[發明專利]檢測信號發射設備的發射性能的系統及方法

有效

• 申請號: 201710021405.7
• 申請日: 2017-01-12
• 公開（公告）號: CN106850089B
• 公開（公告）日: 2020-05-19
• 發明（設計）人: 郭超;屈可夫
• 申請（專利權）人: 普聯技術有限公司
• 主分類號: H04B17/15
• 分類號: H04B17/15
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 麥小嬋;郝傳鑫

本發明公開了一種檢測信號發射設備的發射性能的系統，包括：射頻耦合器接收待測的信號發射設備發送的發射信號，對發射信號進行耦合生成耦合信號，輸出耦合信號到射頻開關；控制處理器接收到用戶發送的請求檢測信號發射設備發送的第i路發射信號的請求信號時，根據所述請求信號控制射頻開關切換鏈路，以使第i路發射信號對應的耦合信號傳送至測試儀器；測試儀器從第i路發射信號對應的耦合信號中提取數據包，自動觸發對數據包的檢測，并輸出有效檢測結果。本發明還公開了一種檢測信號發射設備的發射性能的方法。采用本發明實施例，能自動根據用戶選擇的發射設備發射的一路或多路信號進行檢測，無需手動拆裝置拓撲來更換測試通路，實現測試自動化。

技術領域

本發明涉及射頻功率檢測技術領域，尤其涉及一種檢測信號發射設備的發射性能的系統及方法。

背景技術

無線路由器等產品在調試、產測等階段，需要檢測實際發射功率、EVM性能等發射指標。如圖1所示，現有技術提供的測量被測設備DUT處于實際工作狀態時的各種發射指標的方案，具體為，以下圖中的ANT1為例，利用射頻耦合器將ANT1信號分成兩部分，一部分與ANT2、ANT3、ANT4的TX信號經由射頻合路器、固定衰減頭與接收被測設備DUT的信號的接收設備(SUT)跑吞吐量，另一部分送入儀器進行測量；而在測試時，測試人員手動操作測量儀器的(IQXel、WCTS等)抓取數據包，人工讀取數據進行分析。

上述方案存在的以下缺陷：

1、需要不斷手動抓包進行檢測，效率低下；

2、吞吐量通路衰減不可調，僅能檢測DUT協商至最高速率下的發射指標；

3、只能完成一根天線的測試，對于多天線DUT，需要手動拆裝拓撲，更換測試通路方可完成檢測。

發明內容

本發明實施例的目的是提出的一種檢測信號發射設備的發射性能的系統及方法，能自動切換并選擇發射設備的信號通路進行檢測，無需手動拆裝拓撲來更換測試通路，并實現測試儀器的觸發抓包功能，無需手動控制測試儀器。

為實現上述目的，本發明實施例提供一種檢測信號發射設備的發射性能的系統，其特征在于，包括：測試儀器、N個射頻耦合器、射頻合路器、衰減裝置、射頻開關和控制處理器；

所述射頻耦合器，用于接收待測的信號發射設備發送的一路發射信號，對所述發射信號進行耦合生成耦合信號，輸出所述耦合信號到所述射頻開關，還用于傳送所述發射信號給所述射頻合路器；

所述控制處理器，用于接收用戶發送的請求檢測所述信號發射設備發送的第i路發射信號的請求信號時，根據所述請求信號控制所述射頻開關切換鏈路，以使所述第i路發射信號對應的耦合信號傳送至所述測試儀器；N≥i；

所述測試儀器，用于從所述第i路發射信號對應的耦合信號中提取數據包，對所述數據包進行檢測，并輸出檢測結果；

所述射頻合路器，用于對接收所述N個射頻耦合器傳送的所有發射信號進行合并生成合路發射信號，并輸出所述合路發射信號給所述衰減裝置；

所述衰減裝置，用于對所述合路發射信號進行衰減，并傳送衰減后的所述合路發射信號給信號接收設備。

進一步地，所所述衰減裝置為可編程衰減芯片；

所述控制處理器，還用于在測試儀器輸出檢測結果后，根據預設的衰減步進在所述衰減裝置的當前衰減值的基礎上增加所述衰減裝置的衰減值，直至達到所述衰減裝置的最大衰減值；

所述測試儀器，還用于在增加所述衰減裝置的衰減值之后，繼續從所述第i路發射信號對應的耦合信號中提取數據包，對所述數據包進行檢測，并輸出檢測結果，直至所述衰減裝置的衰減值為最大衰減值。

進一步地，所述從所述第i路發射信號對應的耦合信號中提取數據包，對所述數據包進行檢測，并輸出檢測結果，具體為：