[發明專利]一種用于監測電化學發光強度及波長的方法在審
| 申請號: | 201710115635.X | 申請日: | 2017-03-01 |
| 公開(公告)號: | CN106885801A | 公開(公告)日: | 2017-06-23 |
| 發明(設計)人: | 張袁健;呂燕芹;周志新;沈艷飛 | 申請(專利權)人: | 東南大學 |
| 主分類號: | G01N21/76 | 分類號: | G01N21/76;G01N27/416 |
| 代理公司: | 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙)32204 | 代理人: | 王艷 |
| 地址: | 210096 *** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 監測 電化學 發光強度 波長 方法 | ||
1.一種監測電化學發光強度及波長的方法,其特征在于,包括以下步驟:
1)將工作電極、對電極和參比電極裝配在電化學反應池中并分別與電化學工作站相連,工作電極的工作面對準高分辨光譜分析儀的檢測器;所述高分辨光譜分析儀為拉曼光譜儀、紫外可見分光光度計或熒光分光光度計;
2)向電化學反應池中加入電解質溶液,使工作電極、對電極和參比電極分別浸入所述電解質溶液中;所述電解質溶液中含有共反應劑和待測電化學發光物質;
3)通過電化學工作站向工作電極施加電壓,對待測電化學發光物質進行電激發,使用所述高分辨光譜分析儀采集電化學發光強度及波長。
2.一種監測電化學發光強度及波長的方法,其特征在于,包括以下步驟:
1)在工作電極表面修飾待測電化學發光物質,得到修飾好的工作電極;將修飾好的工作電極、對電極和參比電極裝配在電化學反應池中并分別與電化學工作站相連,將修飾好的工作電極中含有待測電化學發光物質的工作面對準高分辨光譜分析儀的檢測器;所述高分辨光譜分析儀為拉曼光譜儀、紫外可見分光光度計或熒光分光光度計;
2)向電化學反應池中加入電解質溶液,使工作電極、對電極和參比電極分別浸入所述電解質溶液中;所述電解質溶液中含有共反應劑;
3)通過電化學工作站向工作電極施加電壓,對待測電化學發光物質進行電激發,使用所述高分辨光譜分析儀采集電化學發光強度及波長。
3.根據權利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述工作電極為玻碳電極、金電極、鉑電極或石墨電極。
4.根據權利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述對電極為鉑絲電極或碳電極。
5.根據權利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述參比電極為銀/氯化銀電極或飽和甘汞電極。
6.根據權利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述共反應劑為草酸、雙氧水、氧、三乙胺、過硫酸鉀和過硫酸鈉中的一種或多種。
7.根據權利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述電解質溶液中的支持電解質為濃度為0.001~1M的KCl、濃度為0.001~1M的NaCl、濃度為0.001~1M磷酸鹽緩沖溶液或Tris-HCl緩沖溶液。
8.根據權利要求1或2所述的方法,其特征在于,步驟3)中,通過電化學工作站施加恒電位或進行伏安掃描,對電化學發光物質進行電激發。
9.根據權利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述方法用于監測單一電化學發光物質的波長及強度。
10.根據權利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述方法用于同時監測兩種或兩種以上電化學發光物質的波長及強度。
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