[發明專利]壓力觸控檢測方法、觸控面板及電子裝置

有效

• 申請號: 201710086641.7
• 申請日: 2017-02-17
• 公開（公告）號: CN108459750B
• 公開（公告）日: 2020-05-12
• 發明（設計）人: 黃煒赟;臧鵬程;高山
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;成都京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 彭久云

一種壓力觸控檢測方法、觸控面板及電子裝置，該壓力觸控檢測方法包括：提供觸控檢測單元陣列，其包括多行多列觸控檢測單元；檢測所述觸控檢測單元陣列被觸摸時的觸摸面積，根據所述觸摸面積的大小輸出不同的觸控壓力信號。該壓力觸控檢測方法將壓力觸控集成在觸摸面板之中，利用不同壓力觸摸操作，其觸摸面積發生改變的現象，采用觸摸面積的大小來表征觸控壓力的大小，從而實現壓力觸控檢測，無需額外增加壓力傳感器，簡化壓力觸控面板的制備工藝，提高產品良率，降低壓力觸控面板的生產成本，實現電子裝置的輕薄化。

技術領域

本發明的實施例涉及一種壓力觸控檢測方法、觸控面板及電子裝置。

背景技術

觸摸屏作為一種全新的人機交互設備，由于具有直接、高效、準確、流暢、時尚等特點，已經廣泛的應用于智能手機、平板電腦、電視等各種電子裝置中。而隨著觸摸屏技術的發展，壓力觸控(Force Touch)技術被引入到傳統觸控技術中，觸摸屏在二維平面空間的基礎上增加了第三維壓力空間，實現3D觸控效果，從而豐富人機交互手段，實現更多功能，帶來更多樣化的操作體驗。

壓力觸控技術主要根據外界按壓力度的不同，電子裝置能夠根據不同的壓力大小產生不同的感知信號，從而執行相應的操作指令。根據壓力感測原理的不同，電子裝置上實現壓力觸控技術的形式主要可分為三類：壓電式、壓阻式、電容式。電容式壓力觸控技術是基于電容的大小隨手指壓力的大小而變化的原理進行工作，壓阻式壓力觸控技術是基于壓敏電阻的阻值大小隨手指壓力大小而變化的原理進行工作，壓電式壓力觸控技術是基于一些晶體材料的壓電效應的原理進行工作。無論壓電式、壓阻式或電容式壓力觸控技術，其實現壓力檢測都需要額外增加包括壓力傳感器及其驅動芯片、外圍電路等部件在內的壓力感應組件，其結構復雜，生產成本較高；另一方面，由于需要在觸摸屏中集成壓力感應組件，會導致觸摸屏的厚度增大，不利用電子裝置的輕薄化。

發明內容

本發明至少一個實施例提供一種壓力觸控檢測方法、觸控面板及電子裝置。該壓力觸控檢測方法將壓力觸控集成在觸摸面板之中，利用不同壓力觸摸操作，其觸摸面積發生改變的現象，采用觸摸面積的大小來表征觸控壓力的大小，從而實現壓力觸控檢測，無需額外增加壓力傳感器，簡化壓力觸控面板的制備工藝、提高產品良率、降低壓力觸控技術的生產成本，實現電子裝置的輕薄化。

本發明的至少一個實施例提供一種壓力觸控檢測方法，其包括：提供觸控檢測單元陣列，其包括多行多列觸控檢測單元；檢測所述觸控檢測單元陣列被觸摸時的觸摸面積，根據所述觸摸面積的大小輸出不同的觸控壓力信號。

例如，在本發明一實施例提供的壓力觸控檢測方法中，所述觸控檢測單元為電容觸控檢測單元，且所述方法包括：檢測觸控電容數據的三維波形圖中的波形半高寬，所述觸摸面積的大小由所述波形半高寬表征；或檢測觸控電容數據的三維波形圖中的波形水平截面面積，所述觸摸面積的大小由所述波形水平截面面積表征；或檢測觸控電容數據的三維波形圖中的波形半高寬和波形水平截面面積，所述觸摸面積的大小由所述波形半高寬和所述波形水平截面面積表征；或檢測觸控電容數據的三維波形圖中的波形峰值、波形寬度或波形積分，所述觸摸面積的大小由所述波形峰值、所述波形寬度或所述波形積分表征。

例如，本發明一實施例提供的壓力觸控檢測方法，還包括將首次觸摸操作的觸摸面積作為觸摸特征數據，檢測當前觸摸操作的觸摸面積的大小并與所述觸摸特征數據進行比較，確定所述當前觸摸操作的類型，輸出所述觸控壓力信號。

例如，本發明一實施例提供的壓力觸控檢測方法，還包括將用戶輕點、輕按、重按操作時的觸摸面積存儲為觸摸特征數據，檢測當前觸摸操作的觸摸面積的大小并與所述觸摸特征數據進行比較，確定所述當前觸摸操作的類型，輸出所述觸控壓力信號。

例如，在本發明一實施例提供的壓力觸控檢測方法中，所述當前觸摸操作的類型為輕點觸摸操作、輕按觸摸操作或重按觸摸操作。