[發(fā)明專利]SLD光源測試系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710104147.9
• 申請日: 2017-02-24
• 公開（公告）號: CN106646183B
• 公開（公告）日: 2023-06-02
• 發(fā)明（設計）人: 肖浩;李建光;雷軍;劉博陽;郝琰
• 申請（專利權）人: 北京世維通光智能科技有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 北京邦信陽專利商標代理有限公司 11012
• 代理人: 劉金峰

1.一種SLD光源測試系統(tǒng)，其特征在于，包括：

耦合器，其第一端接收待測SLD光源發(fā)出的光，第二端與探測器連接；

起偏器組件，與所述耦合器的第三端連接，將所述待測SLD光源發(fā)出的光轉換為兩束線偏振光；

保偏光纖環(huán)，其第一端與所述起偏器組件的輸出端連接；

敏感元件，感應通電導體內的基準電流值，與所述保偏光纖環(huán)的第二端連接；所述起偏器組件輸出的兩束線偏振光經(jīng)所述保偏光纖環(huán)、所述敏感元件后原路返回，返回后的兩束線偏振光發(fā)生干涉；

探測器，檢測所述耦合器的第二端輸出的干涉光強，并得到與所述干涉光強對應的電信號；

信號處理電路，接收所述探測器發(fā)送的電信號，解析后得到測量電流值；

誤差計算單元，接收所述信號處理電路發(fā)送的所述測量電流值，根據(jù)所述基準電流值以及所述測量電流值得到所述待測SLD光源在所處環(huán)境下引入的測量誤差。

2.根據(jù)權利要求1所述的SLD光源測試系統(tǒng)，其特征在于，所述起偏器組件包括起偏器和直波導調制器，其中：

所述起偏器的第一端與所述耦合器的第三端連接；

所述直波導調制器的第一端與所述起偏器的第二端采用45度對軸角連接；所述直波導調制器的第二端與所述保偏光纖環(huán)的第一端采用0度對軸角連接；所述直波導調制器的電信號輸入端接收調制信號。

3.根據(jù)權利要求2所述的SLD光源測試系統(tǒng)，其特征在于：

所述信號處理電路中包括調制信號輸出模塊，所述調制信號輸出模塊發(fā)送調制信號至所述直波導調制器的電信號輸入端。

4.根據(jù)權利要求1所述的SLD光源測試系統(tǒng)，其特征在于，所述起偏器組件包括Y波導調制器和偏振合束器，其中：

所述Y波導調制器的輸入端通過耦合器接收所述待測SLD光源發(fā)出的光，所述Y波導調制器的電信號輸入端接收調制信號；

所述偏振合束器的一個輸入端與所述Y波導調制器的一個輸出端采用90度對軸角連接，所述偏振合束器的另一個輸入端與所述Y波導調制器的DP1F170250BY/CNSWT/GL

另一個輸出端采用0度對軸角連接；所述偏振合束器的輸出端與所述保偏光纖環(huán)的第一端采用0度對軸角連接。

5.根據(jù)權利要求4所述的SLD光源測試系統(tǒng)，其特征在于：

所述信號處理電路中包括調制信號輸出模塊，所述調制信號輸出模塊發(fā)送調制信號至所述Y波導調制器的電信號輸入端。

6.根據(jù)權利要求1-5任一項所述的SLD光源測試系統(tǒng)，其特征在于：

所述敏感元件，包括光纖環(huán)以及分別設置于所述光纖環(huán)兩端的光纖波片和反射鏡，所述光纖環(huán)內有通電導體穿過，所述光纖波片與所述保偏光纖環(huán)的第二端連接。

7.根據(jù)權利要求6所述的SLD光源測試系統(tǒng)，其特征在于，還包括：

環(huán)境發(fā)生器，所述待測SLD光源置于所述環(huán)境發(fā)生器內部，所述環(huán)境發(fā)生器響應上位機的控制信號模擬所述待測SLD光源所處環(huán)境參數(shù)。

8.根據(jù)權利要求7所述的SLD光源測試系統(tǒng)，其特征在于：

所述環(huán)境發(fā)生器模擬的所述待測SLD光源所處環(huán)境參數(shù)包括：溫度、濕度、振動、沖擊和輻照中的至少一種。

9.根據(jù)權利要求8所述的SLD光源測試系統(tǒng)，其特征在于，還包括：

電流發(fā)生器，輸出預設電流至所述通電導體；

基準互感器，檢測所述電流發(fā)生器輸出預設電流的電流值，作為所述通電導體中的基準電流值。

10.根據(jù)權利要求9所述的SLD光源測試系統(tǒng)，其特征在于：

所述誤差計算單元，獲取所述基準互感器檢測的通電導體中的基準電流值以及所述信號處理電路解析得到的所述測量電流值，得到所述待測SLD光源在所處環(huán)境下引入的測量誤差；

所述誤差計算單元發(fā)送所述測量誤差至所述上位機。