[發明專利]檢測信號發射設備的發射性能的系統及方法

有效

• 申請號: 201710021405.7
• 申請日: 2017-01-12
• 公開（公告）號: CN106850089B
• 公開（公告）日: 2020-05-19
• 發明（設計）人: 郭超;屈可夫
• 申請（專利權）人: 普聯技術有限公司
• 主分類號: H04B17/15
• 分類號: H04B17/15
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 麥小嬋;郝傳鑫

1.一種檢測信號發射設備的發射性能的系統，其特征在于，包括：測試儀器、N個射頻耦合器、射頻合路器、衰減裝置、射頻開關和控制處理器；

所述射頻耦合器，用于接收待測的信號發射設備發送的一路發射信號，對所述發射信號進行耦合生成耦合信號，輸出所述耦合信號到所述射頻開關，還用于傳送所述發射信號給所述射頻合路器；

所述控制處理器，用于接收用戶發送的請求檢測所述信號發射設備發送的第i路發射信號的請求信號時，根據所述請求信號控制所述射頻開關切換鏈路，以使所述第i路發射信號對應的耦合信號傳送至所述測試儀器；N≥i；

所述測試儀器，用于從所述第i路發射信號對應的耦合信號中提取數據包，對所述數據包進行檢測，并輸出檢測結果；

所述射頻合路器，用于對接收所述N個射頻耦合器傳送的所有發射信號進行合并生成合路發射信號，并輸出所述合路發射信號給所述衰減裝置；

所述衰減裝置，用于對所述合路發射信號進行衰減，并傳送衰減后的所述合路發射信號給信號接收設備；

所述衰減裝置為可編程衰減芯片；

所述控制處理器，還用于在測試儀器輸出檢測結果后，根據預設的衰減步進在所述衰減裝置的當前衰減值的基礎上增加所述衰減裝置的衰減值，直至達到所述衰減裝置的最大衰減值，遍歷信號發射設備的所有待測速率模式；

所述測試儀器，還用于在增加所述衰減裝置的衰減值之后，繼續從所述第i路發射信號對應的耦合信號中提取數據包，對所述數據包進行檢測，并輸出檢測結果，直至所述衰減裝置的衰減值為最大衰減值。

2.如權利要求1所述的檢測信號發射設備的發射性能的系統，其特征在于，所述從所述第i路發射信號對應的耦合信號中提取數據包，對所述數據包進行檢測，并輸出檢測結果，具體為：

從所述第i路發射信號對應的耦合信號中提取數據包，判斷所述數據包是否為有效包；

若是，對計數值加一；

若否，返回繼續從所述第i路發射信號對應的耦合信號中提取數據包；

判斷所述計數值是否大于計數閾值；

若是，對提取的所有有效包進行檢測，并輸出檢測結果以及對所述計數值清零；

若否，返回繼續從所述第i路發射信號對應的耦合信號中提取數據包。

3.如權利要求1所述的檢測信號發射設備的發射性能的系統，其特征在于，所述控制處理器，還用于設置所述信號發射設備的通信狀態和網卡參數以及所述信號接收設備的網卡參數，以使所述信號發射設備與所述信號接收設備建立網絡連接；還用于在完成所述通信狀態和所述網卡參數的設置后，判斷所述信號發射設備與所述信號接收設備建立網絡連接的時長是否大于時長閾值，并在所述時長大于時長閾值時返回重新設置所述信號發射設備的通信狀態和網卡參數以及所述信號接收設備的網卡參數。

4.如權利要求1所述的檢測信號發射設備的發射性能的系統，其特征在于，所述射頻開關包括輸出端、控制端和N個輸入端；

所述射頻開關的控制端與所述控制處理器連接；

所述N個輸入端與所述N個射頻耦合器的連接，具體為：第i個輸入端與第i個射頻耦合器的耦合端連接；

所述輸出端與所述測試儀器連接。

5.如權利要求1所述的檢測信號發射設備的發射性能的系統，其特征在于，所述控制處理器，包括控制臺和單片機；其中，所述控制臺包括顯示器。