[發(fā)明專利]檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201680076635.7 | 申請(qǐng)日: | 2016-08-10 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108474747B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-08-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 入江惠 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 三菱電機(jī)株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G01N21/88 | 分類號(hào): | G01N21/88;G01B11/30;G06T1/00;G01N21/954 |
| 代理公司: | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100 | 代理人: | 熊風(fēng);胡秋瑾 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 檢測(cè) 裝置 方法 | ||
1.一種檢測(cè)裝置,其特征在于,包括:
變形檢測(cè)部,該變形檢測(cè)部從構(gòu)造物的圖像信息中提取出所述構(gòu)造物的表面的裂紋,并使用利用激光測(cè)量出的所述構(gòu)造物的表面的三維點(diǎn)組信息,來(lái)生成所提取出的所述裂紋的矢量信息;
階差檢測(cè)部,該階差檢測(cè)部從所述三維點(diǎn)組信息中提取出所述構(gòu)造物的表面的階差,生成所提取出的所述階差的矢量信息;以及
判定部,該判定部使用所述裂紋的信息即所述裂紋的矢量信息以及所述階差的信息即所述階差的矢量信息,來(lái)計(jì)算所述裂紋的矢量信息及所述階差的矢量信息的各個(gè)矢量的各線段的距離為最短的線段彼此的線段間距離,并基于1個(gè)所述裂紋的矢量信息中相對(duì)于同一所述階差的矢量信息的所述線段間距離變得比規(guī)定的閾值要小的點(diǎn)的比率,來(lái)對(duì)所述裂紋的狀態(tài)進(jìn)行判定。
2.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置,其特征在于,包括:
顯示部,該顯示部顯示所述圖像信息及所述裂紋的矢量信息;以及
編輯部,該編輯部接受來(lái)自用戶的操作來(lái)對(duì)所述裂紋的矢量信息進(jìn)行校正,
所述判定部使用經(jīng)所述編輯部校正后得到的所述裂紋的矢量信息,來(lái)對(duì)所述裂紋的狀態(tài)進(jìn)行判定。
3.一種檢測(cè)裝置,其特征在于,包括:
變形檢測(cè)部,該變形檢測(cè)部從構(gòu)造物的圖像信息中提取出所述構(gòu)造物的表面的裂紋,并使用利用激光測(cè)量出的所述構(gòu)造物的表面的三維點(diǎn)組信息,以所述裂紋的像素及距所述裂紋的像素位于規(guī)定的范圍內(nèi)的像素為對(duì)象來(lái)生成三維信息;
階差檢測(cè)部,該階差檢測(cè)部從所述三維點(diǎn)組信息中提取出所述構(gòu)造物的表面的階差,生成所提取出的所述階差的矢量信息;以及
判定部,該判定部使用所述裂紋的信息即所述裂紋的三維信息以及所述階差的信息即所述階差的矢量信息,來(lái)生成包含所有所述裂紋的三維信息的像素在內(nèi)的三維空間,并基于由所述階差的矢量信息來(lái)表示的矢量在所述三維空間內(nèi)存在的比率,來(lái)對(duì)所述裂紋的狀態(tài)進(jìn)行判定。
4.如權(quán)利要求1至3的任一項(xiàng)所述的檢測(cè)裝置,其特征在于,
具備內(nèi)部變形檢測(cè)部,該內(nèi)部變形檢測(cè)部根據(jù)雷達(dá)信息來(lái)檢測(cè)所述構(gòu)造物的內(nèi)部的裂紋,
所述判定部還使用由所述內(nèi)部變形檢測(cè)部檢測(cè)出的所述構(gòu)造物的內(nèi)部的裂紋的信息,來(lái)對(duì)所述裂紋的狀態(tài)進(jìn)行判定。
5.如權(quán)利要求1或3所述的檢測(cè)裝置,其特征在于,
具備顯示部,該顯示部顯示所述圖像信息、所述裂紋的信息、所述三維點(diǎn)組信息、所述階差的信息以及所述判定部中的所述裂紋的狀態(tài)的判定結(jié)果。
6.如權(quán)利要求5所述的檢測(cè)裝置,其特征在于,
具備類似度判定部,該類似度判定部使用所述判定部中的所述裂紋的狀態(tài)的判定結(jié)果,來(lái)判定所述裂紋與所述階差的類似度,并將判定內(nèi)容顯示于所述顯示部。
7.如權(quán)利要求5所述的檢測(cè)裝置,其特征在于,
具備內(nèi)部變形檢測(cè)部,該內(nèi)部變形檢測(cè)部根據(jù)雷達(dá)信息來(lái)檢測(cè)所述構(gòu)造物的內(nèi)部的裂紋,
所述判定部還使用由所述內(nèi)部變形檢測(cè)部檢測(cè)出的所述構(gòu)造物的內(nèi)部的裂紋的信息,來(lái)對(duì)所述裂紋的狀態(tài)進(jìn)行判定。
8.一種檢測(cè)裝置,其特征在于,包括:
變形檢測(cè)部,該變形檢測(cè)部從構(gòu)造物的圖像信息中提取出所述構(gòu)造物的表面的裂紋,并使用利用激光測(cè)量出的所述構(gòu)造物的表面的三維點(diǎn)組信息,來(lái)生成所提取出的所述裂紋的矢量信息;
構(gòu)造物表面位置計(jì)算部,該構(gòu)造物表面位置計(jì)算部根據(jù)所述三維點(diǎn)組信息來(lái)計(jì)算所述構(gòu)造物的表面的位置;以及
判定部,該判定部使用所述裂紋的信息即所述裂紋的矢量信息、所述構(gòu)造物的表面的位置的信息以及所述三維點(diǎn)組信息,提取出距所述裂紋位于規(guī)定的范圍的空間內(nèi)的三維點(diǎn)組信息,在相對(duì)于所述構(gòu)造物的表面的位置垂直的方向上以所述裂紋為邊界將所提取出的三維點(diǎn)組信息分類為2個(gè)點(diǎn)組分組,對(duì)于分類后的各點(diǎn)組分組的各點(diǎn)計(jì)算與所述構(gòu)造物的表面的位置的垂直距離,并計(jì)算各點(diǎn)組分組中的垂直距離的平均值,基于各點(diǎn)組分組的垂直距離的平均值的差分,來(lái)對(duì)所述裂紋的狀態(tài)進(jìn)行判定。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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