[發(fā)明專利]一種陶瓷墻地磚質(zhì)量在線檢測方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710126955.5
• 申請日: 2017-03-06
• 公開（公告）號: CN107084755A
• 公開（公告）日: 2017-08-22
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 簡景杰
• 申請（專利權(quán)）人: 陸同盛
• 主分類號: G01D21/02
• 分類號: G01D21/02
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標代理有限公司44202
• 代理人: 胡楓

1.一種陶瓷墻地磚質(zhì)量在線檢測方法，其特征在于，在輸送機構(gòu)的傳輸路徑上設(shè)置檢測工位，所述檢測工位上方裝設(shè)有基準板，所述基準板上分布有多個位移傳感器，所述陶瓷墻地磚質(zhì)量在線檢測方法包括：

S1，調(diào)整瓷磚坯的入磚姿態(tài)，將瓷磚坯放置于輸送機構(gòu)上并使瓷磚坯隨輸送機構(gòu)運動；

S2，瓷磚坯隨輸送機構(gòu)進入檢測工位；

S3，位移傳感器實時采集檢測工位上瓷磚坯的表面特征點信息，所述表面特征點信息包括位移傳感器與瓷磚坯表面的距離值、瓷磚坯表面的雜質(zhì)信息、瓷磚坯的尺寸信息；

S4，根據(jù)表面特征點信息對瓷磚坯進行平整度分級處理；

S5，瓷磚坯隨輸送機構(gòu)輸出檢測工位。

2.如權(quán)利要求1所述的陶瓷墻地磚質(zhì)量在線檢測方法，其特征在于，所述基準板包括對角線基準板、X軸邊線基板及Y軸邊線基準板；

所述對角線基準板上分布的位移傳感器構(gòu)成對角線掃描系統(tǒng)，用于檢測瓷磚坯對角線上的表面特征點信息；

所述X軸邊線基板上分布的位移傳感器構(gòu)成X軸邊線掃描系統(tǒng)，用于檢測瓷磚坯X軸方向上的邊線的表面特征點信息；

所述Y軸邊線基板上分布的位移傳感器構(gòu)成Y軸邊線掃描系統(tǒng)，用于檢測瓷磚坯Y軸方向上的邊線的表面特征點信息。

3.如權(quán)利要求1所述的陶瓷墻地磚質(zhì)量在線檢測方法，其特征在于，

檢測400mm×400mm及以下的瓷磚坯時，設(shè)置九個檢測點；

檢測600mm×600mm及以下的瓷磚坯時，設(shè)置二十五個檢測點；

檢測800mm×800mm及以下的瓷磚坯時，設(shè)置四十九個檢測點；

檢測1000mm×1000mm及以下的瓷磚坯時，設(shè)置八十一個檢測點；

所述各檢測點上分別設(shè)置獨立的位移傳感器。

4.如權(quán)利要求1所述的陶瓷墻地磚質(zhì)量在線檢測方法，其特征在于，所述步驟S3之后還包括：根據(jù)表面特征點信息構(gòu)建瓷磚坯變形曲線，其中，所述瓷磚坯變形曲線以距離值的最高值為龜背值，以距離值的最低值為上翹值，以瓷磚坯對角線作為水平參考線。

5.如權(quán)利要求1所述的陶瓷墻地磚質(zhì)量在線檢測方法，其特征在于，所述步驟S1中，通過自動對中裝置調(diào)整瓷磚坯的入磚姿態(tài)。

6.如權(quán)利要求1所述的陶瓷墻地磚質(zhì)量在線檢測方法，其特征在于，所述步驟S3中，位移傳感器感應(yīng)到隨輸送機構(gòu)進入檢測工位時，發(fā)出信號給控制器，并在控制器的控制下采集檢測工位上瓷磚坯的表面特征點信息。

7.如權(quán)利要求1所述的陶瓷墻地磚質(zhì)量在線檢測方法，其特征在于，所述檢測工位上設(shè)置有檢測臺，所述檢測臺底部安裝有用于防止檢測臺變形的變形調(diào)節(jié)裝置。

8.如權(quán)利要求1所述的陶瓷墻地磚質(zhì)量在線檢測方法，其特征在于，所述基準板的平整度綜合誤差小于0.01mm。

9.如權(quán)利要求1所述的陶瓷墻地磚質(zhì)量在線檢測方法，其特征在于，所述輸送機構(gòu)為寬皮帶輸送機構(gòu)。

10.如權(quán)利要求1所述的陶瓷墻地磚質(zhì)量在線檢測方法，其特征在于，所述位移傳感器為激光位移傳感器。