[發明專利]一種測試產品絕緣電阻的測試方法和測試系統

在審

• 申請號: 201710018607.6
• 申請日: 2017-01-10
• 公開（公告）號: CN106771622A
• 公開（公告）日: 2017-05-31
• 發明（設計）人: 梁鋒;曾艷軍;李可;盧凱
• 申請（專利權）人: 深圳順絡電子股份有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02;G01R31/04
• 代理公司: 深圳新創友知識產權代理有限公司44223
• 代理人: 王震宇

1.一種測試產品絕緣電阻的測試系統，其特征在于,包括：

低阻計，用于通過電流回路測試功能來檢測低阻計的測試端子與待測產品的兩個待測端之間是否接觸良好；

高阻計，用于測量產品的兩個待測端之間的絕緣電阻；

轉換器，所述轉換器連接所述低阻計和所述高阻計，用于切換所述低阻計和所述高阻計擇一進行工作；

控制系統，所述控制系統連接轉換器，所述控制系統先控制所述轉換器切換到所述低阻計對測試端子與待測產品的兩個待測端之間是否接觸良好進行檢測，當檢測到所述低阻計的測試端子與待測產品的兩個待測端之間接觸良好之后，控制所述轉換器切換到所述高阻計，對產品的兩個待測端之間的絕緣電阻進行測量。

2.如權利要求1所述測試系統，其特征在于,所述低阻計為毫歐表。

3.如權利要求1所述測試系統，其特征在于,所述控制系統與所述低阻計之間通過檢測信號反饋通路相連，所述低阻計檢測到低阻計的測試端子與待測產品的兩個待測端之間接觸良好時，將檢測信號反饋到所述控制系統，當所述控制系統判斷反饋的信號結果在預設的合格范圍內時，所述控制系統控制所述轉換器切換到所述高阻計進行工作。

4.一種使用權利要求1至3任一項所述的測試系統測試產品絕緣電阻的測試方法，其特征在于,包括以下步驟：

S1、所述控制系統先控制所述轉換器切換到所述低阻計對測試端子與待測產品的兩個待測端之間是否接觸良好進行檢測；

S2、當所述低阻計檢測到所述低阻計的測試端子與待測產品的兩個待測端之間接觸良好之后，所述控制系統控制所述轉換器切換到所述高阻計以對產品的兩個待測端之間的絕緣電阻進行測量；

S3、所述高阻計測量產品的絕緣電阻值并輸出測試結果。

5.如權利要求4所述測試系統，其特征在于,步驟S2中，所述控制系統接收所述低阻計通過檢測信號反饋通路反饋的檢測信號，判斷所述低阻計的測試端子與待測產品的兩個待測端之間是否接觸良好，是則控制所述轉換器切換到所述高阻計再進入步驟S3，否則不切換到所述高阻計。

6.如權利要求4或5所述測試系統，其特征在于,步驟S1中，用所述低阻計的兩對測試端子分別在待測產品的兩個待測端上進行電流回路測試。

7.一種測試產品絕緣電阻的測試設備，其特征在于,包括：

低阻測量模塊，用于通過電流回路測試功能來檢測低阻測量模塊的測試端子與待測產品的兩個待測端之間是否接觸良好；

高阻測量模塊，用于測量產品的兩個待測端之間的絕緣電阻；

轉換器，所述轉換器連接所述低阻測量模塊和所述高阻測量模塊，用于切換所述低阻測量模塊和所述高阻測量模塊擇一進行工作；

控制模塊，所述控制模塊連接轉換器，所述控制模塊先控制所述轉換器切換到所述低阻測量模塊對測試端子與待測產品的兩個待測端之間是否接觸良好進行檢測，當檢測到所述低阻測量模塊的測試端子與待測產品的兩個待測端之間接觸良好之后，控制所述轉換器切換到所述高阻測量模塊，對產品的兩個待測端之間的絕緣電阻進行測量。

8.如權利要求7所述測試設備，其特征在于,所述低阻測量模塊為能夠測毫歐級電阻的測量模塊。

9.如權利要求7或8所述測試設備，其特征在于,所述控制模塊與所述低阻測量模塊之間通過檢測信號反饋通路相連，所述低阻測量模塊檢測到低阻測量模塊的測試端子與待測產品的兩個待測端之間接觸良好時，將檢測信號反饋到所述控制模塊，當所述控制模塊判斷反饋的信號結果在預設的合格范圍內時，所述控制模塊控制所述轉換器切換到所述高阻測量模塊進行工作。

10.如權利要求7至9任一項所述測試設備，其特征在于,所述低阻測量模塊、所述高阻測量模塊、所述轉換器和所述控制模塊集成在一個設備殼體內并通過對應的信號線相連，所述低阻測量模塊和所述高阻測量模塊的測試端子引出到所述設備殼體外。