[發明專利]比色皿承載件

有效

• 申請號: 201680055058.3
• 申請日: 2016-09-20
• 公開（公告）號: CN108139316B
• 公開（公告）日: 2021-11-23
• 發明（設計）人: 賈森·科比特
• 申請（專利權）人: 馬爾文帕納科公司
• 主分類號: G01N21/03
• 分類號: G01N21/03;B01L9/06;G01N15/02;G01N21/51
• 代理公司: 成都超凡明遠知識產權代理有限公司 51258
• 代理人: 魏彥

一種比色皿承載件(100)，包括：限定用于比色皿(109)的容納空間(102)的多個壁(101)；包含在多個壁(101)中的第一透射區域(103)和第二透射區域(104)；以及被布置為使穿過第一透射區域(103)的光偏振的第一光學偏振器(103)。

技術領域

本發明涉及一種用于保持樣本比色皿(cuvette)的承載件，尤其涉及一種具有光學偏振部件的比色皿承載件。

背景技術

動態光散射(DLS)是一種用于測量顆粒例如納米材料和納米顆粒的大小的強大技術。通常，將含有顆粒的懸浮液或溶液置于透明的樣本比色皿中，并用豎向偏振的激光束照射。從顆粒沿著特定方向散射的光在與入射光的偏振正交的平面中被檢測到，并且使用大眾熟知的方法來分析該散射的光以確定顆粒的性質。從顆粒沿任何方向散射的光——諸如前向散射光、后向散射光和/或側向散射光(例如與入射光成90°的散射光)——都可以被檢測。

動態光散射進一步發展為去偏振式動態光散射(DDLS)，這種去偏振式動態光散射試圖量化來自偏離均勻折射率范圍的顆粒——諸如棒狀顆粒、橢球顆粒、盤形或球形Janus顆粒——的散射的各向異性。在DDLS 中，檢測散射光的特定偏振。例如，可以用豎向偏振光照射樣本，并且在每個散射偏振中沿著檢測路徑單獨地檢測散射光的相關函數。

有許多實驗室儀器可以執行動態光散射，諸如Malvern系列。然而，這些儀器可能無法測量散射光的不同偏振狀態，因此不能執行去偏振式動態光散射測量。升級系統硬件或完全更換系統以執行DDLS可能是不令人期望地昂貴的。

發明內容

根據本發明的第一方面，提供了一種比色皿承載件，該比色皿承載件包括：限定用于比色皿的容納空間(holding volume，保持容積、保持空間) 的多個壁；包含在該多個壁中的第一透射區域和第二透射區域；以及被布置成使穿過第一透射區域的光偏振的第一光學偏振器。

本文使用的術語“偏振器”是指使光的具有特定偏振的分量通過并且 (至少部分地)阻擋光的具有其他偏振的分量的濾光器。術語“偏振”是指用偏振器對光進行過濾，以便使光的具有特定偏振的分量優先通過，同時至少部分地阻擋光的具有其他偏振的分量。

第二透射區域可以用于照射容納空間內的區域，并且第一透射區域可以用于檢測來自所述區域的散射光。

可以使用這樣的比色皿承載件來改進現有的儀器，以允許使用光學偏振器檢測散射光的偏振來執行DDLS測量。特別地，該比色皿承載件可以裝配到現有DLS測量系統的比色皿保持器中。然后可以將容納有樣本的比色皿放入比色皿承載件中。

在一些實施方式中，比色皿承載件可以另外包括第二光學偏振器，該第二光學偏振器被布置為使穿過第二透射區域的光偏振。第一光學偏振器的偏振軸線可以正交于第二光學偏振器的偏振軸線，或者可以平行于第二光學偏振器的偏振軸線。

第二光學偏振器可用于例如使進入比色皿承載件中的比色皿的光在被比色皿中的樣本散射之前偏振。可替代地，第二光學偏振器可與第一偏振器結合使用以檢測被樣本散射的光的偏振。

第一透射區域和第二透射區域可以位于多個壁中的第一壁中。當第一偏振器被用于檢測來自樣本的后向散射光的偏振，并且第二偏振器被用于使進入樣本的光束偏振時，這可能是特別有益的。

在一些實施方式中，比色皿承載件可以進一步包括：位于多個壁中的第二壁中的第三透射區域；以及被布置為使穿過第三透射區域的光偏振的第三光學偏振器。在一些實施方式中，第三光學偏振器的偏振軸線可以正交于第一光學偏振器的偏振軸線，或者可以平行于第一光學偏振器的偏振軸線。第三光學偏振器可以用于例如使側向散射光偏振，該側向散射光由已經被通過第二透射區域照射的樣本散射。檢測器例如DLS儀器中的檢測器然后可以檢測到作為DDLS實驗的一部分的經偏振的側向散射光。