[發明專利]用于確定X射線檢測器錯位的方法

有效

• 申請號: 201680086486.2
• 申請日: 2016-06-12
• 公開（公告）號: CN109414231B
• 公開（公告）日: 2023-03-03
• 發明（設計）人: 曹培炎;劉雨潤
• 申請（專利權）人: 深圳幀觀德芯科技有限公司
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00
• 代理公司: 深圳市六加知識產權代理有限公司 44372
• 代理人: 羅水江

本文公開了一種方法，包括：在第一X射線檢測器(110，410，510，610，710，810，1010，1110)和第二X射線檢測器(120，420，520，620，720，820，1020，1120)錯位時從第一X射線檢測器(110，410，510，610，710，810，1010，1110)獲得第三圖像(410B，510B，610B，710B，820B，921)；在第一和第二檢測器錯位時，基于第一圖像(410A，510A，610A，710A，820A，911)與第三圖像(410B，510B，610B，710B，820B，921)之間的移位確定第一X射線檢測器(110，410，510，610，710，810，1010，1110)與第二X射線檢測器(120，420，520，620，720，820，1020，1120)之間的錯位；其中第一圖像(410A，510A，610A，710A，820A，911)是如果第一和所述第二檢測器對準則第一X射線檢測器(110，410，510，610，710，810，1010，1110)應捕捉的圖像。

【技術領域】

本公開內容涉及X射線檢測器，特別涉及用于確定X射線檢測器錯位的方法。

【背景技術】

X射線檢測器可以是用于測量X射線的通量、空間分布、光譜或其他性質的設備。

X射線檢測器可用于許多應用。一個重要應用是成像。X射線成像是放射攝影技術，可以用于揭示組成不均勻和不透明物體(例如人體)的內部結構。

早期用于成像的X射線檢測器包括照相底片和照相膠片。照相底片可以是具有感光乳劑涂層的玻璃底片。盡管照相底片被照相膠片取代，由于它們所提供的優越品質和它們的極端穩定性而仍可在特殊情形中使用它們。照相膠片可以是具有感光乳劑涂層的塑膠膠片(例如，帶或片)。

在20世紀80年代，出現了光激勵螢光板(PSP板)。PSP板可包含在它的晶格中具有色心的螢光材料。在將PSP板暴露于X射線時，X射線激發的電子被困在色心中直到它們受到在板表面上掃描的激光光束的激勵。在激光掃描板時，捕獲的激發電子發出光，其被光電倍增管收集。所收集的光轉換成數字圖像。與照相底片和照相膠片相比，PSP可以被重復使用。

另一種X射線檢測器是X射線圖像增強器。X射線圖像增強器的部件通常在真空中密封。與照相底片、照相膠片和PSP板相比，X射線圖像增強器可產生即時圖像，即不需要曝光后處理來產生圖像。X射線首先撞擊輸入螢光體(例如，碘化銫)，并被轉換成可見光。可見光然后撞擊光電陰極(例如，包含銫和銻復合物的薄金屬層)，并促使電子發射。發射電子數量與入射X射線的強度成比例。發射電子通過電子光學器件投射到輸出螢光體上，并促使該輸出螢光體產生可見光圖像。

閃爍體的操作與X射線圖像增強器有些類似之處在于，閃爍體(例如，碘化鈉)吸收X射線并且發射可見光，其然后可以被適用于可見光的圖像感測器檢測到。在閃爍體中，可見光在各個方向上傳播和散射，從而降低了空間解析度。使閃爍體厚度減少有助于提高空間解析度但也減少X射線吸收。閃爍體從而必須在吸收效率與解析度之間達成妥協。

半導體X射線檢測器通過將X射線直接轉換成電信號而在很大程度上克服該問題。半導體X射線檢測器可包括半導體層，其在感興趣波長吸收X射線。當在半導體層中吸收X射線光子時，產生多個載流子(例如，電子和空穴)，并且在朝向半導體層上的電觸點的電場下掃過它們。當前可用半導體X射線檢測器(例如，Medipix)中需要的繁瑣的熱管理可能使得具有大面積和大量像素的檢測器難以生產或不可能生產。

【發明內容】

本文公開了這樣的方法，其包括：在第一X射線檢測器和第二X射線檢測器錯位時從第一X射線檢測器獲得第三圖像；基于第一圖像與第三圖像之間的移位元確定第一X射線檢測器與第二X射線檢測器之間的錯位；其中第一圖像是如果第一檢測器和第二檢測器對準則第一X射線檢測器應捕捉的圖像。