[發明專利]一種熱成像鏡頭軸外響應的檢測裝置及檢測方法

有效

• 申請號: 201710010979.4
• 申請日: 2017-01-06
• 公開（公告）號: CN106768365B
• 公開（公告）日: 2019-07-23
• 發明（設計）人: 陳惠廣;任和齊
• 申請（專利權）人: 寧波舜宇紅外技術有限公司
• 主分類號: G01J5/00
• 分類號: G01J5/00
• 代理公司: 上海申新律師事務所 31272
• 代理人: 俞滌炯

本發明公開了一種熱成像鏡頭軸外響應的檢測裝置及檢測方法，屬于光學鏡頭技術領域；裝置包括按序排列的紅外光源、透光通孔、準直擴束鏡、標準衰減片、紅外探測器以及控制裝置；方法包括將各部件調整為中心同高且同軸；將熱成像鏡頭和紅外探測器之間調整至并計為第一能量值；去除標準衰減片；將紅外探測器旋轉至一預設位置，以使透光通孔在紅外探測器上形成的像移出至紅外探測器的邊緣；測量得到紅外探測器內數值最高的能量并計為第二能量值；處理得到熱成像鏡頭的軸外響應值。上述技術方案的有益效果是：實現熱成像鏡頭的軸外響應測試，提高軸外響應的測量精度，并且測量裝置搭建簡單、測量速度較快。

技術領域

本發明涉及光學鏡頭技術領域，尤其涉及一種熱成像鏡頭軸外響應的檢測裝置及檢測方法。

背景技術

隨著非制冷探測器技術的成熟，長波紅外非制冷光學系統得到越來越廣泛的應用。一般的熱成像鏡頭的成像質量除了由調制傳遞函數(Modulation Transfer Function，MTF)等設計指標決定之外，還有一項重要的決定因素就是雜光輻射。

所謂雜光輻射，是指在光學系統中，除了目標光線外，擴散于探測器表面的其他非目標光線能量以及經過非正常光路到達探測器的目標光線能量。雜光輻射會導致像面上的輻照度不均勻，像面上的物體和背景的對比度和信噪比降低，從而造成熱成像系統的靈敏度下降。而軸外響應是雜光輻射中的一種，其主要指目標光線之外經過非正常光路到達探測器的目標光線能量。

在可見光領域，鏡頭的軸外響應的檢測手段和抑制方法較多也較為成熟。但是在熱成像鏡頭的軸外響應的檢測方面卻缺乏成熟的檢測方法和檢測裝置。

發明內容

根據現有技術中存在的上述問題，現提供一種熱成像鏡頭軸外響應的檢測裝置及檢測方法的技術方案，旨在實現熱成像鏡頭的軸外響應測試，提高軸外響應的測量精度。

上述技術方案具體包括：

一種熱成像鏡頭軸外響應的檢測裝置，其中，包括按序排列的紅外光源、透光通孔、準直擴束鏡、標準衰減片、紅外探測器以及控制裝置；

所述準直擴束鏡設置在一第一調整架上；

所述紅外探測器固定設置在一第二調整架上，所述第二調整架固定設置在一位置控制器上；

所述控制裝置分別連接所述紅外探測器和所述位置控制器；

所述控制裝置用于控制所述紅外探測器成像，并將所述紅外探測器的成像圖像顯示在所述控制裝置的顯示屏上；以及

所述控制裝置還用于控制所述位置控制器的旋轉位置，從而通過所述位置控制器和所述第二調整架控制所述紅外探測器的旋轉位置；

所述檢測裝置具有一可調整的第一工作狀態，于所述第一工作狀態下：

將所述熱成像鏡頭設置在所述標準衰減片與所述紅外探測器之間，并將所述熱成像鏡頭與所述紅外探測器連接；

所述紅外光源、所述透光通孔、所述準直擴束鏡、所述標準衰減片、所述熱成像鏡頭和所述紅外探測器的中心同高且同軸；

所述熱成像鏡頭和所述紅外探測器之間成一相對位置，以使所述紅外探測器對所述透光通孔成清晰像；

于所述第一工作狀態下，所述控制裝置還用于測量所述透光通孔的中心位置的能量，并計為第一能量值；

所述檢測裝置還具有一可調整的第二工作狀態，于所述第二工作狀態下：

將所述熱成像鏡頭設置在所述標準衰減片與所述紅外探測器之間，并將所述熱成像鏡頭與所述紅外探測器連接；

所述紅外光源、所述透光通孔、所述準直擴束鏡、所述熱成像鏡頭和所述紅外探測器的中心同高且同軸，所述標準衰減片被移去；