[發明專利]短波紅外焦平面非均勻性的校正方法及裝置在審
| 申請號: | 201710108727.5 | 申請日: | 2017-02-27 |
| 公開(公告)號: | CN106910174A | 公開(公告)日: | 2017-06-30 |
| 發明(設計)人: | 周津同 | 申請(專利權)人: | 北京津同利華科技有限公司 |
| 主分類號: | G06T5/00 | 分類號: | G06T5/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 102200 北京市昌平區科技園區超前路35*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 短波 紅外 平面 均勻 校正 方法 裝置 | ||
1.一種短波紅外焦平面非均勻性的校正方法,其特征在于,包括:
非均勻性噪聲計算步驟:使用級聯窗口濾波器計算原始紅外圖像的非均勻性噪聲,輸出各級的非均勻性噪聲;
非均勻性噪聲融合步驟:將各級窗口濾波器計算出的非均勻性噪聲進行加權融合,生成融合后的非均勻性噪聲;
非均勻性校正步驟:根據所述融合后的非均勻性噪聲,對所述原始紅外圖像進行非均勻性校正。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,在所述非均勻性噪聲計算步驟中,使用3×3的級聯窗口濾波器進行濾波,各級窗口濾波器采用下述公式計算非均勻性噪聲:
其中,fn(x,y)和fn+1(x,y)分別表示第n級和第n+1級的級聯窗口濾波器輸出的非均勻性噪聲,n的取值范圍為0到2,(i,j)為濾波窗口中的相對像素坐標,(x,y)為濾波窗口中心對應的絕對像素坐標,m是濾波系數,gijn+1(x,y)表示在中心點的絕對像素坐標為(x,y)的窗口中,相對坐標為(i,j)的像素點的原始圖像灰度值,*表示卷積運算,I(i,j)是空間濾波函數。
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