[發明專利]壓力觸控檢測方法、觸控面板及電子裝置

有效

• 申請號: 201710086641.7
• 申請日: 2017-02-17
• 公開（公告）號: CN108459750B
• 公開（公告）日: 2020-05-12
• 發明（設計）人: 黃煒赟;臧鵬程;高山
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;成都京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 彭久云

1.一種壓力觸控檢測方法，包括：

提供觸控檢測單元陣列，其包括多行多列觸控檢測單元；

檢測所述觸控檢測單元陣列被觸摸時的觸摸面積，根據所述觸摸面積的大小輸出不同的觸控壓力信號，

其中所述觸控檢測單元為電容觸控檢測單元，根據所述電容觸控檢測單元檢測的觸控電容數據的三維波形圖的至少一個特征參數來表征觸摸面積，

其中所述三維波形圖的至少一個特征參數包括波形半高寬、波形水平截面面積、波形半高寬和波形水平截面面積、波形峰值、波形寬度和波形積分中的至少一個。

2.根據權利要求1所述的壓力觸控檢測方法，其中所述方法包括：

檢測所述觸控電容數據的三維波形圖中的所述波形半高寬，所述觸摸面積的大小由所述波形半高寬表征；或

檢測所述觸控電容數據的三維波形圖中的所述波形水平截面面積，所述觸摸面積的大小由所述波形水平截面面積表征；或

檢測所述觸控電容數據的三維波形圖中的所述波形半高寬和所述波形水平截面面積，所述觸摸面積的大小由所述波形半高寬和所述波形水平截面面積表征；或

檢測所述觸控電容數據的三維波形圖中的所述波形峰值、所述波形寬度或所述波形積分，所述觸摸面積的大小由所述波形峰值、所述波形寬度或所述波形積分表征。

3.根據權利要求2所述的壓力觸控檢測方法，還包括將首次觸摸操作的觸摸面積作為觸摸特征數據，檢測當前觸摸操作的觸摸面積的大小并與所述觸摸特征數據進行比較，確定所述當前觸摸操作的類型，輸出所述觸控壓力信號。

4.根據權利要求2所述的壓力觸控檢測方法，還包括將用戶輕點、輕按、重按操作時的觸摸面積存儲為觸摸特征數據，檢測當前觸摸操作的觸摸面積的大小并與所述觸摸特征數據進行比較，確定所述當前觸摸操作的類型，輸出所述觸控壓力信號。

5.根據權利要求3或4任一項所述的壓力觸控檢測方法，其中，所述當前觸摸操作的類型包括輕點觸摸操作、輕按觸摸操作、重按觸摸操作。

6.一種觸控面板，包括：

觸控檢測單元陣列，其包括多行多列觸控檢測單元；

觸控處理裝置，配置為在所述觸控檢測單元陣列處于被觸摸狀態時檢測其觸摸面積，并根據所述觸摸面積的大小輸出不同的觸控壓力信號，

其中所述觸控檢測單元為電容觸控檢測單元，根據所述電容觸控檢測單元檢測的觸控電容數據的三維波形圖的至少一個特征參數來表征觸摸面積，

其中所述三維波形圖的至少一個特征參數包括波形半高寬、波形水平截面面積、波形半高寬和波形水平截面面積、波形峰值、波形寬度和波形積分中的至少一個。

7.根據權利要求6所述的觸控面板，其中，所述觸控檢測單元為自電容觸控檢測單元或互電容觸控檢測單元。

8.根據權利要求7所述的觸控面板，其中，所述觸摸面積的大小利用所述觸控電容數據的三維波形圖中的所述波形半高寬來表征；或

所述觸摸面積的大小利用所述觸控電容數據的三維波形圖中的所述波形水平截面面積來表征；或

所述觸摸面積的大小利用所述觸控電容數據的三維波形圖中的所述波形半高寬和所述波形水平截面面積來表征；

所述觸摸面積的大小利用所述觸控電容數據的三維波形圖中的所述波形峰值、所述波形寬度或所述波形積分來表征。

9.根據權利要求6-8任一項所述的觸控面板，還包括存儲裝置，其中，所述存儲裝置配置為存儲觸摸特征數據。

10.根據權利要求9所述的觸控面板，其中，所述觸摸特征數據為首次觸摸操作時的觸摸面積，所述觸控處理裝置還配置為檢測當前觸摸操作的觸摸面積的大小并與所述觸摸特征數據進行比較，確定所述當前觸摸操作的類型，輸出所述觸控壓力信號。