[發明專利]一種測定超微濾膜孔徑及孔徑分布的方法

有效

• 申請號: 201710107174.1
• 申請日: 2017-02-27
• 公開（公告）號: CN106823823B
• 公開（公告）日: 2019-08-09
• 發明（設計）人: 鄭祥;劉麗;羅鳴;程榮;尚閩
• 申請（專利權）人: 中國人民大學
• 主分類號: B01D65/10
• 分類號: B01D65/10
• 代理公司: 北京紀凱知識產權代理有限公司 11245
• 代理人: 徐寧;劉美麗

1.一種測定超微濾膜孔徑的方法，其特征在于包括以下內容：

1)選取符合設定條件的聚苯乙烯納米顆粒作為基準物，其中，將聚苯乙烯納米顆粒采用動態光散射儀表征粒徑分布和平均粒徑，將粒徑分布曲線為單峰且粒徑分布較集中的聚苯乙烯納米顆粒作為基準物；

2)采用紫外分光光度計掃描每種粒徑納米顆粒在紫外可見波長范圍內的最大吸收波長，并在最大吸收波長下相應作該粒徑納米顆粒的標準曲線；

3)選取單一粒徑聚苯乙烯納米顆粒配成質量濃度為C₀的溶液，用超聲使該粒徑納米顆粒均勻分散在水中，采用懸浮液過濾法對超微濾膜進行過濾實驗，選取過濾后的溶液，測得該粒徑聚苯乙烯納米顆粒在最大吸收波長下的吸光度，并采用該粒徑聚苯乙烯納米顆粒所對應的標準曲線計算出過濾后溶液中該粒徑納米顆粒的濃度C_t，進而計算超微濾膜對該粒徑聚苯乙烯納米顆粒的截留率R：

4)選用不同粒徑的聚苯乙烯納米顆粒重復步驟3)進行截留，根據測得的截留率計算該超微濾膜的膜孔直徑。

2.如權利要求1所述的一種測定超微濾膜孔徑的方法，其特征在于，紫外可見波長范圍為200～900nm。

3.如權利要求1到2任一項所述的一種測定超微濾膜孔徑的方法，其特征在于，超微濾膜的膜孔直徑包括標稱孔徑d₉₀和幾何平均孔徑d₅₀，其中，超微濾膜的標稱孔徑d₉₀是截留率為90％對應的聚苯乙烯納米顆粒粒徑，超微濾膜的幾何平均孔徑d₅₀是截留率為50％對應的聚苯乙烯納米顆粒粒徑。

4.一種測定超微濾膜孔徑分布的方法，其特征在于包括以下內容：基于如權利要求 1～3任一項所述的測定超微濾膜孔徑的方法，還包括膜孔徑分布計算的步驟：

膜孔徑分布常用兩個參數的log正態分布方程表示：

其中，d為膜孔直徑，u為幾何平均孔徑，σ為幾何標準差，由f(d)和超微濾膜的膜孔直徑d繪制超微濾膜孔徑分布圖。

5.如權利要求4所述的一種測定超微濾膜孔徑分布的方法，其特征在于，膜孔徑分布公式為：

式中，d₉₀是超微濾膜的標稱孔徑，d₅₀是超微濾膜的幾何平均孔徑，即為u，σ＝d₉₀/d₅₀，由f(d)和超微濾膜孔徑d繪制超微濾膜孔徑分布圖。