[發(fā)明專利]測試用例處理方法和裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710074403.4
• 申請日: 2017-02-10
• 公開（公告）號: CN106874199B
• 公開（公告）日: 2022-10-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 金朱黎;賀旭;黃晶;宋秀斯
• 申請（專利權(quán)）人: 騰訊科技（深圳）有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 何平;鄧云鵬

1.一種測試用例處理方法，包括：

獲取測試用例標(biāo)識集合和被測函數(shù)標(biāo)識集合；所述測試用例標(biāo)識集合是全量測試用例標(biāo)識所構(gòu)成的集合；

對于所述測試用例標(biāo)識集合中的每個(gè)測試用例標(biāo)識，確定針對所述被測函數(shù)標(biāo)識集合的測試覆蓋關(guān)系；

將所述測試用例標(biāo)識集合中的測試用例標(biāo)識，按照相應(yīng)的所述測試覆蓋關(guān)系之間的相似度進(jìn)行聚類，獲得多于一個(gè)的測試用例標(biāo)識子集；

對于包括一個(gè)測試用例標(biāo)識的測試用例標(biāo)識子集，選擇所述包括一個(gè)測試用例標(biāo)識的測試用例標(biāo)識子集中的測試用例標(biāo)識；

對于包括多于一個(gè)的測試用例標(biāo)識的測試用例標(biāo)識子集，則從指定數(shù)量為1起，分別從每個(gè)包括多于一個(gè)的測試用例標(biāo)識的測試用例標(biāo)識子集中選擇指定數(shù)量的測試用例標(biāo)識，并與僅包括一個(gè)測試用例標(biāo)識的測試用例標(biāo)識子集構(gòu)成部分測試用例標(biāo)識，計(jì)算測試覆蓋率；若所述測試覆蓋率未達(dá)到預(yù)設(shè)值，則將所述指定數(shù)量自增1后，返回分別從每個(gè)包括多于一個(gè)的測試用例標(biāo)識的測試用例標(biāo)識子集中挑選指定數(shù)量的測試用例標(biāo)識的步驟繼續(xù)執(zhí)行，直至所述測試覆蓋率達(dá)到預(yù)設(shè)值時(shí)停止；

將選擇出的測試用例標(biāo)識發(fā)送至終端；其中，與發(fā)送的測試用例標(biāo)識相對應(yīng)的測試用例用于對處于開發(fā)階段的被測程序進(jìn)行測試。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述對于所述測試用例標(biāo)識集合中的每個(gè)測試用例標(biāo)識，確定針對所述被測函數(shù)標(biāo)識集合的測試覆蓋關(guān)系包括：

對于所述測試用例標(biāo)識集合中的每個(gè)測試用例標(biāo)識，分別判斷與所述被測函數(shù)標(biāo)識集合中的每個(gè)被測函數(shù)標(biāo)識是否存在測試對應(yīng)關(guān)系；

根據(jù)與所述測試用例標(biāo)識集合中的每個(gè)測試用例標(biāo)識相應(yīng)的是否存在測試對應(yīng)關(guān)系的判斷結(jié)果，確定與所述每個(gè)測試用例標(biāo)識相應(yīng)的針對所述被測函數(shù)標(biāo)識集合的測試覆蓋關(guān)系。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述對于所述測試用例標(biāo)識集合中的每個(gè)測試用例標(biāo)識，分別判斷與所述被測函數(shù)標(biāo)識集合中的每個(gè)被測函數(shù)標(biāo)識是否存在測試對應(yīng)關(guān)系包括：

獲取測試用例標(biāo)識和被測函數(shù)標(biāo)識之間的根據(jù)歷史測試記錄確定的測試對應(yīng)關(guān)系集合；

對于所述測試用例標(biāo)識集合中的每個(gè)測試用例標(biāo)識，分別在所述測試對應(yīng)關(guān)系集合中，查詢與所述被測函數(shù)標(biāo)識集合中的每個(gè)被測函數(shù)標(biāo)識是否存在測試對應(yīng)關(guān)系。

4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述將所述測試用例標(biāo)識集合中的測試用例標(biāo)識，按照相應(yīng)的所述測試覆蓋關(guān)系之間的相似度進(jìn)行聚類，獲得多于一個(gè)的測試用例標(biāo)識子集包括：

獲取表示每個(gè)測試用例標(biāo)識所對應(yīng)的所述測試覆蓋關(guān)系的數(shù)值化對象；

將所述數(shù)值化對象按照數(shù)值化對象之間的相似度進(jìn)行聚類，獲得多于一個(gè)的數(shù)值化對象聚類簇；

根據(jù)所述數(shù)值化對象聚類簇獲得相應(yīng)的測試用例標(biāo)識子集。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述數(shù)值化對象為坐標(biāo)點(diǎn)，所述數(shù)值化對象之間的相似度為坐標(biāo)點(diǎn)之間的歐式距離，所述數(shù)值化對象聚類簇為坐標(biāo)點(diǎn)聚類簇。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述測試覆蓋關(guān)系，表示相應(yīng)的測試用例標(biāo)識與所述被測函數(shù)標(biāo)識集合中的每個(gè)被測函數(shù)標(biāo)識是否存在測試對應(yīng)關(guān)系；

所述獲取表示每個(gè)測試用例標(biāo)識所對應(yīng)的所述測試覆蓋關(guān)系的數(shù)值化對象包括：

獲取分別表示每個(gè)所述測試覆蓋關(guān)系的坐標(biāo)點(diǎn)，所述坐標(biāo)點(diǎn)的維度的數(shù)量等于所述被測函數(shù)標(biāo)識集合中被測函數(shù)標(biāo)識的數(shù)量，且每個(gè)維度在相應(yīng)的被測函數(shù)標(biāo)識與所述坐標(biāo)點(diǎn)對應(yīng)的測試用例標(biāo)識之間存在或者不存在所述測試對應(yīng)關(guān)系時(shí)分別取不同的數(shù)值。