[發(fā)明專利]對比度測試系統(tǒng)

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• 申請?zhí)枺?/td>: 201710142594.3
• 申請日: 2017-03-10
• 公開（公告）號: CN106918933A
• 公開（公告）日: 2017-07-04
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 馬勝飛;劉曉鵬;顧莎莎
• 申請（專利權(quán)）人: 京東方科技集團(tuán)股份有限公司;合肥京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 北京律智知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11438
• 代理人: 袁禮君,姜怡

技術(shù)領(lǐng)域

本公開涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種對比度測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)

隨著液晶顯示技術(shù)的發(fā)展，液晶顯示屏應(yīng)用越來越廣泛。液晶顯示屏在開發(fā)、測試、光學(xué)部件進(jìn)行二元化導(dǎo)入節(jié)點(diǎn)等過程中，為保證產(chǎn)品良率，需要對液晶顯示屏的多種光學(xué)參數(shù)進(jìn)行測試，例如亮度、對比度、色域以及色彩分布等等。其中，對比度值是液晶顯示屏的一項(xiàng)較為重要的光學(xué)特性，對比度對視覺效果的影響非常關(guān)鍵，一般來說，對比度越大，圖像越清晰醒目，色彩也越鮮明艷麗，而對比度越小，圖像越模糊，故對比度的檢測至關(guān)重要。目前較常采用的檢測方式是人工檢測方式，工作人員通過采集液晶顯示屏黑白畫面下的亮度值，進(jìn)行人工計算得到對比度值，然后將計算出的對比度值與設(shè)定值進(jìn)行比較，進(jìn)而判斷該對比度值是否滿足要求。一般地，采用人工測試對比度的檢測方式，測試過程繁瑣，并且測試效率低，容易出現(xiàn)測試錯誤，測量精度較低。

因此，現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案還存在有待改進(jìn)之處。

需要說明的是，在上述背景技術(shù)部分公開的信息僅用于加強(qiáng)對本公開的背景的理解，因此可以包括不構(gòu)成對本領(lǐng)域普通技術(shù)人員已知的現(xiàn)有技術(shù)的信息。

發(fā)明內(nèi)容

本公開的目的在于提供一種對比度測試系統(tǒng)，進(jìn)而至少在一定程度上克服由于相關(guān)技術(shù)的限制和缺陷而導(dǎo)致的一個或者多個問題。

本公開的其他特性和優(yōu)點(diǎn)將通過下面的詳細(xì)描述變得清晰，或者部分地通過本公開的實(shí)踐而習(xí)得。

根據(jù)本公開的一個方面，提供一種對比度測試系統(tǒng)，包括點(diǎn)燈系統(tǒng)以及測試系統(tǒng)，其中，

所述點(diǎn)燈系統(tǒng)采用待測試顯示屏的BIST模式進(jìn)行自動點(diǎn)燈和黑白畫面的切換，并通過所述測試系統(tǒng)間隔預(yù)設(shè)時間分別獲取所述待測試顯示屏的黑畫面亮度值和白畫面亮度值；

所述對比度測試系統(tǒng)根據(jù)所述黑畫面亮度值和所述白畫面亮度值計算獲得所述待測試顯示屏的對比度值。

在本公開的一種示例性實(shí)施例中，所述點(diǎn)燈系統(tǒng)包括第一探針、第二探針和第三探針，所述第一探測、所述第二探針和所述第三探測能夠分別插入所述待測試顯示屏的電路板上預(yù)留的按照預(yù)設(shè)方式排布的三個測試點(diǎn)中，對所述待測試顯示屏進(jìn)行供電。

在本公開的一種示例性實(shí)施例中，所述第一探針為電源電壓輸入探針，所述第二探針為接地探針，所述第三探針為BIST模式電壓輸入探針。

在本公開的一種示例性實(shí)施例中，所述第一探針、所述第二探針和所述第三探針為能夠收縮的彈性探針。

在本公開的一種示例性實(shí)施例中，所述電路板的三個測試點(diǎn)并列放置，且所述三個測試點(diǎn)之間保持預(yù)設(shè)間隔。

在本公開的一種示例性實(shí)施例中，所述對比度測試系統(tǒng)還包括：傳輸系統(tǒng)，所述傳輸系統(tǒng)用于將所述待測試顯示屏傳輸?shù)剿鰧Ρ榷葴y試系統(tǒng)上并將所述待測試顯示屏的中心位置與所述測試系統(tǒng)的光學(xué)探頭進(jìn)行自動對位。

在本公開的一種示例性實(shí)施例中，所述傳輸系統(tǒng)包括傳送帶。

在本公開的一種示例性實(shí)施例中，當(dāng)所述待測試顯示屏為液晶顯示屏?xí)r，所述對比度測試系統(tǒng)還包括：光源，所述光源設(shè)置于所述光學(xué)探頭的正下方；其中，

所述傳送帶中間設(shè)置有圓孔；

當(dāng)所述液晶顯示屏放置于所述傳送帶上時，將所述液晶顯示屏的中心位置與所述圓孔進(jìn)行對位，然后將所述液晶顯示屏通過所述傳送帶傳送至預(yù)設(shè)高度的所述光學(xué)探頭的正下方。

在本公開的一種示例性實(shí)施例中，所述對比度測試系統(tǒng)還包括：電路板固定裝置，用于所述點(diǎn)燈系統(tǒng)進(jìn)行點(diǎn)燈時對所述待測試顯示屏進(jìn)行固定。

在本公開的一種示例性實(shí)施例中，還包括：控制系統(tǒng)，所述控制系統(tǒng)用于將所述對比度值打印并貼附于所述待測試顯示屏上。

本公開某些實(shí)施例中的對比度測試系統(tǒng)，通過采用待測試顯示屏的BIST模式進(jìn)行自動點(diǎn)燈和黑白畫面的切換的點(diǎn)燈系統(tǒng)，一方面，不需要操作點(diǎn)燈機(jī)，也不需要操作人員進(jìn)行連線，不用插接連接器，減少了人工接觸待測試顯示屏引起二次不良的風(fēng)險；另一方面，自動化點(diǎn)燈并切換畫面，不需要人工操作。

應(yīng)當(dāng)理解的是，以上的一般描述和后文的細(xì)節(jié)描述僅是示例性和解釋性的，并不能限制本公開。

附圖說明

此處的附圖被并入說明書中并構(gòu)成本說明書的一部分，示出了符合本公開的實(shí)施例，并與說明書一起用于解釋本公開的原理。顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本公開的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1示出本公開示例性實(shí)施例中一種對比度測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。