[發明專利]一種試件盤任意定位立式鉆孔取芯機及取芯方法

有效

• 申請號: 201710122489.3
• 申請日: 2017-03-03
• 公開（公告）號: CN106840753B
• 公開（公告）日: 2019-08-20
• 發明（設計）人: 胡振華;王穎
• 申請（專利權）人: 山東科技大學
• 主分類號: G01N1/08
• 分類號: G01N1/08
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種試件盤任意定位的立式鉆孔取芯機，包括機架、試件盤、底座，所述機架與試件盤之間通過懸臂式伸縮組件連接，所述懸臂式伸縮組件為對稱設置的轉軸鉸接的四根支臂，所述懸臂式伸縮組件與機架及試件盤轉動連接，所述試件盤的正下方還設置有底座，所述試件盤在懸臂式伸縮組件的支撐下懸浮于底座上方，底座上設置有半球形凹槽，所述試件盤通過帶有半球形端部的觸底螺栓與底座的半球形凹槽配合固定。本發明的技術效果是：可任意調節試件盤的位置，避免了多次松緊夾具，提高了取芯效率。

技術領域

本發明涉及一種立式鉆孔取芯機，尤其涉及一種實驗室立式鉆孔取芯機。

背景技術

現有的實驗室用立式鉆孔取芯機的試件盤與底座之間為固定連接，試件盤上設置有試件夾緊裝置。操作過程中，試件靠夾緊裝置固定在試件盤上，固定在機架上的取芯鉆頭向下移動鉆孔取芯。一次取芯結束后，需要通過實驗人員用扳手松開夾緊裝置，將試件轉換位置，再次通過夾緊裝置固定試件，才能保證取芯工作的開展。

由此可見，現有的實驗室立式鉆孔取芯機在同一試件的不同位置取芯時，需要多次松開和擰緊夾具裝置，每次的夾緊力度對試件是一種嚴重的損傷，力度稍大就會損壞試件，導致無法多次取芯；同時，多次的操作十分麻煩，費時費力，取芯效率低。

發明內容

為了解決現有技術中存在的上述問題，本申請提供一種試件盤任意定位，方便多次高效取芯的立式鉆孔取芯機和取芯方法。

本發明所采用的技術方案是：

一種試件盤任意定位的立式鉆孔取芯機，包括機架、試件盤、底座，所述機架固定在機架支座上，試件盤上設置有夾具，其特征在于：所述機架與試件盤之間通過懸臂式伸縮組件連接，所述懸臂式伸縮組件能夠通過伸縮調節機架與試件盤之間的距離，所述懸臂式伸縮組件與機架及試件盤轉動連接，所述試件盤的正下方還設置有底座，所述試件盤在懸臂式伸縮組件的支撐下懸浮于底座上方，所述試件盤與所述底座之間還設置有定位裝置。

作為優選的技術方案，本發明所述懸臂式伸縮組件包括四根長度相等的第一支臂、第二支臂、第三支臂和第四支臂，所述第一支臂與第二支臂、第三支臂與第四支臂的一端通過轉軸鉸接，第一支臂、第三支臂的另一端與機架轉動連接，在轉動連接處設置有卡環；所述第二支臂、第四支臂的另一端與試件盤的底部轉動連接，在所述底部轉動連接處設置有固定環。

作為優選的技術方案，本發明所述試件盤呈倒T型，包括上盤體和圓柱型下連接柱，所述第二支臂和第四支臂與下連接柱之間設置有軸承，所述軸承通過固定環固定在下連接柱上。

作為優選的技術方案，本發明所述第一支臂、第三支臂與機架之間設置有軸承，卡環設置在軸承的上下端。

作為優選的技術方案，所述定位裝置為觸底螺栓，所述觸底螺栓包括半球形端部，所述試件盤的邊緣間隔布設有多個通孔，底座上表面均勻密布有半球形凹槽，所述觸底螺栓穿過通孔，觸底螺栓的所述半球形端部卡設于底座的半球形凹槽內以定位試件盤。

作為優選的技術方案，所述觸底螺栓沿試件盤邊緣均勻設置有3根，所述試件盤的頂面還設置有氣泡水準器。

本發明還提供一種取芯方法，具體技術方案是：包括：

步驟（1），將試件放置于試件盤上，用夾具將試件夾緊，使試件位置位于取芯鉆頭的下方，將3根觸底螺栓穿過試件盤上的預留螺栓孔直至底端半球形端部與底座上的半球形凹槽接觸；

步驟（2），注意觀察試件盤頂面的氣泡水準器，通過松緊3根觸底螺栓將試件盤調至水平；

步驟（3），開啟鉆孔取芯機，取芯鉆頭向下移動進行一次取芯；

步驟（4），一次取芯結束后，松開觸底螺栓，拉伸或轉動懸臂式伸縮組件以調整試件盤至合適的位置，轉動試件盤調整夾具的夾設方向；