[發明專利]一種精密測量多功能實驗臺

在審

• 申請號: 201710000591.6
• 申請日: 2017-01-03
• 公開（公告）號: CN107063148A
• 公開（公告）日: 2017-08-18
• 發明（設計）人: 查卿
• 申請（專利權）人: 中國科學院蘇州生物醫學工程技術研究所
• 主分類號: G01B21/00
• 分類號: G01B21/00;G01N21/84
• 代理公司: 南京經緯專利商標代理有限公司32200
• 代理人: 曹毅

技術領域

本發明涉及一種實驗平臺，具體涉及一種精密測量多功能實驗臺。

背景技術

在實驗室精密測量中，三坐標測量機顯得大材小用，浪費資金，大型氣浮平臺又沒有相關移動部件，所以需要一套結構簡單、操作方便、方便裝拆的能夠靈活應用與多種場合的小型多功能實驗臺，既能夠滿足零部件的檢測、試驗和裝調，又進行機械或者光學，接觸式或者非接觸式的各種檢測。例如用百分表或千分表來檢測零件的形位精度；用電容位移傳感器或電感傳感器來測量機構運動的精度；在零部件裝調過程中，檢測部件裝配的配合精度等。本發明的精密測量多功能實驗臺采用上述模塊結構，其結構簡單，易操作，方便裝拆，既可以作為零部件檢測的操作臺，也可以作為機構試驗的實驗臺，又可以作為小型機器的裝調平臺。

發明內容

本發明的目的在于克服現有技術存在的問題，提供一種精密測量多功能實驗臺。

為實現上述技術目的，達到上述技術效果，本發明通過以下技術方案實現：

一種精密測量多功能實驗臺，該實驗臺包括刮研平板，所述刮研平板上設有相互垂直的兩個研磨導軌，所述研磨導軌上滑動地設有導軌滑塊，所述導軌滑塊上吸附有磁性表座，所述磁性表座上設有表頭，所述刮研平板正面設有均布的陣列孔，刮研平板背面設有調平地腳。

進一步的，所述刮研平板為雙零級筋式刮研平臺。

進一步的，所述表頭為千分表、百分表外或傳感器探頭，用于測量和微調。

進一步的，所述陣列孔對刮研平板正面劃分形成零部件安裝區域、驅動裝置安裝區域、測量裝置安裝區域和定位裝置安裝區域。

進一步的，所述調平地腳為錐底螺桿調平地腳。

本發明的有益效果是:

本發明多功能實驗臺在柔性鉸鏈檢測、精密光學狹縫實驗、試管噴碼系統實驗及計量泵和蠕動泵裝調測試中都能取得良好的效果，并且可以進一步擴展功能，將滑動臺改成電動直線運動單元，可以進行更快速和準確的調整；配合CCD或顯微鏡可以進行零部件表面檢測等，因此該實驗平臺在科研和工程中，用途非常廣泛。

附圖說明

圖1是本發明的俯視圖；

圖2是本發明的側視圖。

圖中標號說明：1、研磨導軌，2、導軌滑塊，3、磁性表座，4、刮研平板，5、陣列孔，6、表頭，7、調平地腳。

具體實施方式

下面將參考附圖并結合實施例，來詳細說明本發明。

參照圖1和圖2所示，一種精密測量多功能實驗臺，該實驗臺包括刮研平板4，所述刮研平板4上設有相互垂直的兩個研磨導軌1，所述研磨導軌1上滑動地設有導軌滑塊2，所述導軌滑塊2上吸附有磁性表座3，所述磁性表座3上設有表頭6，所述刮研平板4正面設有均布的陣列孔5，刮研平板4背面設有調平地腳7。

所述刮研平板4為雙零級筋式刮研平臺。

所述表頭6為千分表、百分表外或傳感器探頭，用于測量和微調。

所述陣列孔5對刮研平板4正面劃分形成零部件安裝區域、驅動裝置安裝區域、測量裝置安裝區域和定位裝置安裝區域。

所述調平地腳7為錐底螺桿調平地腳。

本發明安裝時，先將調平地腳7放置在基面上，將刮研平板4放在調平地腳7上，用水平儀調整刮研平板4的各個位置的水平度；再將一根研磨導軌1及相應的導軌滑塊2組合安裝在刮研平板4一邊，采用螺釘緊固，以該研磨導軌1為基準，安裝對應的直角尺，在導軌滑塊2上吸附上磁性表座3，在磁性表座3上裝上表頭6，表頭6打在直角尺邊上，使直角尺的一邊與預先安裝好的研磨導軌1盡量平行；然后以直角尺的另一邊為基準，安裝第二根研磨導軌1并使其與第一根研磨導軌1相垂直，即采用同樣的方法，使第二根根研磨導軌1與直角尺的另一邊盡量平行；最后調整好后，移除直角尺；使用前用無腐蝕性汽油，將刮研平板4工作面的防銹油洗凈，并用脫脂棉紗擦拭干凈；將零部件安裝在刮研平板4上面相應的檢測區，將傳感器安裝在磁性表座3上，即可進行裝調檢測試驗等；用完后擦凈，涂無水酸性的防銹油，覆蓋防潮紙，置于清潔干燥處存放。

以上所述僅為本發明的優選實施例而已，并不用于限制本發明，對于本領域的技術人員來說，本發明可以有各種更改和變化。凡在本發明的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發明的保護范圍之內。