[發(fā)明專利]檢查輔助設(shè)備、檢查輔助方法和程序有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201680090068.0 | 申請(qǐng)日: | 2016-10-19 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109906372B | 公開(公告)日: | 2021-11-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 立石浩毅;田中亮;西尾忠邦;齋藤一郎 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 三菱動(dòng)力株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G01N21/84 | 分類號(hào): | G01N21/84;F01D25/00 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 莊錦軍 |
| 地址: | 日本國(guó)*** | 國(guó)省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 檢查 輔助 設(shè)備 方法 程序 | ||
本檢查輔助設(shè)備包括:損傷繪圖輸入單元,用于接收損傷繪圖的輸入,所述損傷繪圖是表示檢查對(duì)象的損傷的繪圖;顯示單元,用于重疊顯示損傷繪圖和對(duì)象圖形,該對(duì)象圖形圖示檢查對(duì)象;以及記錄單元,用于與對(duì)象圖形相關(guān)聯(lián)地并且與對(duì)象圖形分開地記錄所輸入的損傷繪圖。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種檢查輔助設(shè)備、檢查輔助方法和程序。
背景技術(shù)
現(xiàn)已提出了各種技術(shù)來輔助檢查工廠設(shè)施的維護(hù)和檢修。例如,專利文獻(xiàn)1公開了一種檢查和修復(fù)輔助設(shè)備,該設(shè)備用于生成信息,以關(guān)聯(lián)地顯示受損部分與修復(fù)措施。為了獲取客戶對(duì)修復(fù)的認(rèn)可,檢查和修復(fù)輔助設(shè)備生成信息并將其發(fā)送到客戶終端。
專利文獻(xiàn)2公開了一種檢查記錄設(shè)備,該設(shè)備使用顯示器和檢測(cè)器,該顯示器配置為顯示與損傷情況有關(guān)的信息,該檢測(cè)器配置為檢測(cè)施加于在顯示器上顯示的與損傷情況有關(guān)的信息的操作。另外,當(dāng)檢測(cè)器檢測(cè)到該操作時(shí),修改部分改變與損傷情況有關(guān)的信息的顯示狀態(tài)。根據(jù)專利文獻(xiàn)2所公開的檢查記錄設(shè)備,可以預(yù)防檢查任務(wù)未能對(duì)檢查加以確認(rèn)。
專利文獻(xiàn)3公開了一種用于輔助在檢查任務(wù)中做出應(yīng)對(duì)措施的檢查輔助系統(tǒng)。檢查輔助設(shè)備被設(shè)計(jì)成從檢查終端設(shè)備獲得被檢查對(duì)象的圖像,從圖像中檢測(cè)出不一致部分,并由此確定是否需要對(duì)不一致部分采取應(yīng)對(duì)措施。隨后,基于需要采取應(yīng)對(duì)措施的不一致部分的圖像,檢查輔助設(shè)備搜索應(yīng)對(duì)措施的候選,從而將確定結(jié)果輸出到檢查終端設(shè)備,該確定結(jié)果與修復(fù)措施的候選和是否存在更換不一致部分的建議有關(guān)。
專利文獻(xiàn)4公開了一種具有顯示器的檢查輔助設(shè)備,該顯示器配置為基于存儲(chǔ)在存儲(chǔ)單元上的數(shù)據(jù),顯示與被檢查部件的形狀重疊的劃分區(qū)域(這些區(qū)域通過對(duì)被檢查部件的形狀進(jìn)行劃分而產(chǎn)生)。另外,輸入部分接收在顯示器上顯示的圖像的位置信息的輸入操作。根據(jù)專利文獻(xiàn)4中公開的檢查輔助設(shè)備,顯示對(duì)被檢查部件的形狀進(jìn)行劃分的區(qū)域,用戶可以容易地掌握?qǐng)D像中的位置,從而可以減少因?yàn)閷?shí)際損傷與用戶所輸入的損傷信息之間的差異而導(dǎo)致的用戶判斷錯(cuò)誤。
專利文獻(xiàn)5公開了一種具有損傷數(shù)據(jù)獲取部分的修復(fù)任務(wù)輔助設(shè)備,該損傷數(shù)據(jù)獲取部分配置為獲取損傷數(shù)據(jù),而損傷數(shù)據(jù)表示損傷的損傷類型、待測(cè)量的損傷的目標(biāo)和測(cè)量值之間的相關(guān)性。整體評(píng)估值計(jì)算部分全面地評(píng)估損傷類型相同的損傷的測(cè)量值,進(jìn)而計(jì)算出整體評(píng)估值。隨后,修復(fù)策略確定部分通過將整體評(píng)估值與修復(fù)參考數(shù)據(jù)進(jìn)行比較來確定修復(fù)策略。根據(jù)專利文獻(xiàn)5中公開的修復(fù)任務(wù)輔助設(shè)備,可以借助于對(duì)多個(gè)損傷進(jìn)行的整體評(píng)估來給出適當(dāng)?shù)男迯?fù)措施策略。
引用列表
專利文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)1:日本專利第5822555號(hào)
專利文獻(xiàn)2:日本專利申請(qǐng)公開第2015-78964號(hào)
專利文獻(xiàn)3:日本專利申請(qǐng)公開第2014-149583號(hào)
專利文獻(xiàn)4:日本專利申請(qǐng)公開第2014-182113號(hào)
專利文獻(xiàn)5:日本專利申請(qǐng)公開第2014-174891號(hào)
發(fā)明內(nèi)容
技術(shù)問題
有時(shí),可能需要對(duì)用于輔助檢查的檢查輔助設(shè)備的通信量進(jìn)行控制,這種檢查輔助設(shè)備是配置成與服務(wù)器設(shè)備進(jìn)行通信的移動(dòng)終端設(shè)備。通過控制檢查輔助設(shè)備的通信量,可以控制通信頻帶的抑制,因而可以減少檢查輔助設(shè)備的處理時(shí)間和處理負(fù)荷。
本發(fā)明的目的在于提供一種配置為在通過與服務(wù)器設(shè)備通信來輔助檢查時(shí)對(duì)通信量進(jìn)行控制的檢查輔助設(shè)備、檢查輔助方法和程序。
問題的解決方案
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 傳感設(shè)備、檢索設(shè)備和中繼設(shè)備
- 簽名設(shè)備、檢驗(yàn)設(shè)備、驗(yàn)證設(shè)備、加密設(shè)備及解密設(shè)備
- 色彩調(diào)整設(shè)備、顯示設(shè)備、打印設(shè)備、圖像處理設(shè)備
- 驅(qū)動(dòng)設(shè)備、定影設(shè)備和成像設(shè)備
- 發(fā)送設(shè)備、中繼設(shè)備和接收設(shè)備
- 定點(diǎn)設(shè)備、接口設(shè)備和顯示設(shè)備
- 傳輸設(shè)備、DP源設(shè)備、接收設(shè)備以及DP接受設(shè)備
- 設(shè)備綁定方法、設(shè)備、終端設(shè)備以及網(wǎng)絡(luò)側(cè)設(shè)備
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