[發明專利]一種基于磁頭芯片智能測試系統的測試方法

有效

• 申請號: 201710118670.7
• 申請日: 2017-03-01
• 公開（公告）號: CN106872880B
• 公開（公告）日: 2019-11-19
• 發明（設計）人: 郭龍吉
• 申請（專利權）人: 江蘇富瀾克信息技術有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 11724 北京成實知識產權代理有限公司
• 代理人: 陳永虔<國際申請>=<國際公布>=<進入

本發明的一種基于磁頭芯片智能測試系統的測試方法，中央處理器與外部的PC上位機相連，中央處理器同時連接測試平臺，測試平臺上包括電路機構和機械機構，電路機構包括電源模塊，電源模塊連接中央處理器，機械機構包括機械臂、機械轉盤和機械下壓塊，電源模塊一端連中央處理器，另一端輸出電源至機械轉盤，機械臂、機械轉盤和機械下壓塊分別與中央處理器相連，機械轉盤上設有測試座，測試座中設有IC卡槽，IC卡槽底部設有探針；測試平臺上設有光敏傳感器、距離傳感器以及揚聲器、紅綠雙色指示燈。本發明具有提高芯片測試過程的工作效率和可靠性的積極效果。

技術領域

本發明涉及芯片測試技術領域，特別屬于一種基于磁頭芯片智能測試系統的測試方法。

背景技術

隨著自動控制領域發展迅速，各種控制芯片在市場中都占有著巨大的份額。在芯片導入市場之前，需要進行詳細仔細的測試，以確保芯片功能的正確無誤和性能的達標可靠。公司設計的磁頭芯片，在出廠前要進行一次出場測試，芯片放進測試座里面，通過刷卡方式，測試芯片功能是否正常，如果采取人工方式，不僅效率低，而且成本又高，長期手工刷卡,刷卡速度不好掌控，手也受不起長時間這樣反復動作，嚴重影響了芯片的測試效率。

發明內容

本發明的目的即在于提供一種磁頭芯片智能測試系統及其測試方法，以達到提高芯片測試過程的智能化控制以及芯片測試效率的目的。

本發明所提供的一種磁頭芯片智能測試系統，具有中央處理器，中央處理器與外部的PC上位機相連，其特征在于，所述的中央處理器同時連接測試平臺，測試平臺上包括電路機構和機械機構，電路機構包括電源模塊，電源模塊連接中央處理器，機械機構包括機械臂、機械轉盤和機械下壓塊，電源模塊一端連接中央處理器，另一端輸出電源至機械轉盤，同時，機械臂、機械轉盤和機械下壓塊分別與中央處理器相連，所述機械臂又包括第一機械臂、第二機械臂、第三機械臂、第四機械臂，其中，機械轉盤上設有三個測試座，測試座中設置有IC卡槽，IC卡槽底部設有探針，測試座之間兩兩分別形成120度的夾角，第一機械臂與其距離最近的設置于機械轉盤上的一個測試座相對應，且與未測試IC裝料區相配合；機械下壓塊與其下方設置于機械轉盤上的一個測試座相對應；第二機械臂與其距離最近的設置于機械轉盤上的一個測試座相對應，且與測試過的IC分類歸放區相配合；磁條卡槽過第三機械臂與磁條卡槽相配合；NFC射頻卡通過第四機械臂與NFC磁場線圈相配合，此外，測試平臺上還設有光敏傳感器、距離傳感器以及揚聲器、紅綠雙色指示燈，其中，光敏傳感器、距離傳感器分別連接磁條卡槽、NFC磁場線圈，光敏傳感器用于監控刷卡速度，距離傳感器用于監控測試NFC射頻卡刷卡時的高度，并分別連接中央處理器；揚聲器、紅綠雙色指示燈分別與中央處理器相連，另外，PC上位機具有PC上位機軟件，所述PC上位機軟件上設有磁頭芯片測試控制程序。

進一步的，正常工作狀態下的紅綠雙色指示燈的綠燈處于點亮狀態。

進一步的，所述測試座中分別有兩個IC卡槽。

進一步的，所述磁頭芯片測試控制程序又包括測試控制程序以及報警控制程序。

進一步的，所述測試控制程序為協調中央處理器與測試平臺上的電路機構和機械機構之間工作的控制流程。

進一步的，所述報警控制程序為當檢測到測試條件不在設定的規范范圍內，暫停所有機械操作，當前測試任務被掛起，同時紅綠雙色指示燈的紅燈被點亮，揚聲器報警，排查后通過PC上位機上的繼續按鍵，被掛起的任務繼續執行，紅燈熄滅，揚聲器關閉警報，同時綠燈點亮。

本發明所提供的一種磁頭芯片智能測試系統的測試方法，其特征在于，

包括以下步驟：