[發明專利]SLD光源測試系統

有效

• 申請號: 201710104147.9
• 申請日: 2017-02-24
• 公開（公告）號: CN106646183B
• 公開（公告）日: 2023-06-02
• 發明（設計）人: 肖浩;李建光;雷軍;劉博陽;郝琰
• 申請（專利權）人: 北京世維通光智能科技有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 北京邦信陽專利商標代理有限公司 11012
• 代理人: 劉金峰

本發明實施例所述的SLD光源測試系統，待測SLD光源發出的光經過耦合器、起偏器組件、保偏光纖環、敏感元件后原路返回，返回后的兩束線偏振光發生干涉；由探測器檢測干涉光強，并得到與所述干涉光強對應的電信號；信號處理電路解析探測器發送的電信號得到測量電流值；誤差計算單元根據基準電流值以及測量電流值得到待測SLD光源在所處環境下引入的測量誤差。由于光波在上述系統中的傳輸方式與FOCT中光傳輸方式相同，因此最終得到的SLD光源在所處環境下引入的測量誤差的表現形式也可以與FOCT測量誤差的形式等效，上述方案能完全和精準的反映出SLD光源的精度，測試結果可直接用于衡量其在FOCT中的系統性能，為FOCT中SLD光源的篩選提供有效的技術參考。

技術領域

本發明涉及光電子器件技術領域，具體涉及一種SLD光源測試系統。

背景技術

SLD(超輻射發光二極管)光源是光纖電流互感器(Fiber?Optic?CurrentTransformer,FOCT)的必要組成部分，SLD光源的特性對FOCT的性能往往起到關鍵作用。

FOCT是基于法拉第磁光效應和安培環路定律，通過光纖敏感環檢測被測導體內電流的大小，具體為：當被測導體中有電流通過時，在光纖敏感環中傳輸的左旋和右旋圓偏振光的相速度分別向相反的方向改變，從而產生正比于電流大小的相位差(即法拉第相移)，此時的光路特性稱之為具有非互易性。這個相位差可以通過干涉法來測量，并由光電探測器將干涉光信號轉變為電壓信號輸出。根據對電壓信號的分析，即可得出被測導體中電流的大小。

SLD光源的多個特性參數對FOCT測量精度均有影響，如光源的譜寬與光路的相干性有關，光源的光譜調制度與光路相干噪聲有關，光源的偏振度與干涉信號中的直流分量以及光路的偏振噪聲有關，光源的功率與光學噪聲、光源的動態特性、信號調制和系統啟動時間有關。SLD光源在長期使用中，由于受外部環境的影響，其中心波長漂移、光功率衰減和光源管芯溫度變化等均會直接導致FOCT測量精度的漂移。因此有必要對SLD光源的性能進行測試。

傳統的SLD光源檢測方法，例如通過測量P-I曲線、3dB帶寬、光譜紋波、光功率穩定度和偏振度等參數來評判SLD光源性能的優劣，是將SLD光源獨立于FOCT進行某一參數的單獨測試，不能完全和精準的反映出SLD光源的質量，該測試結果不能直接用于衡量其在FOCT中的系統性能，從而不能為FOCT中SLD光源的篩選提供直接有效的技術參考指標。

發明內容

本發明實施例提供一種SLD光源測試系統，將SLD光源置于基于FOCT光路中檢驗SLD光源在外部環境激勵下的性能參數，因此能夠以FOCT測量誤差的形式進行等效表達其在外部環境激勵下給FOCT帶來的誤差，從而為FOCT中SLD光源的篩選提供直接有效的技術參考指標。

本發明實施例提供一種SLD光源測試系統，包括：

耦合器，其第一端接收所述待測SLD光源發出的光，第二端與探測器連接；

起偏器組件，與所述耦合器的第三端連接，將所述待測SLD光源發出的光轉換為兩束線偏振光；

保偏光纖環，其第一端與所述起偏器組件的輸出端連接；

敏感元件，感應通電導體內的基準電流值，與所述保偏光纖環的第二端連接；所述起偏器組件輸出的兩束線偏振光經所述保偏光纖環、所述敏感元件后原路返回，返回后的兩束線偏振光發生干涉；

探測器，檢測所述耦合器的第二端輸出的干涉光強，并得到與所述干涉光強對應的電信號；

信號處理電路，接收所述探測器發送的電信號，解析后得到測量電流值；

誤差計算單元，接收所述信號處理電路發送的所述測量電流值，根據所述基準電流值以及所述測量電流值得到所述待測SLD光源在所處環境下引入的測量誤差。