[發(fā)明專利]對比度測試系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710142594.3
• 申請日: 2017-03-10
• 公開（公告）號: CN106918933A
• 公開（公告）日: 2017-07-04
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 馬勝飛;劉曉鵬;顧莎莎
• 申請（專利權(quán)）人: 京東方科技集團股份有限公司;合肥京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 北京律智知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11438
• 代理人: 袁禮君,姜怡

1.一種對比度測試系統(tǒng)，其特征在于，包括點燈系統(tǒng)以及測試系統(tǒng)，其中，

所述點燈系統(tǒng)采用待測試顯示屏的BIST模式進行自動點燈和黑白畫面的切換，并通過所述測試系統(tǒng)間隔預(yù)設(shè)時間分別獲取所述待測試顯示屏的黑畫面亮度值和白畫面亮度值；

所述對比度測試系統(tǒng)根據(jù)所述黑畫面亮度值和所述白畫面亮度值計算獲得所述待測試顯示屏的對比度值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的對比度測試系統(tǒng)，其特征在于，所述點燈系統(tǒng)包括第一探針、第二探針和第三探針，所述第一探測、所述第二探針和所述第三探測能夠分別插入所述待測試顯示屏的電路板上預(yù)留的按照預(yù)設(shè)方式排布的三個測試點中，對所述待測試顯示屏進行供電。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的對比度測試系統(tǒng)，其特征在于，所述第一探針為電源電壓輸入探針，所述第二探針為接地探針，所述第三探針為BIST模式電壓輸入探針。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的對比度測試系統(tǒng)，其特征在于，所述第一探針、所述第二探針和所述第三探針為能夠收縮的彈性探針。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的對比度測試系統(tǒng)，其特征在于，所述電路板的三個測試點并列放置，且所述三個測試點之間保持預(yù)設(shè)間隔。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的對比度測試系統(tǒng)，其特征在于，所述對比度測試系統(tǒng)還包括：傳輸系統(tǒng)，所述傳輸系統(tǒng)用于將所述待測試顯示屏傳輸?shù)剿鰧Ρ榷葴y試系統(tǒng)上并將所述待測試顯示屏的中心位置與所述測試系統(tǒng)的光學探頭進行自動對位。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的對比度測試系統(tǒng)，其特征在于，所述傳輸系統(tǒng)包括傳送帶。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的對比度測試系統(tǒng)，其特征在于，當所述待測試顯示屏為液晶顯示屏時，所述對比度測試系統(tǒng)還包括：光源，所述光源設(shè)置于所述光學探頭的正下方；其中，

所述傳送帶中間設(shè)置有圓孔；

當所述液晶顯示屏放置于所述傳送帶上時，將所述液晶顯示屏的中心位置與所述圓孔進行對位，然后將所述液晶顯示屏通過所述傳送帶傳送至預(yù)設(shè)高度的所述光學探頭的正下方。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的對比度測試系統(tǒng)，其特征在于，所述對比度測試系統(tǒng)還包括：電路板固定裝置，用于所述點燈系統(tǒng)進行點燈時對所述待測試顯示屏進行固定。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的對比度測試系統(tǒng)，其特征在于，還包括：控制系統(tǒng)，所述控制系統(tǒng)用于將所述對比度值打印并貼附于所述待測試顯示屏上。