[發(fā)明專利]用于過程窗口表征的設(shè)備和方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201680082380.5 | 申請日: | 2016-12-08 |
| 公開(公告)號: | CN108700818B | 公開(公告)日: | 2020-10-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王德勝;萬翔 | 申請(專利權(quán))人: | ASML荷蘭有限公司 |
| 主分類號: | G03F7/20 | 分類號: | G03F7/20 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 王靜 |
| 地址: | 荷蘭維*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 過程 窗口 表征 設(shè)備 方法 | ||
提供一種對圖案化過程的過程窗口進(jìn)行表征的方法,該方法包括:獲得用于圖案的檢查部位的集合,所述圖案限定待利用圖案化過程施加到襯底上的特征,所述檢查部位的集合對應(yīng)于所述特征的集合,所述特征的集合是根據(jù)相應(yīng)的特征對所述圖案化過程的一個(gè)或更多個(gè)過程特性的變化的靈敏度而從所述特征之中選擇的;依據(jù)所述圖案化過程的變化的過程特性對一個(gè)或更多個(gè)襯底進(jìn)行圖案化;以及針對所述過程特性的變化中的每一個(gè)變化,在對應(yīng)的檢查部位處確定所述特征的集合中的至少一些是否在所述一個(gè)或更多個(gè)襯底上產(chǎn)生了不可接受的圖案化結(jié)構(gòu)。
相關(guān)申請的交叉引用
本申請要求于2015年12月22日遞交的美國申請62/270,953的優(yōu)先權(quán),該美國申請的全部內(nèi)容以引用的方式并入本文中。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明整體上涉及圖案化過程,更具體地涉及圖案化過程的過程窗口表征。
背景技術(shù)
圖案化過程采取許多形式。示例包括光學(xué)光刻術(shù)、電子束光刻術(shù)、壓印光刻術(shù)、噴墨打印、定向自組裝等。這些過程經(jīng)常用于制造相對小的非常精細(xì)的部件,諸如電學(xué)部件(比如集成電路或光伏電池)、光學(xué)部件(比如數(shù)字反射鏡裝置或波導(dǎo))以及機(jī)械部件(比如加速度計(jì)或微流裝置)。
圖案化過程經(jīng)常被表征,用于改善品質(zhì)或提高良率。經(jīng)常,來自圖案化過程的缺陷可能相對昂貴,這是因?yàn)槿毕菰谝褕D案化部件的生產(chǎn)運(yùn)作期間易于被重復(fù)或相對頻繁地出現(xiàn)。為了減輕這種缺陷,當(dāng)引入新的圖案化過程(或圖案化過程的新變形)(諸如新掩模版、圖案化工具(或最近服務(wù)的工具)、過程選配方案、消耗品或產(chǎn)品)時(shí),制造商經(jīng)常憑經(jīng)驗(yàn)對新過程的過程窗口進(jìn)行表征。過程窗口通常指示:針對圖案化過程的一個(gè)或更多個(gè)特性,所述特性在不引入不可接受的量的缺陷的情況下能夠變化多少,例如,在針對空間、電學(xué)、光學(xué)或其他尺寸的容許度內(nèi)產(chǎn)生圖案化結(jié)構(gòu)的用于光學(xué)光刻過程的可接受的聚焦和曝光的范圍。
發(fā)明內(nèi)容
以下是本技術(shù)的一些方面的非窮舉性列舉。在以下披露內(nèi)容中描述了這些和其他方面。
一些方面包括一種對圖案化過程的過程窗口進(jìn)行表征的過程,所述過程包括:獲得用于圖案的檢查部位的集合,所述圖案限定利用圖案化過程被施加至襯底的特征,所述檢查部位的集合對應(yīng)于所述特征的子集,所述特征的子集是根據(jù)相應(yīng)的特征對所述圖案化過程的一個(gè)或更多個(gè)過程特性的變化的靈敏度而從所述特征之中選擇的;依據(jù)變化的過程特性對一個(gè)或更多個(gè)襯底進(jìn)行圖案化;和針對所述過程特性的變化中的每一個(gè)變化,在對應(yīng)的檢查部位處確定所述特征的子集中的至少一些是否在所述一個(gè)或更多個(gè)襯底上產(chǎn)生了不可接受的圖案化結(jié)構(gòu)。
一些方面包括一種獲得檢查部位以使圖案化過程合格的過程,該過程包括:由一臺或更多臺計(jì)算機(jī),利用多種不同的模擬來模擬所述圖案化過程,每一個(gè)模擬依據(jù)不同的過程特性,并且每一個(gè)模擬利用圖案中的相同特征中的至少一些;針對不同的模擬中的每一個(gè),檢測相應(yīng)的模擬指示的在相應(yīng)的模擬結(jié)果中是不可接受的特征;和基于檢測到的特征來選擇所述特征的子集。
一些方面包括一種用于存儲指令的、有形的、非暫時(shí)性機(jī)器可讀介質(zhì),所述指令在由數(shù)據(jù)處理設(shè)備執(zhí)行時(shí)使得所述數(shù)據(jù)處理裝置執(zhí)行包括上文所提及的過程的操作。
一些方面包括一種系統(tǒng),所述系統(tǒng)包括:一個(gè)或更多個(gè)處理器;和用于存儲指令的存儲器,所述指令在由所述處理器執(zhí)行時(shí)使得所述處理器實(shí)現(xiàn)上文所提及的過程的操作。
附圖說明
當(dāng)參考以下附圖來閱讀本申請時(shí),將更好地理解本技術(shù)的上文所提及的方面和其他方面,在附圖中,相同的附圖標(biāo)記表示相似或相同的元件:
圖1是光刻系統(tǒng)的框圖;
圖2是圖案化過程的模擬模型的框圖;
圖3是用于識別檢查部位的過程的流程圖;
圖4是用于將圖案化過程表征的過程的流程圖;
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