[發明專利]一種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動測試方法和裝置

在審

• 申請號: 201710090011.7
• 申請日: 2017-02-20
• 公開（公告）號: CN106873573A
• 公開（公告）日: 2017-06-20
• 發明（設計）人: 王志浩
• 申請（專利權）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G05B23/02
• 分類號: G05B23/02
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司11227
• 代理人: 羅滿

技術領域

本發明屬于芯片測試技術領域，特別是涉及一種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動測試方法和裝置。

背景技術

單板底層軟件系統的可靠性是整機可靠性的重要基礎，特別是在存儲領域中，可靠性就是存儲系統的生命，所以單板底層軟件系統的可靠性就顯得尤為重要。對嵌入式控制芯片的全功能覆蓋測試是針對單板底層軟件系統可靠性測試的一項非常有效的手段，但是嵌入式控制芯片的寄存器繁雜而且規律性小，在人工排查過程中費時費力。具體而言，在嵌入式控制芯片的底層軟件的編寫中，許多寄存器特別是許多狀態寄存器在檢查中需要花費大量的時間，而且容易錯查、漏查。

發明內容

為解決上述問題，本發明提供了一種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動測試方法和裝置，能夠提高測試效率，降低相關測試對人力的要求，并且避免錯查和漏查問題的發生。

本發明提供的一種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動測試方法，包括：

將串口自動化工具通過嵌入式控制芯片連接至主控芯片；

利用所述串口自動化工具自動運行所述主控芯片的命令行，從所述嵌入式控制芯片的寄存器中讀取數據；

將讀取的數據與腳本中的預設數據對比；

當所述讀取的數據與所述預設數據相同時，則判定該寄存器測試通過。

優選的，在上述嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動測試方法中，

所述當所述讀取的數據與所述預設數據相同時，則判定該寄存器測試通過之后，還包括：

將所述預設數據寫入所述嵌入式控制芯片的寄存器中；

從所述嵌入式控制芯片的寄存器中讀取出數據并與所述預設數據對比；

當所述讀取的數據與所述預設數據相同時，則判定該寄存器測試通過。

優選的，在上述嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動測試方法中，所述將串口自動化工具通過嵌入式控制芯片連接至主控芯片為：

將Tera Term串口自動化工具通過嵌入式控制芯片連接至主控芯片。

優選的，在上述嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動測試方法中，所述將串口自動化工具通過嵌入式控制芯片連接至主控芯片為：

將串口自動化工具通過CPLD、FPGA或ARM連接至主控芯片。

優選的，在上述嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動測試方法中，所述嵌入式控制芯片通過I2C或SGPIO與所述主控芯片連接。

本發明提供的一種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動測試裝置，包括串口自動化工具，所述串口自動化工具通過嵌入式控制芯片與主控芯片連接；

所述串口自動化工具用于自動運行所述主控芯片的命令行，從所述嵌入式控制芯片的寄存器中讀取數據，并將讀取的數據與腳本中的預設數據對比，當所述讀取的數據與所述預設數據相同時，則判定該寄存器測試通過。

優選的，在上述嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動測試裝置中，

所述串口自動化工具還用于將所述預設數據寫入所述嵌入式控制芯片的寄存器中；從所述嵌入式控制芯片的寄存器中讀取出數據并與所述預設數據對比；當所述讀取的數據與所述預設數據相同時，則判定該寄存器測試通過。

優選的，在上述嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動測試裝置中，所述串口自動化工具為Tera Term串口自動化工具。

優選的，在上述嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動測試裝置中，所述嵌入式控制芯片為CPLD、FPGA或ARM。

優選的，在上述嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動測試裝置中，所述嵌入式控制芯片通過I2C或SGPIO與所述主控芯片連接。

通過上述描述可知，本發明提供的上述嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動測試方法和裝置，由于該方法包括：將串口自動化工具通過嵌入式控制芯片連接至主控芯片；利用所述串口自動化工具自動運行所述主控芯片的命令行，從所述嵌入式控制芯片的寄存器中讀取數據；將讀取的數據與腳本中的預設數據對比；當所述讀取的數據與所述預設數據相同時，則判定該寄存器測試通過，因此能夠提高測試效率，降低相關測試對人力的要求，并且避免錯查和漏查問題的發生。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據提供的附圖獲得其他的附圖。

圖1為本申請實施例提供的第一種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動測試方法的示意圖；