[發明專利]用于確定X射線檢測器錯位的方法

有效

• 申請號: 201680086486.2
• 申請日: 2016-06-12
• 公開（公告）號: CN109414231B
• 公開（公告）日: 2023-03-03
• 發明（設計）人: 曹培炎;劉雨潤
• 申請（專利權）人: 深圳幀觀德芯科技有限公司
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00
• 代理公司: 深圳市六加知識產權代理有限公司 44372
• 代理人: 羅水江

1.一種用于確定X射線檢測器錯位的方法，包括：

在第一X射線檢測器和第二X射線檢測器錯位時從所述第一X射線檢測器獲得第三圖像；

基于第一圖像與所述第三圖像之間的移位確定所述第一X射線檢測器與所述第二X射線檢測器之間的錯位；

其中，所述第一圖像是如果所述第一X射線檢測器和所述第二X射線檢測器對準則所述第一X射線檢測器應捕捉的圖像；

其中，該方法進一步包括：

在所述第一X射線檢測器和所述第二X射線檢測器錯位時從所述第二X射線檢測器獲得第四圖像；

其中，所述錯位的確定進一步基于第二圖像與所述第四圖像之間的移位；

其中，所述第二圖像是如果所述第一X射線檢測器和所述第二X射線檢測器對準則所述第二X射線檢測器應捕捉的圖像。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述第一X射線檢測器和所述第二X射線檢測器堆疊。

3.根據權利要求2所述的方法，其中，所述第一圖像和所述第三圖像由引導到所述第一X射線檢測器的X射線束形成。

4.根據權利要求3所述的方法，其中，所述X射線束的一部分被所述第一X射線檢測器吸收并且所述X射線束的另一部分經過所述第一X射線檢測器。

5.根據權利要求2所述的方法，其中，所述第一圖像和所述第三圖像由X射線場景形成。

6.根據權利要求2所述的方法，其中，所述第一圖像和所述第三圖像是所述第二X射線檢測器的一個或多個結構的圖像。

7.根據權利要求6所述的方法，其中，所述一個或多個結構是像素之間的間隙。

8.根據權利要求6所述的方法，其中，所述一個或多個結構是焊料凸點。

9.根據權利要求1所述的方法，其中，所述第一X射線檢測器和所述第二X射線檢測器并排設置。

10.根據權利要求9所述的方法，其中，所述第一圖像和所述第三圖像由引導到所述第一X射線檢測器的第一X射線束形成。

11.根據權利要求9所述的方法，其中，所述第一圖像是X射線場景的一部分的圖像。

12.根據權利要求1所述的方法，其中，所述第一X射線檢測器具有多個像素。

13.根據權利要求1所述的方法，其中，所述第一X射線檢測器包括：

X射線吸收層，該X射線吸收層包括電極；

電子層，該電子層包括電子系統。

14.根據權利要求13所述的方法，其中，所述電子系統包括：

第一電壓比較器，該第一電壓比較器被配置成將所述電極的電壓與第一閾值比較；

第二電壓比較器，該第二電壓比較器被配置成將所述電壓與第二閾值比較；

計數器，該計數器被配置成記錄到達所述X射線吸收層的X射線光子的數目；

控制器；

其中，所述控制器被配置成從所述第一電壓比較器確定所述電壓的絕對值等于或超出所述第一閾值的絕對值的時間啟動時間延遲；

其中，所述控制器被配置成在所述時間延遲期間啟動所述第二電壓比較器；

其中，所述控制器被配置成如果所述第二電壓比較器確定所述電壓的絕對值等于或超出所述第二閾值的絕對值則促使所述計數器記錄的數目增加一。

15.根據權利要求14所述的方法，其中，所述電子系統進一步包括電容器模組，該電容器模組電連接到所述X射線吸收層的電極，其中所述電容器模組被配置成收集來自所述X射線吸收層的電極的載流子。