[發明專利]陣列基板測試電路及其制作方法

在審

• 申請號: 201710142709.9
• 申請日: 2017-03-10
• 公開（公告）號: CN106782254A
• 公開（公告）日: 2017-05-31
• 發明（設計）人: 王倩;虞曉江
• 申請（專利權）人: 武漢華星光電技術有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙)44280
• 代理人: 鐘子敏

1.一種陣列基板測試電路，其特征在于，所述陣列基板測試電路設置于基板上，所述基板包括至少兩個顯示單元，所述至少兩個顯示單元包括第一顯示單元及與所述第一顯示單元相鄰設置的第二顯示單元，所述第一及第二顯示單元均包括陣列測試電極區及成盒測試電極區，所述陣列測試電極區包括若干陣列測試電極，所述成盒測試電極區包括若干成盒測試電極，所述第二顯示單元的若干陣列測試電極通過所述第一顯示單元的外圍一一對應電性連接所述第二顯示單元的若干成盒測試電極，以通過所述第二顯示單元的成盒測試電極區驅動顯示信號的輸出。

2.根據權利要求1所述的陣列基板測試電路，其特征在于，所述至少兩個顯示單元包括第一至第三顯示單元，所述第二顯示單元位于所述第一與第三顯示單元之間，所述第一至第三顯示單元均包括陣列測試電極區及成盒測試電極區，所述陣列測試電極區包括若干第一陣列測試電極及若干第二陣列測試電極，所述成盒測試電極區包括若干第一成盒測試電極及若干第二陣列測試電極，所述第二顯示單元的若干第一陣列測試電極通過所述第一顯示單元的外圍一一對應電性連接所述第二顯示單元的若干第一成盒測試電極，所述第二顯示單元的若干第二陣列測試電極通過所述第三顯示單元的外圍一一對應電性連接所述第二顯示單元的若干第二成盒測試電極，以通過所述第二顯示單元的成盒測試電極區驅動顯示信號的輸出。

3.根據權利要求2所述的陣列基板測試電路，其特征在于，所述至少兩顯示單元均包括顯示區域及位于所述顯示區域左右兩側的掃描驅動電路，所述陣列測試電極區位于所述顯示區域的上方，所述成盒測試電極區位于所述顯示區域的下方，所述若干第一陣列測試電極及所述若干第一成盒測試電極均位于左側，所述若干第二陣列測試電極及所述若干第二成盒測試電極均位于右側。

4.根據權利要求3所述的陣列基板測試電路，其特征在于，所述第一顯示單元的外圍是所述第一顯示單元遠離所述左側掃描驅動電路且靠近所述第二顯示單元的區域，所述第三顯示單元的外圍是所述第三顯示單元遠離所述右側掃描驅動電路且靠近所述第二顯示單元的區域。

5.一種陣列基板測試電路的制作方法，其特征在于，所述方法包括：

提供一基板；

在所述基板上設置至少兩個顯示單元，所述至少兩個顯示單元包括第一顯示單元及與所述第一顯示單元相鄰設置的第二顯示單元；

所述第一及第二顯示單元均包括陣列測試電極區及成盒測試電極區，所述陣列測試電極區包括若干陣列測試電極，所述成盒測試電極區包括若干成盒測試電極；及

將所述第二顯示單元的若干陣列測試電極通過所述第一顯示單元的外圍一一對應電性連接所述第二顯示單元的若干成盒測試電極，以通過所述第二顯示單元的成盒測試電極區驅動顯示信號的輸出。

6.根據權利要求5所述的陣列基板測試電路的制作方法，其特征在于，所述在所述基板上設置至少兩個顯示單元包括：所述至少兩個顯示單元均包括顯示區域及位于所述顯示區域左右兩側的掃描驅動電路，所述陣列測試電極區位于所述顯示區域的上方，所述成盒測試電極區位于所述顯示區域的下方。

7.根據權利要求6所述的陣列基板測試電路的制作方法，其特征在于，所述將所述第二顯示單元的若干陣列測試電極通過所述第一顯示單元的外圍一一對應電性連接所述第二顯示單元的若干成盒測試電極包括：所述第一顯示單元的外圍是所述第一顯示單元遠離所述左側掃描驅動電路且靠近所述第二顯示單元的區域。

8.一種陣列基板測試電路的制作方法，其特征在于，所述方法包括：

提供一基板；

在所述基板上設置至少兩個顯示單元，所述至少兩個顯示單元包括第一顯示單元、第二顯示單元及第三顯示單元，所述第二顯示單元位于所述第一與第三顯示單元之間；

所述第一至第三顯示單元均包括陣列測試電極區及成盒測試電極區，所述陣列測試電極區包括若干第一陣列測試電極及若干第二陣列測試電極，所述成盒測試電極區包括若干第一成盒測試電極及若干第二陣列測試電極；及

將所述第二顯示單元的若干第一陣列測試電極通過所述第一顯示單元的外圍一一對應電性連接所述第二顯示單元的若干第一成盒測試電極，將所述第二顯示單元的若干第二陣列測試電極通過所述第三顯示單元的外圍一一對應電性連接所述第二顯示單元的若干第二成盒測試電極，以通過所述第二顯示單元的成盒測試電極區驅動顯示信號的輸出。