[發明專利]同位素的電參數

在審

• 申請號: 201680090613.6
• 申請日: 2016-10-31
• 公開（公告）號: CN109964133A
• 公開（公告）日: 2019-07-02
• 發明（設計）人: P·H·馬祖爾基維茨;葛寧;H·A·霍爾德
• 申請（專利權）人: 惠普發展公司;有限責任合伙企業
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G04F1/02
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 劉書航;陳嵐

1.一種器件，包括：

同位素部分，包括具有至少一種同位素的材料；

反應控制部分，用以引起包括所述至少一種同位素的化學反應；以及

電參數部分，用以測量電參數上的改變以確定具有所述至少一種同位素的材料的量上的改變，電參數基于化學反應而改變。

2.如權利要求1所述的器件，化學反應是具有所述至少一種同位素的材料的氧化。

3.如權利要求2所述的器件，其中反應控制部用來擇性地引起氧化或者使氧化還原。

4.如權利要求1所述的器件，其中電參數是與具有所述至少一種同位素的材料相關聯的阻抗值。

5.如權利要求4所述的器件，其中電參數部分用來測量用以將阻抗值改變預先確定的量的電流和/或時間。

6.如權利要求1所述的器件，其中所述至少一種同位素包括兩種同位素，并且其中電參數與所述兩種同位素的比率相關聯。

7.如權利要求1所述的器件，進一步包括存儲器控制器，其中存儲器控制器用來訪問電參數部分以基于所確定的在電參數上的改變來執行讀取操作。

8.一種方法，包括：

測量與衰變同位素相關聯的電參數，電參數被用于確定衰變同位素的當前水平；

將所確定的衰變同位素的當前水平與衰變同位素的對應于參考時間的參考水平進行比較；以及

基于所確定的當前水平、參考水平和與衰變同位素相關聯的半衰期來計算自參考時間起經過的時間。

9.如權利要求8所述的方法，其中參考時間指示器件的與衰變同位素相關聯的初始化。

10.如權利要求9所述的方法，其中經過的時間被用于確定器件的與衰變同位素相關聯的保修狀態。

11.如權利要求8所述的方法，其中電參數是與衰變同位素相關聯的阻抗值。

12.一種利用由計算系統的處理器可執行的指令編碼的非暫態計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質包括用于如下的指令：

引起包括至少一種同位素的材料的化學反應；

測量電參數以確定包括所述至少一種同位素的材料的量，電參數是基于化學反應的；以及

計算所述至少一種同位素的同位素水平和/或比率。

13.如權利要求12所述的非暫態計算機可讀存儲介質，其中化學反應是包括所述至少一種同位素的材料的氧化。

14.如權利要求12所述的非暫態計算機可讀存儲介質，其中用以引起化學反應的指令包括用以選擇性地引起氧化或者使氧化還原的指令。

15.如權利要求12所述的非暫態計算機可讀存儲介質，其中電參數是與包括所述至少一種同位素的材料相關聯的阻抗值。