[發明專利]比色皿承載件

有效

• 申請號: 201680055058.3
• 申請日: 2016-09-20
• 公開（公告）號: CN108139316B
• 公開（公告）日: 2021-11-23
• 發明（設計）人: 賈森·科比特
• 申請（專利權）人: 馬爾文帕納科公司
• 主分類號: G01N21/03
• 分類號: G01N21/03;B01L9/06;G01N15/02;G01N21/51
• 代理公司: 成都超凡明遠知識產權代理有限公司 51258
• 代理人: 魏彥

1.一種使用去偏振式動態光散射來測量樣本的粒度分布的裝置，包括：

用于產生光束的光源；

比色皿承載件，所述比色皿承載件包括：

限定用于比色皿的容納空間的多個壁；

第一透射區域，所述第一透射區域位于所述多個壁中的第一壁中；

被布置為使穿過所述第一透射區域的散射光偏振的第一光學偏振器；

包括在所述多個壁中的第二透射區域；

位于所述多個壁中的第二壁中的第三透射區域；以及

被布置為使穿過所述第三透射區域的散射光偏振的第三光學偏振器，其中，所述第三光學偏振器的偏振軸線正交于所述第一光學偏振器的偏振軸線，以及

包括在所述多個壁中的第四透射區域；

置于所述比色皿承載件的所述容納空間中的比色皿；以及

用于檢測穿過所述第一光學偏振器或所述第三光學偏振器的散射光的檢測器；其中，

所述裝置被配置為執行：

第一測量，在所述第一測量中，來自所述光源的光束穿過所述第二透射區域，并且所述檢測器檢測穿過所述第一光學偏振器的散射光；以及

第二測量，在所述第二測量中，所述比色皿承載件被旋轉，使得所述光束穿過所述第四透射區域，并且所述檢測器檢測穿過所述第三光學偏振器的散射光。

2.根據權利要求1所述的裝置，其中，

所述第二透射區域位于所述第一壁中；以及

所述第四透射區域位于所述第二壁中。

3.根據權利要求1或2所述的裝置，還包括第二光學偏振器，所述第二光學偏振器被布置為使穿過所述第二透射區域的光偏振。

4.根據權利要求3所述的裝置，所述第一光學偏振器的偏振軸線正交于所述第二光學偏振器的偏振軸線。

5.根據權利要求2所述的裝置，還包括第四光學偏振器，所述第四光學偏振器被布置為使穿過所述第四透射區域的光偏振。

6.根據權利要求1、2、5中的任一項所述的裝置，其中，所述第一壁與所述第二壁相鄰。

7.根據權利要求1、2、5中的任一項所述的裝置，其中，所述第一透射區域或第三透射區域中的至少一者包括壁中的孔。

8.根據權利要求1或2所述的裝置，其中，所述第一透射區域、第二透射區域、第三透射區域或第四透射區域中的至少一個包括壁中的孔。

9.根據權利要求1、2、5中的任一項所述的裝置，其中，所述第一透射區域和第二透射區域彼此相鄰，以便形成連續的透射區域。

10.根據權利要求1、2、5、8中的任一項所述的裝置，其中，所述第三透射區域和第四透射區域彼此相鄰，以便形成連續的透射區域。

11.根據權利要求1、2、5、8中的任一項所述的裝置，還包括適于裝配到所述容納空間中的插入件，所述插入件包括限定比所述容納空間小的內部空間的多個壁。