[發明專利]一種熱成像鏡頭軸外響應的檢測裝置及檢測方法

有效

• 申請號: 201710010979.4
• 申請日: 2017-01-06
• 公開（公告）號: CN106768365B
• 公開（公告）日: 2019-07-23
• 發明（設計）人: 陳惠廣;任和齊
• 申請（專利權）人: 寧波舜宇紅外技術有限公司
• 主分類號: G01J5/00
• 分類號: G01J5/00
• 代理公司: 上海申新律師事務所 31272
• 代理人: 俞滌炯

1.一種熱成像鏡頭軸外響應的檢測裝置，其特征在于，包括按序排列的紅外光源、透光通孔、準直擴束鏡、標準衰減片、紅外探測器以及控制裝置；

所述準直擴束鏡設置在一第一調整架上；

所述紅外探測器固定設置在一第二調整架上，所述第二調整架固定設置在一位置控制器上；

所述控制裝置分別連接所述紅外探測器和所述位置控制器；

所述控制裝置用于控制所述紅外探測器成像，并將所述紅外探測器的成像圖像顯示在所述控制裝置的顯示屏上；以及

所述控制裝置還用于控制所述位置控制器的旋轉位置，從而通過所述位置控制器和所述第二調整架控制所述紅外探測器的旋轉位置；

所述檢測裝置具有一可調整的第一工作狀態，于所述第一工作狀態下：

將所述熱成像鏡頭設置在所述標準衰減片與所述紅外探測器之間，并將所述熱成像鏡頭與所述紅外探測器連接；

所述紅外光源、所述透光通孔、所述準直擴束鏡、所述標準衰減片、所述熱成像鏡頭和所述紅外探測器的中心同高且同軸；

所述熱成像鏡頭和所述紅外探測器之間成一相對位置，以使所述紅外探測器對所述透光通孔成清晰像；

于所述第一工作狀態下，所述控制裝置還用于測量所述透光通孔的中心位置的能量，并計為第一能量值；

所述檢測裝置還具有一可調整的第二工作狀態，于所述第二工作狀態下：

將所述熱成像鏡頭設置在所述標準衰減片與所述紅外探測器之間，并將所述熱成像鏡頭與所述紅外探測器連接；

所述紅外光源、所述透光通孔、所述準直擴束鏡、所述熱成像鏡頭和所述紅外探測器的中心同高且同軸，所述標準衰減片被移去；

所述控制裝置控制所述位置控制器，以將所述紅外探測器旋轉至一預設位置，于所述預設位置上，所述透光通孔在所述紅外探測器上形成的像移出至所述紅外探測器的邊緣；

于所述第二工作狀態下，所述控制裝置還用于測量所述紅外探測器內數值最高的能量，并計為第二能量值；

所述控制裝置依照所述第一能量值、所述第二能量值以及所述標準衰減片的衰減率處理得到所述熱成像鏡頭的軸外響應值。

2.如權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于，所述控制裝置依照下述公式處理得到所述軸外響應值：

其中，

F表示所述軸外響應值；

a表示所述標準衰減片的衰減率；

E₀表示所述第一能量值；

E₁表示所述第二能量值。

3.如權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于，所述第一調整架為四維可調的調整架。

4.如權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于，所述第二調整架為三維可調的調整架。

5.如權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于，所述標準衰減片為中性衰減片。

6.如權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于，所述紅外探測器為凝視焦平面探測器。

7.如權利要求6所述的檢測裝置，其特征在于，所述紅外探測器為工作波段為8-12μm的長波非制冷探測器。