[發(fā)明專利]堆疊式存儲器芯片的短路檢測器件及其方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710061506.7 | 申請日： | 2017-01-26 |
| 公開（公告）號： | CN107015094B | 公開（公告）日： | 2019-09-06 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 尹元柱;姜錫龍;柳慧承;李賢義 | 申請（專利權(quán)）人： | 三星電子株式會社 |
| 主分類號： | G01R31/02 | 分類號： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人： | 邵亞麗;張婧 |
| 地址： | 韓國*** | 國省代碼： | 韓國;KR |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 堆疊 存儲器 芯片 短路 檢測 器件 及其 方法 | ||
1.一種短路檢測電路，包括：
多個數(shù)據(jù)輸入/輸出墊片，每個數(shù)據(jù)輸入/輸出墊片連接至多個微凸塊中的對應微凸塊；
多個數(shù)據(jù)輸出電路，每個數(shù)據(jù)輸出電路包括上拉驅(qū)動器和下拉驅(qū)動器，所述多個數(shù)據(jù)輸出電路各自被配置為驅(qū)動所述多個數(shù)據(jù)輸入/輸出墊片中的對應數(shù)據(jù)輸入/輸出墊片；
上拉驅(qū)動器輸出控制電路，被配置為基于微凸塊短路測試類型為所述多個數(shù)據(jù)輸出電路中的每一個選擇關(guān)斷狀態(tài)、弱接通狀態(tài)和強接通狀態(tài)中的一種狀態(tài)作為與其相關(guān)聯(lián)的所述上拉驅(qū)動器的輸出；
下拉驅(qū)動器輸出控制電路，被配置為基于微凸塊短路測試類型為所述多個數(shù)據(jù)輸出電路中的每一個選擇關(guān)斷狀態(tài)、弱接通狀態(tài)和強接通狀態(tài)中的一種狀態(tài)作為與其相關(guān)聯(lián)的所述下拉驅(qū)動器的輸出；
測試輸入數(shù)據(jù)存儲電路；以及
測試輸出數(shù)據(jù)存儲電路。
2.如權(quán)利要求1所述的短路檢測電路，其中，所述微凸塊短路測試類型包括以下各項中的至少一項：(i)測試所述多個微凸塊中的一個與接地電壓之間的短路的操作；(ii)測試所述多個微凸塊中的一個與電源電壓之間的短路的操作；以及(iii)測試所述多個微凸塊中的相鄰微凸塊之間的短路的操作。
3.如權(quán)利要求2所述的短路檢測電路，其中，如果所述微凸塊短路測試類型是測試所述多個微凸塊中的一個與所述接地電壓之間的短路的操作，則所述上拉驅(qū)動器輸出控制電路被配置為將所述多個數(shù)據(jù)輸出電路中的每一個的所述上拉驅(qū)動器的輸出設(shè)置為弱接通狀態(tài)，并且所述下拉驅(qū)動器輸出控制電路被配置為將所述多個數(shù)據(jù)輸出電路中的每一個的所述下拉驅(qū)動器的輸出設(shè)置為關(guān)斷狀態(tài)。
4.如權(quán)利要求2所述的短路檢測電路，其中，如果所述微凸塊短路測試類型是測試微凸塊中的一個與電源電壓之間的短路的操作，則所述上拉驅(qū)動器輸出控制電路被配置為將所述多個數(shù)據(jù)輸出電路中的每一個的上拉驅(qū)動器的輸出設(shè)置為關(guān)斷狀態(tài)，并且所述下拉驅(qū)動器輸出控制電路被配置為將所述多個數(shù)據(jù)輸出電路中的每一個的下拉驅(qū)動器的輸出設(shè)置為弱接通狀態(tài)。
5.如權(quán)利要求2所述的短路檢測電路，其中，如果所述微凸塊短路測試類型是測試所述多個微凸塊中的相鄰微凸塊之間的短路的操作，
則所述上拉驅(qū)動器輸出控制電路被配置為：
將與對應于短路測試目標的微凸塊相連的所述上拉驅(qū)動器的輸出設(shè)置為弱接通狀態(tài)；以及
將與對應于所述短路測試目標的微凸塊相鄰的微凸塊相連的所述上拉驅(qū)動器的輸出設(shè)置為關(guān)斷狀態(tài)；以及
所述下拉驅(qū)動器輸出控制電路被配置為：
將與對應于所述短路測試目標的微凸塊相連的所述下拉驅(qū)動器的輸出設(shè)置為關(guān)斷狀態(tài)；
將與對應于所述短路測試目標的微凸塊相鄰的微凸塊相連的所述下拉驅(qū)動器的輸出設(shè)置為強接通狀態(tài)。
6.如權(quán)利要求2所述的短路檢測電路，其中，如果所述微凸塊短路測試類型是測試所述多個微凸塊中的相鄰的微凸塊之間的短路的操作，
則所述上拉驅(qū)動器輸出控制電路被配置為：
將與對應于短路測試目標的微凸塊相連的所述上拉驅(qū)動器的輸出設(shè)置為關(guān)斷狀態(tài)；以及
將與對應于所述短路測試目標的微凸塊相鄰的微凸塊相連的所述上拉驅(qū)動器的輸出設(shè)置為強接通狀態(tài)；以及
所述下拉驅(qū)動器輸出控制電路被配置為：
將與對應于所述短路測試目標的微凸塊相連的所述下拉驅(qū)動器的輸出設(shè)置為弱接通狀態(tài)；以及
將與對應于所述短路測試目標的微凸塊相鄰的微凸塊相連的所述下拉驅(qū)動器的輸出設(shè)置為弱接通狀態(tài)。
7.如權(quán)利要求1所述的短路檢測電路，其中，所述上拉驅(qū)動器輸出控制電路被配置為：
設(shè)置所述上拉驅(qū)動器中的每一個的輸出，以使得所述多個數(shù)據(jù)輸出電路在第一操作模式中執(zhí)行正常的數(shù)據(jù)輸出操作；以及
設(shè)置所述上拉驅(qū)動器中的每一個的輸出，以使得所述多個數(shù)據(jù)輸出電路在第二操作模式中執(zhí)行微凸塊短路測試操作，
其中，所述第二操作模式是模式寄存器組(MRS)操作。
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