[發明專利]一種基于磁頭芯片智能測試系統的測試方法有效
| 申請號: | 201710118670.7 | 申請日: | 2017-03-01 |
| 公開(公告)號: | CN106872880B | 公開(公告)日: | 2019-11-19 |
| 發明(設計)人: | 郭龍吉 | 申請(專利權)人: | 江蘇富瀾克信息技術有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 11724 北京成實知識產權代理有限公司 | 代理人: | 陳永虔<國際申請>=<國際公布>=<進入 |
| 地址: | 224006 江蘇省鹽城市鹽都區*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 磁頭 芯片 智能 測試 系統 方法 | ||
1.一種基于磁頭芯片智能測試系統的測試方法,所述的磁頭芯片智能測試系統,具有中央處理器,中央處理器與外部的PC上位機相連,所述的中央處理器同時連接測試平臺,測試平臺上包括電路機構和機械機構,電路機構包括電源模塊,電源模塊連接中央處理器,機械機構包括機械臂、機械轉盤和機械下壓塊,電源模塊一端連接中央處理器,另一端輸出電源至機械轉盤,同時,機械臂、機械轉盤和機械下壓塊分別與中央處理器相連,所述機械臂又包括第一機械臂、第二機械臂、第三機械臂、第四機械臂,其中,機械轉盤上設有三個測試座,測試座中設置有IC卡槽,IC卡槽底部設有探針,測試座之間兩兩分別形成120度的夾角,第一機械臂與距離其最近的設置于機械轉盤上的一個測試座相對應,且與未測試IC裝料區相配合;機械下壓塊與其下方設置于機械轉盤上的一個測試座相對應;第二機械臂與距離其最近的設置于機械轉盤上的一個測試座相對應,且與測試過的IC分類歸放區相配合;磁條卡通過第三機械臂與磁條卡槽相配合;NFC射頻卡通過第四機械臂與NFC磁場線圈相配合,此外,測試平臺上還設有光敏傳感器、距離傳感器以及揚聲器、紅綠雙色指示燈,其中,光敏傳感器連接磁條卡槽、距離傳感器連接NFC磁場線圈,光敏傳感器用于監控刷卡速度,距離傳感器用于監控測試NFC射頻卡刷卡時的高度,光敏傳感器和距離傳感器分別連接中央處理器;揚聲器、紅綠雙色指示燈分別與中央處理器相連,其特征在于,所述測試方法包括以下步驟:步驟1:通過第一機械臂上的兩個吸嘴,同時吸取兩個IC卡,并放置在與其距離最近的測試座里面,測試座裝好了2個IC卡后,PC上位機通過中央處理器控制機械轉盤操作,機械轉盤帶動其上的測試座逆時針轉動120度,使安裝兩個IC卡的測試座,在機械轉盤的帶動下,轉動至與機械下壓塊下方相對應的位置,機械下壓塊下壓,使兩個IC卡能與測試座中IC卡槽底部的探針接觸良好,此時步驟2開始運行,進行刷卡測試;
步驟2:兩個磁條卡垂直固定在第三機械臂上,使其能在相對應的卡槽里來回進行刷卡操作,PC上位機啟動刷磁條卡動作,通過第三機械臂,用事先設置好的速度做來往返兩次刷卡測試,其中,刷卡速度通過光敏傳感器進行監控,此時步驟3開始運行;
步驟3:上位機啟動刷NFC射頻卡動作,兩張NFC射頻卡分別吸附至第四機械臂上,操作第四機械臂,使兩張NFC射頻卡分別在相對應的在NFC磁場線圈上方事先設置好的高度位置,左右來回的移動,測試解碼能力,其中,NFC射頻卡在NFC磁場線圈上的高度由距離傳感器進行監控,此時步驟4開始運行;
步驟4:刷卡測試完成后處于機械下壓塊下方的測試座,在PC上位機的控制下,機械轉盤帶動其上的測試座再次逆時針轉動120度,使經機械下壓塊下壓后的測試座,轉至距離第二機械臂最近的位置,第二機械臂上的吸嘴把測試完后的IC卡吸取出來并放置分類歸放區進行分類歸放,重新運行步驟1。
2.根據權利要求1所述的基于磁頭芯片智能測試系統的測試方法,其特征在于,當檢測到測試條件不在設定的規范范圍內,暫停所有機械操作,當前測試任務被掛起,同時紅綠雙色指示燈的紅燈被點亮,揚聲器報警,排查后通過PC上位機上的繼續按鍵,被掛起的任務繼續執行,紅燈熄滅,揚聲器關閉警報,同時綠燈點亮。
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