[發(fā)明專利]內(nèi)連線結(jié)構(gòu)及其制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710056223.3 | 申請日: | 2017-01-25 |
| 公開(公告)號: | CN108346616B | 公開(公告)日: | 2021-03-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李鴻志;黃旻暄 | 申請(專利權(quán))人: | 旺宏電子股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/768 | 分類號: | H01L21/768 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 任巖 |
| 地址: | 中國臺灣新竹*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 連線 結(jié)構(gòu) 及其 制造 方法 | ||
1.一種內(nèi)連線結(jié)構(gòu),其特征在于,包括:
一基底;
一介電層,設(shè)置于該基底上,且具有一開口;
一第一導(dǎo)電圖案,設(shè)置于該開口中;以及
一第二導(dǎo)電圖案,設(shè)置于該第一導(dǎo)電圖案上,且暴露出該第一導(dǎo)電圖案的一露出部分,其中該第一導(dǎo)電圖案的該露出部分具有一缺口;
其中,該第二導(dǎo)電圖案的寬度小于該第一導(dǎo)電圖案的寬度,且該第一導(dǎo)電圖案的該露出部分位于該第二導(dǎo)電圖案的一側(cè)或兩側(cè),第二導(dǎo)電圖案的底表面高于第一導(dǎo)電圖案頂表面。
2.如權(quán)利要求1所述的內(nèi)連線結(jié)構(gòu),其特征在于,其中該第一導(dǎo)電圖案的材料包括W、Ti、TiN、Ta或TaN。
3.如權(quán)利要求1所述的內(nèi)連線結(jié)構(gòu),其特征在于,其中該第二導(dǎo)電圖案的材料包括AlCu、Al或W。
4.如權(quán)利要求1所述的內(nèi)連線結(jié)構(gòu),其特征在于,其中該缺口暴露出該開口的部分側(cè)壁。
5.一種內(nèi)連線結(jié)構(gòu)的制造方法,其特征在于,包括:
在一基底上形成一介電層,其中該介電層具有一開口;
在該開口中形成一第一導(dǎo)電圖案;
在該第一導(dǎo)電圖案上形成一第二導(dǎo)電圖案,其中該第二導(dǎo)電圖案暴露出該第一導(dǎo)電圖案的一露出部分;以及
在該第一導(dǎo)電圖案的該露出部分中形成一缺口;
其中,該第二導(dǎo)電圖案的寬度小于該第一導(dǎo)電圖案的寬度,且該第一導(dǎo)電圖案的該露出部分位于該第二導(dǎo)電圖案的一側(cè)或兩側(cè),第二導(dǎo)電圖案的底表面高于第一導(dǎo)電圖案頂表面。
6.如權(quán)利要求5所述的內(nèi)連線結(jié)構(gòu)的制造方法,其特征在于,其中該缺口的形成方法包括:
以該第二導(dǎo)電圖案為掩模,對該第一導(dǎo)電圖案的該露出部分進行一蝕刻工藝,以部分地移除該第一導(dǎo)電圖案的該露出部分。
7.如權(quán)利要求6所述的內(nèi)連線結(jié)構(gòu)的制造方法,其特征在于,其中該蝕刻工藝所使用的一蝕刻氣體包括一氯氣與一保護氣體,且以該氯氣與該保護氣體的總量計,該氯氣的含量為50體積%至96體積%。
8.如權(quán)利要求7所述的內(nèi)連線結(jié)構(gòu)的制造方法,其特征在于,其中該保護氣體包括氮氣、三氯化硼、三氟甲烷、甲烷或其組合。
9.如權(quán)利要求7所述的內(nèi)連線結(jié)構(gòu)的制造方法,其特征在于,其中該蝕刻氣體還包括一惰性氣體。
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H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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