[發(fā)明專利]使用高萊探測(cè)器的氣體檢測(cè)器有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201680071989.2 | 申請(qǐng)日: | 2016-10-06 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108369139B | 公開(公告)日: | 2020-12-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | W.楊;T.M.馬塔;M.威利特;R.R.沃茨 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 霍尼韋爾國(guó)際公司 |
| 主分類號(hào): | G01J5/42 | 分類號(hào): | G01J5/42;G01N21/37;G01N21/17 |
| 代理公司: | 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 張健;蔣駿 |
| 地址: | 美國(guó)新*** | 國(guó)省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 使用 探測(cè)器 氣體 檢測(cè)器 | ||
本文描述了使用高萊探測(cè)器的氣體檢測(cè)器設(shè)備、系統(tǒng)和方法。一種設(shè)備包括:麥克風(fēng),具有帶有用于接收聲音的聲音收集孔的前表面;基板;氣腔,形成在基板中,使得氣腔與聲音收集孔氣體連通,并且前表面形成氣腔的側(cè)表面;和窗口,鄰接基板以形成氣腔的側(cè)表面。
相關(guān)申請(qǐng)的交叉引用
本申請(qǐng)是于2016年10月6日提交并且標(biāo)題為“Gas Detector Using A GolayCell”的國(guó)際申請(qǐng)?zhí)朠CT/US2016/055748的國(guó)家階段,其要求于2015年10月9日提交并且標(biāo)題為“Gas Detector Using A Golay Cell”的美國(guó)專利申請(qǐng)序列號(hào)14/879,920的優(yōu)先權(quán),這兩個(gè)申請(qǐng)通過引用以其整體并入本文。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開涉及用于創(chuàng)建和利用使用高萊探測(cè)器(Golay cell)的氣體檢測(cè)器的設(shè)備、系統(tǒng)和方法。
背景技術(shù)
基于非色散紅外(NDIR)技術(shù)(特別是在中波長(zhǎng)IR(MWIR)(3000-8000nm)中操作的那些)的氣體檢測(cè)通常缺乏高效的光源。而且,在其中期望高信噪比的應(yīng)用中,必須增加光功率。這可能導(dǎo)致高功耗,這在一些應(yīng)用中可能對(duì)便攜和/或無線形式因素操作造成嚴(yán)重限制。
替代地,可以在一些實(shí)現(xiàn)中使用更靈敏和更低噪聲的檢測(cè)器來獲得高性能而不增加功耗。然而,商業(yè)上可用的MWIR檢測(cè)器可能是昂貴的,并且在這樣的實(shí)現(xiàn)中,一些檢測(cè)器需要冷卻,除其他可能的問題之外,這還可能向系統(tǒng)添加組件。
附圖說明
圖1圖示了根據(jù)本公開的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例的氣體檢測(cè)器設(shè)備。
圖2圖示了根據(jù)本公開的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例的氣體檢測(cè)器系統(tǒng)。
具體實(shí)施方式
本文描述了使用高萊探測(cè)器的氣體檢測(cè)器設(shè)備、系統(tǒng)和方法。使用高萊探測(cè)器的一種這樣的氣體檢測(cè)器包括:麥克風(fēng),具有帶有用于接收聲音的聲音收集孔的前表面;基板;氣腔,形成在基板中,使得氣腔與聲音收集孔氣體連通,并且前表面形成氣腔的側(cè)表面;和窗口,鄰接基板以形成氣腔的側(cè)表面。提供用于氣腔的結(jié)構(gòu)基礎(chǔ)的基板可以是包含與麥克風(fēng)電氣互連的電子組件或氣體檢測(cè)器被提供到其中的設(shè)備的其他組件的印刷電路板(PCB)。
本公開描述了創(chuàng)建和利用使用高萊探測(cè)器的氣體檢測(cè)器,該氣體檢測(cè)器例如可以用作低成本光檢測(cè)器,其能夠例如檢測(cè)非常低水平的MWIR輻射及其在NDIR中的實(shí)現(xiàn)。本公開的檢測(cè)器實(shí)施例基于在紅外和太赫茲輻射檢測(cè)中使用的高萊探測(cè)器的原理。本公開的實(shí)施例的高萊探測(cè)器設(shè)計(jì)可以利用移動(dòng)電話行業(yè)所激增的低成本、高靈敏度微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)麥克風(fēng)的可用性。在一些實(shí)施例中,高萊探測(cè)器將麥克風(fēng)與可比容積的氣室集成,同時(shí)使用氣體或麥克風(fēng)作為光學(xué)吸收體。也就是說,吸收材料可以是氣體和/或麥克風(fēng)。
在本公開的實(shí)施例中,壓力感測(cè)元件(例如,常規(guī)的高萊探測(cè)器中的隔膜)是MEMS麥克風(fēng)的一部分,并且可以由于電磁輻射的吸收而提供氣腔中的壓力波動(dòng)的靈敏檢測(cè)。如上所述,該功能以其他方式將采用昂貴和/或復(fù)雜得多的儀器來實(shí)現(xiàn)。在本公開的一些實(shí)施例中,麥克風(fēng)結(jié)構(gòu)本身可以用作熱傳感器。在以下詳細(xì)描述中,參考形成其一部分的附圖。附圖通過圖示的方式示出了可以如何實(shí)踐本公開的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例。
足夠詳細(xì)地描述這些實(shí)施例以使得本領(lǐng)域普通技術(shù)人員能夠?qū)嵺`本公開的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例。應(yīng)理解的是,可以利用其他實(shí)施例,并且可以在不脫離本公開的范圍的情況下進(jìn)行過程改變。
如將領(lǐng)會(huì)到的,可以添加、交換、組合和/或消除本文的各種實(shí)施例中示出的元件,以便提供本公開的許多附加實(shí)施例。附圖中提供的元件的比例和相對(duì)尺度旨在圖示本公開的實(shí)施例,并且不應(yīng)在限制性意義上采用。
參考圖1中描繪的組件取向來使用諸如“水平”和“豎直”“之上”和“之下”之類的方向術(shù)語。這些術(shù)語僅用于示例目的,而不旨在限制所附權(quán)利要求的范圍。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于霍尼韋爾國(guó)際公司,未經(jīng)霍尼韋爾國(guó)際公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201680071989.2/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





