陣列基板測試電路的制作方法，所述方法包括：

提供一基板；

在所述基板上設(shè)置至少兩個顯示單元，所述至少兩個顯示單元包括第一顯示單元及與所述第一顯示單元相鄰設(shè)置的第二顯示單元；

所述第一及第二顯示單元均包括陣列測試電極區(qū)及成盒測試電極區(qū)，所述陣列測試電極區(qū)包括若干陣列測試電極，所述成盒測試電極區(qū)包括若干成盒測試電極；及

將所述第二顯示單元的若干陣列測試電極通過所述第一顯示單元的外圍一一對應(yīng)電性連接所述第二顯示單元的若干成盒測試電極，以通過所述第二顯示單元的成盒測試電極區(qū)驅(qū)動顯示信號的輸出。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的一個技術(shù)方案是：提供一種陣列基板測試電路的制作方法，所述方法包括：

提供一基板；

在所述基板上設(shè)置至少兩個顯示單元，所述至少兩個顯示單元包括第一顯示單元、第二顯示單元及第三顯示單元，所述第二顯示單元位于所述第一與第三顯示單元之間；

所述第一至第三顯示單元均包括陣列測試電極區(qū)及成盒測試電極區(qū)，所述陣列測試電極區(qū)包括若干第一陣列測試電極及若干第二陣列測試電極，所述成盒測試電極區(qū)包括若干第一成盒測試電極及若干第二陣列測試電極；及

將所述第二顯示單元的若干第一陣列測試電極通過所述第一顯示單元的外圍一一對應(yīng)電性連接所述第二顯示單元的若干第一成盒測試電極，將所述第二顯示單元的若干第二陣列測試電極通過所述第三顯示單元的外圍一一對應(yīng)電性連接所述第二顯示單元的若干第二成盒測試電極，以通過所述第二顯示單元的成盒測試電極區(qū)驅(qū)動顯示信號的輸出。