[發(fā)明專利]通用探針基因檢測(cè)方法及該探針和該探針的用途

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710045704.4
• 申請(qǐng)日: 2017-01-20
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN106591475B
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-07-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 鐘英健;劉旭宏;王小波;陳月琴;陳建彬
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 廈門基科生物科技有限公司
• 主分類號(hào): C12Q1/6844
• 分類號(hào): C12Q1/6844;C12N15/11
• 代理公司: 北京雙收知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11241
• 代理人: 王菊珍

1.通用探針檢測(cè)基因的方法，該方法適用于基于基因擴(kuò)增的基因特性檢測(cè)，其特征在于，所述通用探針是一段非分子信標(biāo)的寡核苷酸，所述通用探針是不與擬檢測(cè)的基因模板配對(duì)的一段序列；上游引物中具有一段與所述通用探針配對(duì)的序列，上游引物中還具有一段內(nèi)含與擬檢測(cè)的基因特性的序列相互補(bǔ)的序列；所述通用探針帶有修飾基團(tuán)；在所述基因擴(kuò)增的過(guò)程中，檢測(cè)所述修飾基團(tuán)的信號(hào)即能檢測(cè)到擬檢測(cè)的基因特性。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的通用探針檢測(cè)基因的方法，其特征還在于，所述基因擴(kuò)增是聚合酶鏈?zhǔn)椒磻?yīng)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的通用探針檢測(cè)基因的方法，其特征還在于，所述修飾基團(tuán)是熒光基團(tuán)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的通用探針檢測(cè)基因的方法，其特征還在于，所述通用探針的Tm值為50-72度。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的通用探針檢測(cè)基因的方法，其特征還在于，所述基因特性檢測(cè)尤指SNP檢測(cè)。

6.通用探針檢測(cè)基因的方法，該方法適用于基于基因擴(kuò)增的基因特性檢測(cè)，其特征在于，該方法中的下游引物具有如權(quán)利要求1至5任一一項(xiàng)中所述的上游引物所限定的特征。

7.通用探針的用途，其特征在于，所述通用探針用作權(quán)利要求1至6任一一項(xiàng)方法所述的通用探針。