[發明專利]一種集成電路測試系統總定時準確度測量裝置和方法

有效

• 申請號: 201710024534.1
• 申請日: 2017-01-11
• 公開（公告）號: CN106841982B
• 公開（公告）日: 2018-05-22
• 發明（設計）人: 周厚平;楊志文;李軒冕
• 申請（專利權）人: 中國船舶重工集團公司第七〇九研究所
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 武漢河山金堂專利事務所(普通合伙) 42212
• 代理人: 胡清堂

1.一種集成電路測試系統總定時準確度測量裝置，其特征在于，包括能依次與集成電路測試系統(1)的各個通道連接的采樣測量模塊(3)、與采樣測量模塊(3)的輸入端連接的外部參考時鐘模塊(5)、與采樣測量模塊(3)連接的數據處理模塊(6)；

其中，外部參考時鐘模塊(5)輸出的參考時鐘序列的周期為所述通道輸出的數據序列的周期的整數倍；采樣測量模塊(3)在參考時鐘的上升沿/下降沿開始測量每個通道的數據序列；數據處理模塊(6)根據采樣測量模塊(3)測量到的所有通道的數據序列確定總定時準確度；

所述集成電路測試系統總定時準確度測量裝置還包括通道切換模塊(2)、控制模塊(4)，集成電路測試系統(1)的各個通道與通道切換模塊(2)的輸入端連接，通道切換模塊(2)的輸出端與采樣測量模塊(3)的輸入端連接；控制模塊(4)分別與集成電路測試系統(1)、通道切換模塊(2)、采樣測量模塊(3)、外部參考時鐘模塊(5)的控制端連接，控制模塊(4)用于控制通道的輸出數據序列、通道切換模塊(2)切換測量的通道、采樣測量模塊(3)的測量時刻以及外部參考時鐘模塊(5)輸出的參考時鐘序列的周期；

所述數據處理模塊(6)包括獲取單元(6.1)、電平中點值確定單元(6.2)、跳變點時間確定單元(6.3)、總定時準確度確定單元(6.4)；

獲取單元(6.1)用于讀取采樣測量模塊(3)測量到的每個通道的數據序列；

電平中點值確定單元(6.2)采用密度聚類算法對獲取單元(6.1)獲取的每個通道的數據序列進行聚類分析，獲得的兩個簇的中心分別為高電平值和低電平值，高電平值與低電平值的均值即為所述每個通道的電平中點值；

跳變點時間確定單元(6.3)根據所述每個通道的電平中點值確定所述每個通道的數據序列中的跳變點，并確定所述每個通道的數據序列中的第一跳變點到最后一個跳變點經過的半周期個數和時間、第一個數據到第一個跳變點的初始跳變時間，同時根據所述每個通道的數據序列中的第一跳變點到最后一個跳變點經過的半周期個數和時間確定每個半周期跳變點理論時間；

總定時準確度確定單元(6.4)根據所有的所述每個通道的第一個數據、初始跳變時間和每個半周期跳變點理論時間，或者根據所有的所述每個通道的每個半周期跳變點理論時間和每個半周期跳變點實際時間，確定集成電路測試系統的總定時準確度。

2.根據權利要求1所述的一種集成電路測試系統總定時準確度測量裝置，其特征在于，當總定時準確度確定單元(6.4)根據所有的所述每個通道的第一個數據、初始跳變時間和每個半周期跳變點理論時間確定總定時準確度時，總定時準確度確定單元(6.4)以所述每個通道的每個半周期跳變點理論時間為基準合成單個通道的眼圖，再以每個通道的第一個數據為基準、以對應的初始跳變時間為偏移量將所有通道的眼圖合并成一個復合眼圖，所述復合眼圖的水平方向的眼厚即為集成電路測試系統的邊沿置放準確度，邊沿置放準確度的2倍即為總定時準確度。

3.根據權利要求1所述的一種集成電路測試系統總定時準確度測量裝置，其特征在于，當總定時準確度確定單元(6.4)根據所有的所述每個通道的每個半周期跳變點理論時間和每個半周期跳變點實際時間確定總定時準確度時，總定時準確度確定單元(6.4)將所述每個通道的每個半周期跳變點實際時間與對應的每個半周期跳變點理論時間的差值確定為所述每個通道的每個半周期偏移時間，再將所有通道的每個半周期偏移時間中的最大值與最小值之差確定為集成電路測試系統的邊沿置放準確度，邊沿置放準確度的2倍即為總定時準確度。