[發(fā)明專利]檢測裝置及檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201680076635.7
• 申請日: 2016-08-10
• 公開（公告）號: CN108474747B
• 公開（公告）日: 2021-08-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 入江惠
• 申請（專利權(quán)）人: 三菱電機(jī)株式會社
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01B11/30;G06T1/00;G01N21/954
• 代理公司: 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100
• 代理人: 熊風(fēng);胡秋瑾

獲得一種能對開裂處于哪種狀態(tài)進(jìn)行檢測的檢測裝置。該檢測裝置包括：裂紋檢測部(3)，該裂紋檢測部(3)根據(jù)構(gòu)造物的圖像信息來檢測構(gòu)造物的表面的變形；階差檢測部(4)，該階差檢測部(4)根據(jù)利用激光測量出的構(gòu)造物的三維點(diǎn)組信息來檢測構(gòu)造物的表面的階差；以及判定部(5)，該判定部(5)使用由裂紋檢測部(3)生成的變形的信息、以及由階差檢測部(4)生成的階差的信息，來對變形的狀態(tài)進(jìn)行判定。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及對檢查對象的變形進(jìn)行檢測的檢測裝置及檢測方法。

背景技術(shù)

以往，對檢查對象的構(gòu)造物上產(chǎn)生的開裂、浮起等變形進(jìn)行檢測的技術(shù)中，存在各種各樣的方法。專利文獻(xiàn)1中，公開了如下技術(shù)：將敲擊法或目視法等的診斷結(jié)果、以及由成像設(shè)備、紅外線檢測器、非接觸式電磁波雷達(dá)等各種設(shè)備得出的測定結(jié)果相組合來對開裂等進(jìn)行診斷。此外，專利文獻(xiàn)2中公開了如下技術(shù)：使檢查對象的可視圖像與紅外線圖像相重疊來對開裂等進(jìn)行診斷。

現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)1：日本專利第4588901號公報(bào)

專利文獻(xiàn)2：日本專利第5795850號公報(bào)

發(fā)明內(nèi)容

發(fā)明所要解決的技術(shù)問題

然而，根據(jù)上述現(xiàn)有技術(shù)，在敲擊法及目視法中，人力作業(yè)時(shí)間巨大，并且需要分辨異常部位或聽出異常聲音來進(jìn)行判斷。因此，存在如下問題：開裂等的檢測精度依賴于調(diào)查員的經(jīng)驗(yàn)、技術(shù)。此外，紅外線圖像是對檢查對象的表面溫度的差異進(jìn)行拍攝、并通過表面溫度的差異來確定變形部的圖像，然而，存在如下問題：由于受到因構(gòu)造物表面的凹凸而引起的受熱量或?qū)岬牟町惖挠绊懀虼司容^低。即，難以在不依賴調(diào)查員的經(jīng)驗(yàn)與技術(shù)的情況下高精度地對開裂的狀態(tài)進(jìn)行檢測。

本發(fā)明是鑒于上述情況而完成的，其目的在于獲得一種檢測裝置，能使對開裂的狀態(tài)進(jìn)行檢測的精度提高。

解決技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案

為了解決上述問題，達(dá)到目的，本發(fā)明的檢測裝置的特征在于，具備變形檢測部，該變形檢測部根據(jù)構(gòu)造物的圖像信息來檢測構(gòu)造物的表面的變形。此外，檢測裝置具備階差檢測部，該階差檢測部根據(jù)利用激光測量出的構(gòu)造物的三維點(diǎn)組信息來檢測構(gòu)造物的表面的階差。此外，檢測裝置具備判定部，該判定部使用由變形檢測部生成的變形的信息、以及由階差檢測部生成的階差的信息，來對變形的狀態(tài)進(jìn)行判定。

發(fā)明效果

根據(jù)本發(fā)明，起到能使對開裂的狀態(tài)進(jìn)行檢測的精度提高的效果。

附圖說明

圖1是示出實(shí)施方式1所涉及的檢測裝置的結(jié)構(gòu)例的框圖。

圖2是示出在實(shí)施方式1所涉及的檢測裝置中對所檢測出的裂紋的狀態(tài)進(jìn)行判定的處理的流程圖。

圖3是示出輸入至實(shí)施方式1所涉及的圖像信息輸入部的圖像信息的內(nèi)容的圖。

圖4是示出輸入至實(shí)施方式1所涉及的三維點(diǎn)組信息輸入部的三維點(diǎn)組信息的內(nèi)容的圖。

圖5是示出實(shí)施方式1所涉及的裂紋提取部所提取出的裂紋的圖像信息的內(nèi)容的圖。

圖6是示出在實(shí)施方式1所涉及的裂紋矢量信息生成部中計(jì)算裂紋標(biāo)記打開的像素的三維坐標(biāo)的處理的流程圖。

圖7是示出實(shí)施方式1所涉及的裂紋矢量信息生成部所計(jì)算出的裂紋標(biāo)記打開的像素的三維坐標(biāo)的信息的內(nèi)容的圖。

圖8是示出在實(shí)施方式1所涉及的裂紋矢量信息生成部中生成的裂紋矢量信息的內(nèi)容的圖。

圖9是示出附加了與實(shí)施方式1所涉及的階差提取部所提取出的階差部位有關(guān)的階差標(biāo)記的信息的三維點(diǎn)組信息的內(nèi)容的圖。