[發明專利]質量分析裝置及其離子檢測方法

有效

• 申請號: 201680076701.0
• 申請日: 2016-01-21
• 公開（公告）號: CN108475614B
• 公開（公告）日: 2019-12-03
• 發明（設計）人: 村上真一;照井康
• 申請（專利權）人: 株式會社日立高新技術
• 主分類號: H01J49/06
• 分類號: H01J49/06;G01N27/62
• 代理公司: 11243 北京銀龍知識產權代理有限公司
• 代理人: 曾賢偉;范勝杰<國際申請>=PCT/JP

1.一種質量分析裝置，其使施加于質量分離部的電壓發生變化而選擇性地提取所希望的離子，來進行通道掃描測定，其特征在于，所述質量分析裝置設有：

離子檢測部，其檢測由所述質量分離部分離出的離子，并輸出電信號；

離子量測定部，其根據該離子檢測部的輸出測定離子量；以及

離子量修正部，其根據離子量測定部的輸出修正離子檢測量，

所述離子量修正部在通道掃描的過程中，基于前1個通道的離子檢測量修正在當前通道中檢測出的離子檢測量，

在所述離子量修正部中，基于前1個通道的離子檢測量、1個通道的測定時間以及通道切換所需的間隔時間，決定當前通道的離子修正量。

2.根據權利要求1所述的質量分析裝置，其特征在于，

所述質量分析裝置還具備：修正信息計算部，其針對濃度不同的多個測定試樣，測定切斷了離子時的離子檢測量的衰減過程，并與離子切斷前的離子檢測量關聯起來計算出修正量。

3.根據權利要求2所述的質量分析裝置，其特征在于，

所述修正信息計算部還具備：修正信息存儲部，其將離子切斷前的離子檢測量與修正量的關系進行公式近似，并存儲導出的近似式的信息。

4.根據權利要求2所述的質量分析裝置，其特征在于，

所述質量分離部為四極質量過濾器，

所述離子的切斷通過控制施加于四極質量過濾器的電壓來實現。

5.根據權利要求1所述的質量分析裝置，其特征在于，

所述離子檢測部包含閃爍體。

6.一種質量分析裝置，其測定進行質量分離而提取出的離子，來進行通道掃描測定，其特征在于，

所述質量分析裝置具有選擇1個通道的測定時間與間隔時間的設定值輸入畫面，

所述質量分析裝置具有離子量修正部，在所述離子量修正部中，基于前1個通道的離子檢測量、1個通道的測定時間以及通道切換所需的間隔時間，決定當前通道的離子修正量。

7.根據權利要求6所述的質量分析裝置，其特征在于，

所述質量分析裝置具有在通道掃描的過程中，選擇是否應用對進行質量分離而提取出的離子的離子檢測量進行修正的修正處理的輸入設定畫面。

8.根據權利要求6所述的質量分析裝置，其特征在于，

所述質量分析裝置具有在通道掃描的過程中，顯示對進行質量分離而提取出的離子的離子檢測量進行修正的修正處理后的離子檢測量與修正值的關系的顯示畫面。