[發明專利]一種測試產品絕緣電阻的測試方法和測試系統

在審

• 申請號: 201710018607.6
• 申請日: 2017-01-10
• 公開（公告）號: CN106771622A
• 公開（公告）日: 2017-05-31
• 發明（設計）人: 梁鋒;曾艷軍;李可;盧凱
• 申請（專利權）人: 深圳順絡電子股份有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02;G01R31/04
• 代理公司: 深圳新創友知識產權代理有限公司44223
• 代理人: 王震宇

技術領域

本發明涉及電子元器件測試，特別是涉及一種測試產品絕緣電阻的測試方法和測試系統。

背景技術

現在，隨著電子信息系統的迅猛發展，各種元器件得到廣泛的應用。其中不少元器件要求其絕緣性能很高，那么這些元器件在生產企業中出廠檢測時多數是通過設備進行自動化測試生產，故在自動化測試過程中勢必會遇到測試端子與產品之間接觸不良的情況發生，導致測試錯誤，從而導致不良品當做良品流出，不能滿足市場對產品性能的要求。

市面上可用于絕緣電阻(Cross IR)測試的測試儀器均是通過檢測線路電容大小的方式來避免接觸不良，然而，這種方式檢測存在兩個最大的弊端：

1.電容檢測的精度范圍受到限制，通常只能檢測到電容量大于等于0.5PF的產品，針對小于此電容量的產品無法使用這種方式來檢查測試端子與產品之間是否存在接觸不良的問題；

2.在實際生產過程中動態狀態下測試產品絕緣電阻，通過檢測電容量的方式來檢查測試端子與產品之間是否存在接觸不良存在弊端，易出現誤檢查，最終導致儀器測試的是空氣的絕緣電阻，影響測試結果的準確性。

發明內容

本發明的主要目的在于克服現有技術的不足，提供一種測試產品絕緣電阻的測試系統、測試方法及測試設備，提高產品的絕緣電阻測試的準確性和可靠性。

為實現上述目的，本發明采用以下技術方案：

一種測試產品絕緣電阻的測試系統，包括：

低阻計，用于通過電流回路測試功能來檢測低阻計的測試端子與待測產品的兩個待測端之間是否接觸良好；

高阻計，用于測量產品的兩個待測端之間的絕緣電阻；

轉換器，所述轉換器連接所述低阻計和所述高阻計，用于切換所述低阻計和所述高阻計擇一進行工作；

控制系統，所述控制系統連接轉換器，所述控制系統先控制所述轉換器切換到所述低阻計對測試端子與待測產品的兩個待測端之間是否接觸良好進行檢測，當檢測到所述低阻計的測試端子與待測產品的兩個待測端之間接觸良好之后，控制所述轉換器切換到所述高阻計，對產品的兩個待測端之間的絕緣電阻進行測量。

進一步地：

所述低阻計為毫歐表。

所述控制系統與所述低阻計之間通過檢測信號反饋通路相連，所述低阻計檢測到低阻計的測試端子與待測產品的兩個待測端之間接觸良好時，將檢測信號反饋到所述控制系統，當所述控制系統判斷反饋的信號結果在預設的合格范圍內時，所述控制系統控制所述轉換器切換到所述高阻計進行工作。

一種使用所述的測試系統測試產品絕緣電阻的測試方法，包括以下步驟：

S1、所述控制系統先控制所述轉換器切換到所述低阻計對測試端子與待測產品的兩個待測端之間是否接觸良好進行檢測；

S2、當所述低阻計檢測到所述低阻計的測試端子與待測產品的兩個待測端之間接觸良好之后，所述控制系統控制所述轉換器切換到所述高阻計以對產品的兩個待測端之間的絕緣電阻進行測量；

S3、所述高阻計測量產品的絕緣電阻值并輸出測試結果。

進一步地：

步驟S2中，所述控制系統接收所述低阻計通過檢測信號反饋通路反饋的檢測信號，判斷所述低阻計的測試端子與待測產品的兩個待測端之間是否接觸良好，是則控制所述轉換器切換到所述高阻計再進入步驟S3，否則不切換到所述高阻計。

步驟S1中，用所述低阻計的兩對測試端子分別在待測產品的兩個待測端上進行電流回路測試。

一種測試產品絕緣電阻的測試設備，包括：

低阻測量模塊，用于通過電流回路測試功能來檢測低阻測量模塊的測試端子與待測產品的兩個待測端之間是否接觸良好；

高阻測量模塊，用于測量產品的兩個待測端之間的絕緣電阻；

轉換器，所述轉換器連接所述低阻測量模塊和所述高阻測量模塊，用于切換所述低阻測量模塊和所述高阻測量模塊擇一進行工作；

控制模塊，所述控制模塊連接轉換器，所述控制模塊先控制所述轉換器切換到所述低阻測量模塊對測試端子與待測產品的兩個待測端之間是否接觸良好進行檢測，當檢測到所述低阻測量模塊的測試端子與待測產品的兩個待測端之間接觸良好之后，控制所述轉換器切換到所述高阻測量模塊，對產品的兩個待測端之間的絕緣電阻進行測量。

進一步地：

所述低阻測量模塊為能夠測毫歐級電阻的測量模塊。