[發(fā)明專利]一種精密測(cè)量多功能實(shí)驗(yàn)臺(tái)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710000591.6
• 申請(qǐng)日: 2017-01-03
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN107063148A
• 公開(kāi)（公告）日: 2017-08-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 查卿
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)科學(xué)院蘇州生物醫(yī)學(xué)工程技術(shù)研究所
• 主分類號(hào): G01B21/00
• 分類號(hào): G01B21/00;G01N21/84
• 代理公司: 南京經(jīng)緯專利商標(biāo)代理有限公司32200
• 代理人: 曹毅

1.一種精密測(cè)量多功能實(shí)驗(yàn)臺(tái)，其特征在于，該實(shí)驗(yàn)臺(tái)包括刮研平板（4），所述刮研平板（4）上設(shè)有相互垂直的兩個(gè)研磨導(dǎo)軌（1），所述研磨導(dǎo)軌（1）上滑動(dòng)地設(shè)有導(dǎo)軌滑塊（2），所述導(dǎo)軌滑塊（2）上吸附有磁性表座（3），所述磁性表座（3）上設(shè)有表頭（6），所述刮研平板（4）正面設(shè)有均布的陣列孔（5），刮研平板（4）背面設(shè)有調(diào)平地腳（7）。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的精密測(cè)量多功能實(shí)驗(yàn)臺(tái)，其特征在于，所述刮研平板（4）為雙零級(jí)筋式刮研平臺(tái)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的精密測(cè)量多功能實(shí)驗(yàn)臺(tái)，其特征在于，所述表頭（6）為千分表、百分表外或傳感器探頭，用于測(cè)量和微調(diào)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的精密測(cè)量多功能實(shí)驗(yàn)臺(tái)，其特征在于，所述陣列孔（5）對(duì)刮研平板（4）正面劃分形成零部件安裝區(qū)域、驅(qū)動(dòng)裝置安裝區(qū)域、測(cè)量裝置安裝區(qū)域和定位裝置安裝區(qū)域。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的精密測(cè)量多功能實(shí)驗(yàn)臺(tái)，其特征在于，所述調(diào)平地腳（7）為錐底螺桿調(diào)平地腳。