[發(fā)明專利]光學(xué)防偽元件及使用該光學(xué)防偽元件的光學(xué)防偽產(chǎn)品

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710089955.2
• 申請日: 2017-02-20
• 公開（公告）號: CN108454264B
• 公開（公告）日: 2020-09-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 孫凱;張寶利;朱軍;王曉利
• 申請（專利權(quán)）人: 中鈔特種防偽科技有限公司;中國印鈔造幣總公司
• 主分類號: B42D25/324
• 分類號: B42D25/324
• 代理公司: 北京潤平知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11283
• 代理人: 羅攀;肖冰濱

本申請涉及光學(xué)防偽領(lǐng)域，公開了一種光學(xué)防偽元件及使用該光學(xué)防偽元件的光學(xué)防偽產(chǎn)品，該光學(xué)防偽元件包括：基材，該基材包括彼此相對的第一表面和第二表面；形成在所述第一表面上的微采樣工具；以及形成在所述第二表面的一個(gè)或多個(gè)微圖文單元，所述微圖文單元包括微圖文筆畫，該微圖文筆畫以非周期且非固定幾何形狀的形式排列，并且使得通過所述微采樣工具觀察所述第二表面能夠觀察到立體的動(dòng)畫防偽特征。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及光學(xué)防偽領(lǐng)域，尤其涉及一種光學(xué)防偽元件及使用該光學(xué)防偽元件的光學(xué)防偽產(chǎn)品。

背景技術(shù)

微透鏡陣列防偽技術(shù)利用微透鏡陣列作為采樣工具對微圖文陣列進(jìn)行采樣，可實(shí)現(xiàn)多種多樣的動(dòng)畫效果。授權(quán)公告號為CN1906547B的中國專利公開了以具有平面對稱軸的周期性微圖文為基礎(chǔ)的技術(shù)方案。公布號為CN101970243A的中國專利申請公開了實(shí)現(xiàn)多幀圖像的接合微圖文的設(shè)計(jì)方法。公布號為CN101379423的中國專利申請公開了微圖文的具體制作方法。微透鏡陣列防偽技術(shù)已在美元、英鎊等多個(gè)國家的新發(fā)行鈔票上以開窗安全線的方式使用。

在現(xiàn)有技術(shù)中，每個(gè)微圖文與宏觀再現(xiàn)的圖文在形狀上相同，二者只有尺寸上的差別。少數(shù)情況下微圖文與宏觀圖文雖然形狀不同，但可發(fā)現(xiàn)微圖文是由宏觀圖文的片段簡單拼合而成的。造假者可以很容易的從宏觀再現(xiàn)圖文或者直接利用光學(xué)顯微鏡發(fā)現(xiàn)微圖文陣列的設(shè)計(jì)方法和細(xì)節(jié)。另一方面，造假者實(shí)際上可使用更易獲得的、尺寸較大(例如直徑在50μm以上)的微透鏡，從而可以使用一般的印刷工藝制作微文字，而不需要采用CN101379423所采用的方法。這種方式雖然造成所形成的防偽元件整體厚度較厚，不適合在鈔票中的批量使用，但可實(shí)現(xiàn)與真實(shí)產(chǎn)品基本相同的視覺效果。以上兩方面的缺陷導(dǎo)致微透鏡陣列防偽技術(shù)在應(yīng)用中存在被偽造的風(fēng)險(xiǎn)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種光學(xué)防偽元件以及使用該光學(xué)防偽元件的光學(xué)防偽產(chǎn)品，以解決或至少部分解決上述技術(shù)缺陷。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的實(shí)施方式提供一種光學(xué)防偽元件，該光學(xué)防偽元件包括：基材，該基材包括彼此相對的第一表面和第二表面；形成在所述第一表面上的微采樣工具；以及形成在所述第二表面的一個(gè)或多個(gè)微圖文單元，所述微圖文單元包括微圖文筆畫，該微圖文筆畫以非周期且非固定幾何形狀的形式排列，并且使得通過所述微采樣工具觀察所述第二表面能夠觀察到立體的動(dòng)畫防偽特征。

本發(fā)明的另一實(shí)施方式提供一種采用上述光學(xué)防偽元件的光學(xué)防偽產(chǎn)品。

通過上述技術(shù)方案，微圖文單元的微圖文筆畫以非周期且非固定幾何形狀的形式排列在所述微圖文單元上，從而使得偽造者難以根據(jù)防偽元件的宏觀再現(xiàn)圖文或者通過光學(xué)顯微鏡進(jìn)行模仿設(shè)計(jì)和偽造；并且微圖文筆畫的排列使得通過微采樣工具觀察防偽元件的第二表面能夠形成立體的動(dòng)畫防偽特征，進(jìn)一步提高了防偽元件的防偽性能。

本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點(diǎn)將在隨后的具體實(shí)施方式部分予以詳細(xì)說明。

附圖說明

附圖是用來提供對本發(fā)明的進(jìn)一步理解，并且構(gòu)成說明書的一部分，與下面的具體實(shí)施方式一起用于解釋本發(fā)明，但并不構(gòu)成對本發(fā)明的限制。在附圖中：

圖1是根據(jù)本發(fā)明一種實(shí)施方式的光學(xué)防偽元件的剖面圖；

圖2是根據(jù)本發(fā)明一種實(shí)施方式的光學(xué)防偽元件的剖面圖；

圖3a是根據(jù)本發(fā)明一種實(shí)施方式的光學(xué)防偽元件的剖面圖；

圖3b是圖3a所示的光學(xué)防偽元件中的微圖文筆畫和微圖文筆畫之間的區(qū)域的剖面示意圖；

圖4a是根據(jù)本發(fā)明一種實(shí)施方式的光學(xué)防偽元件的俯視圖；

圖4b是根據(jù)本發(fā)明一種實(shí)施方式的宏觀再現(xiàn)圖和微圖文設(shè)計(jì)圖；

圖4c是根據(jù)本發(fā)明一種實(shí)施方式的宏觀再現(xiàn)圖和微圖文設(shè)計(jì)圖；