[發明專利]一種高速電路板智能測試裝置

在審

• 申請號: 201710090063.4
• 申請日: 2017-02-20
• 公開（公告）號: CN106771984A
• 公開（公告）日: 2017-05-31
• 發明（設計）人: 劉一清;傅雨晴;張鼎;林順豪
• 申請（專利權）人: 華東師范大學
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 上海藍迪專利商標事務所(普通合伙)31215
• 代理人: 徐筱梅,張翔

1.一種高速電路板智能測試裝置，其特征在于：該裝置包括PC機、測試電路、網絡數據收發模塊、網閘模塊和服務器，PC機通過網線與測試電路、網絡數據收發模塊、網閘模塊連接；測試電路與網絡數據收發模塊連接，網閘模塊與服務器連接，隔離外網，保障服務器中的數據安全；其中：

所述測試電路包括電源模塊、MCU模塊、測頻電路、兩個千兆以太網接口，一個百兆以太網接口、探針和JTAG接口，電源模塊與MCU模塊、測頻電路、兩千兆以太網接口、百兆以太網接口和JTAG接口連接；MCU模塊與測頻電路、百兆以太網接口連接；電源模塊、MCU模塊、測頻電路、千兆以太網接口和JTAG接口均接有數個探針。

2.根據權利要求1所述的高速電路板智能測試裝置，其特征在于：所述測頻電路包括數個電壓跟隨器及一個FPGA芯片，探針連接在電壓跟隨器的輸入端,電壓跟隨器的輸出端分別接FPGA芯片的數個IO引腳；探針獲取的頻率信號通過電壓跟隨器進行阻抗匹配和脈沖整形。

3.根據權利要求1所述的高速電路板智能測試裝置，其特征在于：所述MUC模塊的核心芯片為基于ARM-M4內核的K60，探針連接在K60芯片具有ADC采樣功能的IO引腳上，測試數路電壓信號。

4.根據權利要求1所述的高速電路板智能測試裝置，其特征在于：所述千兆以太網接口和JTAG接口的每個信號線上都接有探針。