[發明專利]測試用例處理方法和裝置

有效

• 申請號: 201710074403.4
• 申請日: 2017-02-10
• 公開（公告）號: CN106874199B
• 公開（公告）日: 2022-10-18
• 發明（設計）人: 金朱黎;賀旭;黃晶;宋秀斯
• 申請（專利權）人: 騰訊科技（深圳）有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 何平;鄧云鵬

本發明涉及一種測試用例處理方法和裝置，該測試用例處理方法包括：獲取測試用例標識集合和被測函數標識集合；對于所述測試用例標識集合中的每個測試用例標識，確定針對所述被測函數標識集合的測試覆蓋關系；將所述測試用例標識集合中的測試用例標識，按照相應的所述測試覆蓋關系之間的相似度進行聚類，獲得多于一個的測試用例標識子集；根據所述測試用例標識子集，從所述測試用例標識集合中篩選出部分測試用例標識。本發明提供的測試用例處理方法和裝置，可實現測試用例精簡。

技術領域

本發明涉及計算機技術領域，特別是涉及一種測試用例處理方法和裝置。

背景技術

測試用例(Test Case)是為測試程序而設計的一組測試輸入、執行條件和預期的結果的數據。測試用例可以設計一個場景，使被測程序在這種場景下運行，以測試程序是否能否滿足設計需求。

目前，需要為被測程序設計足夠數量的測試用例，通常全量執行測試用例以保證對被測程序進行充分的測試。在被測程序開發初期，測試用例總量較少，執行全量的測試用例也容易管理。

然而，隨著被測程序的開發進展，在每個開發階段會產生新的測試用例，測試用例的數量顯著增加，全量執行測試用例需要消耗大量的時間成本和人力成本，測試效率低。

發明內容

基于此，有必要針對目前每次測試需要執行全量測試用例導致測試成本低的問題，提供一種測試用例處理方法和裝置。

一種測試用例處理方法，包括：

獲取測試用例標識集合和被測函數標識集合；

對于所述測試用例標識集合中的每個測試用例標識，確定針對所述被測函數標識集合的測試覆蓋關系；

將所述測試用例標識集合中的測試用例標識，按照相應的所述測試覆蓋關系之間的相似度進行聚類，獲得多于一個的測試用例標識子集；

根據所述測試用例標識子集，從所述測試用例標識集合中篩選出部分測試用例標識。

一種測試用例處理裝置，包括：

獲取模塊，用于獲取測試用例標識集合和被測函數標識集合；

測試覆蓋關系確定模塊，用于對于所述測試用例標識集合中的每個測試用例標識，確定針對所述被測函數標識集合的測試覆蓋關系；

聚類模塊，用于將所述測試用例標識集合中的測試用例標識，按照相應的所述測試覆蓋關系之間的相似度進行聚類，獲得多于一個的測試用例標識子集；

測試用例篩選模塊，用于根據所述測試用例標識子集，從所述測試用例標識集合中篩選出部分測試用例標識。

上述測試用例處理方法和裝置，獲取測試用例標識集合和被測函數標識集合后，確定每個測試用例標識相對于被測函數標識集合的測試覆蓋關系，該測試覆蓋關系反映了該測試用例標識表示的測試用例，對于被測函數標識集合所表示的被測函數的覆蓋情況。利用測試覆蓋關系之間的相似度進行聚類，得到若干測試用例標識子集。根據所述測試用例標識子集篩選出部分測試用例標識，以對測試用例標識集合進行精簡。利用精簡后得到的測試用例標識所對應的測試用例對被測程序進行測試，不僅可以保證測試覆蓋率，還能提高測試效率。

附圖說明

圖1為一個實施例中測試用例處理方法的應用環境圖；

圖2為一個實施例中用于執行測試用例處理方法的電子設備的內部結構示意圖；

圖3為一個實施例中測試用例處理方法的流程示意圖；

圖4為一個實施例中對于測試用例標識集合中的每個測試用例標識，確定針對被測函數標識集合的測試覆蓋關系的步驟的流程示意圖；