[發(fā)明專利]絕緣檢測(cè)系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710081591.3 | 申請(qǐng)日: | 2017-02-15 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN106896301A | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-06-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李遠(yuǎn)志 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市沃特瑪電池有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/12 | 分類號(hào): | G01R31/12 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 絕緣 檢測(cè) 系統(tǒng) | ||
1.一種絕緣檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述絕緣檢測(cè)系統(tǒng)包括多個(gè)絕緣檢測(cè)模塊及絕緣電阻,每個(gè)絕緣檢測(cè)模塊包括控制單元、開(kāi)關(guān)、采樣單元及低頻信號(hào)源,每個(gè)開(kāi)關(guān)通過(guò)相應(yīng)的采樣單元與所述絕緣電阻的第一端相連,并通過(guò)相應(yīng)的低頻信號(hào)源與所述絕緣電阻的第一端相連,每個(gè)開(kāi)關(guān)還與所述絕緣電阻的第二端相連,每個(gè)控制單元與相應(yīng)的開(kāi)關(guān)、相應(yīng)的采樣單元及相應(yīng)的低頻信號(hào)源相連,每個(gè)控制單元用于在相應(yīng)的絕緣檢測(cè)模塊上電后,控制相應(yīng)的開(kāi)關(guān)閉合,并控制相應(yīng)的采樣單元采樣系統(tǒng)中信號(hào),且根據(jù)相應(yīng)的采樣單元采樣到的信號(hào)判斷系統(tǒng)中是否存在與相應(yīng)低頻信號(hào)源輸出信號(hào)同頻率且同占空比的低頻信號(hào),每個(gè)控制單元還用于在系統(tǒng)中存在與相應(yīng)的低頻信號(hào)源輸出信號(hào)同頻率且同占空比的低頻信號(hào)時(shí),控制相應(yīng)的開(kāi)關(guān)斷開(kāi),每個(gè)控制單元還用于在系統(tǒng)中不存在與相應(yīng)的低頻信號(hào)源輸出信號(hào)同頻率且同占空比的低頻信號(hào)時(shí),控制相應(yīng)的低頻信號(hào)源輸出信號(hào)。
2.如權(quán)利要求1所述的絕緣檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:每個(gè)控制單元包括控制子單元、微分子單元、標(biāo)記子單元、分段子單元及識(shí)別子單元,所述控制子單元用于在相應(yīng)的絕緣檢測(cè)模塊上電后,控制所述開(kāi)關(guān)閉合,并控制所述采樣單元在所述低頻信號(hào)源輸出的信號(hào)的一個(gè)周期內(nèi)采樣系統(tǒng)中信號(hào),且控制所述采樣單元將采樣結(jié)果輸出給所述微分子單元,所述微分子單元用于對(duì)接收到的采樣信號(hào)進(jìn)行微分運(yùn)算,并將微分運(yùn)算的結(jié)果輸出給所述標(biāo)記子單元,所述標(biāo)記子單元用于對(duì)微分運(yùn)算的結(jié)果取絕對(duì)值,并將微分運(yùn)算的結(jié)果與其絕對(duì)值進(jìn)行比較,并根據(jù)比較結(jié)果對(duì)微分運(yùn)算的結(jié)果進(jìn)行相應(yīng)的標(biāo)記,并將標(biāo)記結(jié)果輸出給所述分段子單元,所述分段子單元用于將標(biāo)記結(jié)果劃分成平臺(tái)區(qū)段、上升沿區(qū)段及下降沿區(qū)段,并計(jì)算所述平臺(tái)區(qū)段、所述上升沿區(qū)段及所述下降沿區(qū)段的段數(shù),且將所述平臺(tái)區(qū)段、所述上升沿區(qū)段及所述下降沿區(qū)段的段數(shù)輸出給所述識(shí)別子單元,所述識(shí)別子單元用于根據(jù)接收到的平臺(tái)區(qū)段、上升沿區(qū)段及下降沿區(qū)段的段數(shù)來(lái)識(shí)別統(tǒng)中是否存在與相應(yīng)的低頻信號(hào)源輸出信號(hào)同頻率且同占空比的低頻信號(hào),并將識(shí)別結(jié)果輸出所述控制子單元,所述控制子單元還用于根據(jù)所述識(shí)別子單元輸出的識(shí)別結(jié)果來(lái)控制所述開(kāi)關(guān)的斷開(kāi)及閉合以及所述采樣單元及所述低頻信號(hào)源是否工作。
3.如權(quán)利要求2所述的絕緣檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述標(biāo)記子單元用于將微分運(yùn)算的結(jié)果與其絕對(duì)值進(jìn)行比較,小于其絕對(duì)值的部分被標(biāo)記為平臺(tái),大于其絕對(duì)值且為正的部分被標(biāo)記為上升沿,大于其絕對(duì)值且為負(fù)的部分被標(biāo)記為下降沿。
4.如權(quán)利要求3所述的絕緣檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述分段子單元用于將所述標(biāo)記子單元輸出的標(biāo)記結(jié)果的首尾相連,并逐個(gè)向后查詢,且將連續(xù)相同的標(biāo)記結(jié)果劃分為一區(qū)段,還將每個(gè)標(biāo)記結(jié)果發(fā)生變化的時(shí)刻作為每一區(qū)段的開(kāi)始時(shí)刻。
5.如權(quán)利要求2所述的絕緣檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述識(shí)別子單元用于判斷接收到的平臺(tái)區(qū)段的段數(shù)是否為二,接收到上升沿區(qū)段的段數(shù)是否為一,以及接收到的下降沿區(qū)段的段數(shù)是否為一;所述識(shí)別子單元還用于在接收到的平臺(tái)區(qū)段的段數(shù)為二且上升沿區(qū)段的段數(shù)為一且下降沿區(qū)段的段數(shù)為一時(shí),識(shí)別系統(tǒng)中存在與相應(yīng)的低頻信號(hào)源輸出信號(hào)同頻率且同占空比的低頻信號(hào),所述控制子單元接收到所述識(shí)別子單元輸出的識(shí)別結(jié)果后,控制所述開(kāi)關(guān)斷開(kāi),并控制所述采樣單元停止工作;所述識(shí)別子單元還用于在接收到的平臺(tái)區(qū)段的段數(shù)不為二或上升沿區(qū)段的段數(shù)不為一或下降沿區(qū)段的段數(shù)不為一時(shí),識(shí)別系統(tǒng)中不存在與相應(yīng)的低頻信號(hào)源輸出信號(hào)同頻率且同占空比的低頻信號(hào),所述控制子單元接收到所述識(shí)別子單元輸出的識(shí)別結(jié)果后,控制所述低頻信號(hào)源輸出信號(hào)。
6.如權(quán)利要求2所述的絕緣檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:每個(gè)控制單元還包括濾波子單元,所述濾波子單元用于濾除所述標(biāo)記子單元輸出的標(biāo)記結(jié)果中的雜訊,并將濾除雜訊后的標(biāo)記結(jié)果輸出給所述分段子單元。
7.如權(quán)利要求6所述的絕緣檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述濾波子單元用于將所述標(biāo)記結(jié)果劃分為多個(gè)采樣區(qū)間,每個(gè)采樣區(qū)間中標(biāo)記結(jié)果的數(shù)量相同,所述濾波子單元還用于統(tǒng)計(jì)每個(gè)采樣區(qū)間中數(shù)量最多且相同的標(biāo)記結(jié)果,并將每個(gè)采樣區(qū)間中間位置的標(biāo)志結(jié)果修改為相應(yīng)的采樣區(qū)間中數(shù)量最多且相同的標(biāo)記結(jié)果。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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