[發(fā)明專利]基于FAST算法的圖像匹配缺陷檢測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710048721.3 | 申請日: | 2017-01-20 |
| 公開(公告)號: | CN107123105A | 公開(公告)日: | 2017-09-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 伏長虹;奧鮑伊·阿里姆別科夫;羅云宜 | 申請(專利權(quán))人: | 南京理工大學(xué) |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06T7/33;G06K9/62;G06K9/46 |
| 代理公司: | 南京理工大學(xué)專利中心32203 | 代理人: | 薛云燕 |
| 地址: | 210094 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 fast 算法 圖像 匹配 缺陷 檢測 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及圖像處理技術(shù)領(lǐng)域,特別是一種基于FAST算法的圖像匹配缺陷檢測方法。
背景技術(shù)
近年來,隨著電子技術(shù)、圖像處理技術(shù)的發(fā)展,基于計算機視覺的圖像處理系統(tǒng)得到了廣泛的應(yīng)用,如在產(chǎn)品質(zhì)量檢測與質(zhì)量控制的工業(yè)生產(chǎn)中發(fā)揮著越來越重要的作用。在信息社會中,手機是人們獲取信息的重要工具。在手機的制造過程中,連接器起到連接各個模塊的作用。連接器的生產(chǎn)主要通過特定地模具制造,不可避免地會出現(xiàn)污漬、漏印、掉銅等問題,而傳統(tǒng)的人工檢測由于其檢測數(shù)量大、人力成本高、速度慢、有可能會出現(xiàn)漏檢錯檢等問題。
近年來發(fā)展起來的一些基于特征檢測的匹配算法廣泛的應(yīng)用于圖像缺陷檢測,其中包括有SURF(Speeded-UP Robust Features)算法、邊緣特征檢測算法,但是該兩種算法存在耗時較大、準(zhǔn)確率較低等問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種能夠有效地檢測出待測樣品中的缺陷、并準(zhǔn)確地定位缺陷位置的基于FAST算法的圖像匹配缺陷檢測方法。
實現(xiàn)本發(fā)明目的的技術(shù)解決方案為:一種基于FAST算法的圖像匹配缺陷檢測方法,包括以下步驟:
步驟1,制作標(biāo)準(zhǔn)的手機底板連接器灰度圖像模板,并分別對模板和測試圖像進行預(yù)處理和灰度變換;
步驟2,對模板和測試圖像分別進行FAST特征角點檢測獲取特征點;
步驟3,對檢測出的特征點進行特征點匹配,從已經(jīng)匹配好的特征點中挑選出強度最強的幾組匹配樣本,進行剛性變換得到轉(zhuǎn)換空間模型,并將測試圖像轉(zhuǎn)換到模板尺度空間;
步驟4,對同一尺度空間的兩幅圖像進行圖像匹配并相減得到差值圖像,對差值圖像進行形態(tài)學(xué)處理,判斷是否有缺陷,如果有缺陷則標(biāo)記缺陷位置。
進一步地,步驟2中所述對模板和測試圖像分別進行FAST特征角點檢測獲取特征點,具體過程為:
(2.1)從圖片中遍歷像素點,針對具體的一個像素點p,設(shè)其像素值為Ip;
(2.2)選擇一個閾值t;,
(2.3)由像素點p周圍16個像素點組成一個以像素點p為中心的圓圈,所述16個像素點從1~16順次編號;
(2.4)如果圓圈上的n個相鄰像素點都大于Ip+t,或者都小于Ip-t,則認(rèn)為像素點p是一個角點,n選擇為12。
進一步地,步驟3所述對檢測出的特征點進行特征點匹配,其中采用RANSAC模型來對特征點進行篩選。
進一步地,步驟(2.4)所述如果圓圈上的n個相鄰像素點都大于Ip+t,或者都小于Ip-t,則認(rèn)為像素點p是一個角點,具體判斷過程如下:
1)檢查p點周圍16個像素點圓圈中,編號為1的像素點和編號為9的像素點是否滿足都大于Ip+t,或者都小于Ip-t,如果都不滿足,則p點不是角點,否則,進行下一步的判斷;
2)檢查p點周圍16個像素點圓圈中,編號為5的像素點和編號為13的像素點是否滿足都大于Ip+t,或者小于Ip-t;
3)如果前兩步中所檢查的四個像素點中少于3個不滿足大于Ip+t,或者小于Ip-t的判斷條件,則點p不是角點,否則,進行下一步的判斷;
4)檢查p點周圍16個像素點圓圈中,其余像素點是否滿足大于Ip+t,或者小于Ip-t,如果總共有不少于n個像素點滿足該條件,則認(rèn)為p點是一個角點,n設(shè)定為12。
本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比,其顯著優(yōu)點為:(1)基于FAST角點特征圖像匹配檢測算法,能夠快速準(zhǔn)確地檢測出特征點;(2)對發(fā)生旋轉(zhuǎn)、偏移和縮放的圖像同樣具有較好的檢測效果。
下面結(jié)合說明書附圖來對本發(fā)明作進一步描述。
附圖說明
圖1是本發(fā)明基于FAST算法的圖像匹配缺陷檢測方法的流程圖。
圖2是像素點16點領(lǐng)域的示意圖。
具體實施方式
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