[發(fā)明專利]圖像傳感器及其形成方法、圖像傳感器母板、指紋成像模組在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710133560.8 | 申請(qǐng)日: | 2017-03-08 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108573985A | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-09-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 曲志剛;朱虹 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海籮箕技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L27/146 | 分類號(hào): | H01L27/146;G06K9/00 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 吳敏 |
| 地址: | 201203 上海市浦東新區(qū)中國(guó)(上海*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 圖像傳感器 像素陣列 封裝結(jié)構(gòu) 指紋成像 基底 模組 母板 像素單元 陣列排布 信噪比 透射 準(zhǔn)直 封裝 切割 隔離 | ||
1.一種圖像傳感器的形成方法,其特征在于,包括:
提供基底;
在所述基底上形成多個(gè)像素陣列,所述像素陣列包括呈陣列排布的像素單元,相鄰像素陣列之間具有劃片道;
在所述像素陣列上形成封裝結(jié)構(gòu)層,所述封裝結(jié)構(gòu)層用于實(shí)現(xiàn)所述像素陣列的封裝隔離,并對(duì)透射所述像素陣列的光線起到準(zhǔn)直的作用;
形成所述封裝結(jié)構(gòu)層之后,沿所述劃片道切割所述基底,以獲得所述圖像傳感器。
2.如權(quán)利要求1所述的形成方法,其特征在于,形成所述封裝結(jié)構(gòu)層的步驟包括:
在所述基底上形成支撐層,所述支撐層內(nèi)具有通光開(kāi)口,所述通光開(kāi)口底部露出所述像素單元;
向所述通光開(kāi)口內(nèi)填充封裝材料,形成封裝塊;
在所述支撐層和所述封裝塊上形成保護(hù)層。
3.如權(quán)利要求2所述的形成方法,其特征在于,形成所述支撐層的步驟包括:
在所述基底上進(jìn)行第一成膜處理,形成支撐材料層,所述支撐材料層覆蓋所述劃片道和所述像素陣列;
對(duì)所述支撐材料層進(jìn)行第一圖形化處理,去除所述劃片道上的支撐材料層,并形成所述支撐層和所述通光開(kāi)口。
4.如權(quán)利要求2所述的形成方法,其特征在于,形成所述封裝塊的步驟包括:
在所述基底上進(jìn)行第二成膜處理,形成封裝材料層,所述封裝材料層覆蓋所述劃片道并填充于所述通光開(kāi)口內(nèi);
對(duì)所述封裝材料層進(jìn)行第二圖形化處理,去除所述劃片道上的封裝材料層,形成位于所述通光開(kāi)口內(nèi)的封裝塊。
5.如權(quán)利要求2所述的形成方法,其特征在于,形成所述保護(hù)層的步驟包括:
在所述基底上進(jìn)行第三成膜處理,形成保護(hù)材料層,所述保護(hù)材料層覆蓋所述劃片道、所述支撐層和所述封裝塊;
對(duì)所述保護(hù)材料層進(jìn)行第三圖形化處理,去除所述劃片道上的保護(hù)材料層,形成所述保護(hù)層。
6.如權(quán)利要求2所述的形成方法,其特征在于,所述封裝塊材料的折射率大于所述支撐層材料的折射率。
7.如權(quán)利要求2所述的形成方法,其特征在于,所述通光開(kāi)口的深寬比大于1。
8.如權(quán)利要求2所述的形成方法,其特征在于,所述通光開(kāi)口底部露出一個(gè)或多個(gè)像素單元。
9.如權(quán)利要求2所述的形成方法,其特征在于,所述保護(hù)層為單層結(jié)構(gòu)或疊層結(jié)構(gòu)。
10.如權(quán)利要求2所述的形成方法,其特征在于,形成封裝塊之后,形成保護(hù)層之前,所述形成方法還包括:形成覆蓋所述封裝塊和所述支撐層的平坦層;
形成保護(hù)層的步驟中,形成位于所述平坦層上的保護(hù)層。
11.如權(quán)利要求10所述的形成方法,其特征在于,所述平坦層的材料與所述封裝塊材料折射率相同。
12.如權(quán)利要求10所述的形成方法,其特征在于,形成所述平坦層的步驟包括:
在所述基底上進(jìn)行平坦成膜處理,形成平坦材料層,所述平坦材料層覆蓋所述劃片道、所述封裝塊以及所述支撐層;
對(duì)所述平坦材料層進(jìn)行平坦圖形處理,去除劃片道上的平坦材料層,形成所述平坦層。
13.一種圖像傳感器,其特征在于,包括:
基底;
像素陣列,位于所述基底上,所述像素陣列包括呈陣列排布的多個(gè)像素單元;
封裝結(jié)構(gòu)層,位于所述像素陣列上,所述封裝結(jié)構(gòu)層用于實(shí)現(xiàn)所述像素陣列的封裝隔離,并對(duì)透射所述像素陣列的光線起準(zhǔn)直作用。
14.如權(quán)利要求13所述的圖像傳感器,其特征在于,所述封裝結(jié)構(gòu)層包括:
封裝塊,位于所述像素單元上;
支撐層,位于所述基底上,且環(huán)繞所述封裝塊和所述像素單元;
保護(hù)層,位于所述支撐層和所述封裝塊上。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無(wú)源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門(mén)適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無(wú)源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門(mén)適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過(guò)這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門(mén)適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的





