[發明專利]一種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動測試方法和裝置在審
| 申請號： | 201710090011.7 | 申請日： | 2017-02-20 |
| 公開（公告）號： | CN106873573A | 公開（公告）日： | 2017-06-20 |
| 發明（設計）人： | 王志浩 | 申請（專利權）人： | 鄭州云海信息技術有限公司 |
| 主分類號： | G05B23/02 | 分類號： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產權代理有限公司11227 | 代理人： | 羅滿 |
| 地址： | 450018 河南省鄭州市*** | 國省代碼： | 河南;41 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 嵌入式 控制 芯片 全功能 覆蓋 自動 測試 方法 裝置 | ||
1.一種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動測試方法，其特征在于，包括：
將串口自動化工具通過嵌入式控制芯片連接至主控芯片；
利用所述串口自動化工具自動運行所述主控芯片的命令行，從所述嵌入式控制芯片的寄存器中讀取數據；
將讀取的數據與腳本中的預設數據對比；
當所述讀取的數據與所述預設數據相同時，則判定該寄存器測試通過。
2.根據權利要求1所述的嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動測試方法，其特征在于，
所述當所述讀取的數據與所述預設數據相同時，則判定該寄存器測試通過之后，還包括：
將所述預設數據寫入所述嵌入式控制芯片的寄存器中；
從所述嵌入式控制芯片的寄存器中讀取出數據并與所述預設數據對比；
當所述讀取的數據與所述預設數據相同時，則判定該寄存器測試通過。
3.根據權利要求1-2任一項所述的嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動測試方法，其特征在于，
所述將串口自動化工具通過嵌入式控制芯片連接至主控芯片為：
將Tera Term串口自動化工具通過嵌入式控制芯片連接至主控芯片。
4.根據權利要求3所述的嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動測試方法，其特征在于，
所述將串口自動化工具通過嵌入式控制芯片連接至主控芯片為：
將串口自動化工具通過CPLD、FPGA或ARM連接至主控芯片。
5.根據權利要求4所述的嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動測試方法，其特征在于，
所述嵌入式控制芯片通過I2C或SGPIO與所述主控芯片連接。
6.一種嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動測試裝置，其特征在于，
包括串口自動化工具，所述串口自動化工具通過嵌入式控制芯片與主控芯片連接；
所述串口自動化工具用于自動運行所述主控芯片的命令行，從所述嵌入式控制芯片的寄存器中讀取數據，并將讀取的數據與腳本中的預設數據對比，當所述讀取的數據與所述預設數據相同時，則判定該寄存器測試通過。
7.根據權利要求6所述的嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動測試裝置，其特征在于，
所述串口自動化工具還用于將所述預設數據寫入所述嵌入式控制芯片的寄存器中；從所述嵌入式控制芯片的寄存器中讀取出數據并與所述預設數據對比；當所述讀取的數據與所述預設數據相同時，則判定該寄存器測試通過。
8.根據權利要求6-7任一項所述的嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動測試裝置，其特征在于，
所述串口自動化工具為Tera Term串口自動化工具。
9.根據權利要求8所述的嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動測試裝置，其特征在于，
所述嵌入式控制芯片為CPLD、FPGA或ARM。
10.根據權利要求9所述的嵌入式控制芯片全功能覆蓋的自動測試裝置，其特征在于，
所述嵌入式控制芯片通過I2C或SGPIO與所述主控芯片連接。
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